Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

БД "Книги" (6)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=эллипсометрия<.>)

Общее количество найденных документов : 30
Показаны документы с 1 по 20

1-20 21-30

Пенской, П. К.
Эффект совместного воздействия композиций хемостимуляторов (Sb[2]O[3], Bi[2]O[3], MnO[2]) c инертным компонентом (Al[2]O[3]) в процессе термооксидирования арсенида галлия [Текст] / П. К. Пенской, В. Ф. Кострюков, В. Р. Пшестанчик, И. Я. Миттова // Доклады Академии наук. - 2007. - Т. 414, N 6. - С. 765-767. - Библиогр.: с. 767 (7 назв. )

УДК

^a542

ББК 24с
Рубрики: Химия--Экспериментальная химия
Кл.слова (ненормированные):
хемостимуляторы -- инертные компоненты -- арсенид галлия -- термооксидирование -- оксиды-активаторы -- лазерная эллипсометрия
Аннотация: Цель работы - выявление условий аддитивности воздействия композиций оксидов-активаторов с инертным компонентом и возможных отклонений от нее.

Доп.точки доступа:
Кострюков, В. Ф.; Пшестанчик, В. Р.; Миттова, И. Я.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Плеханов, А. И.
Оптические постоянные нанометровых пленок J-агрегатов органических красителей, измеренные методами спектральной эллипсометрии и поляризационной рефлектометрии [Текст] / А. И. Плеханов, В. В. Шелковников // Оптика и спектроскопия. - 2008. - Т. 104, N 4. - С. 606-613

УДК

^a535

ББК 22.34
Рубрики: Физика
Оптика в целом
Кл.слова (ненормированные):
органические красители -- J-агрегаты органических красителей -- нанометровые пленки J-агрегатов -- оптические постоянные -- показатель преломления -- спектральная эллипсометрия -- поляризационная рефлектометрия
Аннотация: С использованием методов спектральной эллипсометрии и поляризационной рефлектометрии измерена дисперсия комплексного показателя преломления тонких пленок J-агрегатов органических красителей. Обнаружено, что практически для всех пленок J-агрегатов в длинноволновой области, где пленка прозрачна, наблюдается нормальная дисперсия. В спектральном диапазоне, где пленка поглощает, наблюдается аномальная дисперсия, которая в J-пике максимальна. Здесь показатель преломления достигает значения n приближенно равно 2. 5-3. 5. Выявлено, что метод поляризационной рефлектометрии обеспечивает адекватную точность определения оптических постоянных n и к нанометровых пленок органических красителей.

Доп.точки доступа:
Шелковников, В. В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Швец, В. А.
Измерение нормированной матрицы Джонса анизотропных образцов методом статической эллипсометрии [Текст] / В. А. Швец, Е. В. Спесивцев, С. В. Рыхлицкий // Оптика и спектроскопия. - 2008. - Т. 105, N 4. - С. 689-695.

УДК

^a535.5

ББК 22.34
Рубрики: Физика
Оптика в целом
Кл.слова (ненормированные):
эллипсометрические измерения -- статическая эллипсометрия -- анизотропные образцы -- нормированная матрица Джонса -- Джонса нормированная матрица
Аннотация: Рассмотрены функциональные возможности статической фотометрической схемы эллипсометрических измерений, предложенной ранее, применительно к анизотропным отражающим объектам. Комбинации различных положений оптических элементов, а также добавление к двум используемым положениям поляризатора P = плюс минус45 градусов новых рабочих положений P = 0 градусов, 90 градусов позволили получить 24 уравнения для определения нормированной матрицы Джонса анизотропного образца.

Доп.точки доступа:
Спесивцев, Е. В.; Рыхлицкий, С. В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Дальнодействующее влияние облучения светом на микротвердость алюминия и кремния [Текст] / Д. И. Тетельбаум [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2008. - Т. 72, N 9. - С. 1373-1376. . - Библиогр.: c. 1376 (21 назв. )

УДК

^a535.21

^a534.16

ББК 22.343 + 22.323
Рубрики: Физика
Физическая оптика
Теория звука
Кл.слова (ненормированные):
алюминий -- кремний -- механические свойства -- микротвердость -- ультразвуковое поле -- эффект фотопамяти металлов -- сканирующая зондовая микроскопия -- эллипсометрия
Аннотация: Исследовано дальнодействующее влияние на микротвердости фольги алюминия и пластин кремния облучения светом в условиях, исключающих значительный макроскопический нагрев образцов.

Доп.точки доступа:
Тетельбаум, Д. И.; Курильчик, Е. В.; Менделева, Ю. А.; Быстрова, О. И.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Лебедев, М. С.
Оптические свойства многослойных структур [Текст] / М. С. Лебедев, Б. М. Аюпов, Т. П. Смирнова // Оптика и спектроскопия. - 2009. - Т. 106, N 1. - С. 146-148. : ил. - Библиогр.: с. 148 (5 назв. )

УДК

^a535

ББК 22.34
Рубрики: Физика
Оптика в целом
Кл.слова (ненормированные):
многослойные структуры -- оптические свойства структур -- методы эллипсометрии -- многослойные пленки -- монохроматическая нулевая эллипсометрия
Аннотация: Показана возможность применения метода эллипсометрии для исследования оптических свойств многослойных пленок и структур.

Доп.точки доступа:
Аюпов, Б. М.; Смирнова, Т. П.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Эллипсометрия пленок GeO[2], содержащих нанокластеры германия: влияние квантово-размерного эффекта на показатель преломления [Текст] / Д. В. Марин [и др. ] // Оптика и спектроскопия. - 2009. - Т. 106, N 3. - С. 494-498. : ил. - Библиогр.: с. 498 (11 назв. )

УДК

^a535.2/.3

ББК 22.343
Рубрики: Физика
Физическая оптика
Кл.слова (ненормированные):
модели Бруггемана -- пленки GeO[2] -- эллипсометрия -- нанокластеры германия -- германий -- квантово-размерные эффекты -- показатели преломления -- Бруггемана модели
Аннотация: С применением методов сканирующей лазерной и спектральной эллипсометрии, а также комбинационного рассеяния света исследованы пленки GeO[2], содержащие нанокластеры германия, при молярном соотношении GeO к GeO[2] один к одному.

Доп.точки доступа:
Марин, Д. В.; Горохов, Е. Б.; Борисов, А. Г.; Володин, В. А.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Атучин, В. В.
Высокоточный бесконтактный метод определения химического состава кристаллов ниобата лития по величине двулучепреломления [Текст] / В. В. Атучин, Т. Хасанов // Оптика и спектроскопия. - 2009. - Т. 107, N 2. - С. 225-230. . - Библиогр.: с. 229-230 (55 назв. )

УДК

^a539.21:535

ББК 22.374
Рубрики: Физика
Оптические свойства твердых тел
Кл.слова (ненормированные):
ниобат лития -- нестехиометрические кристаллы -- лазерная эллипсометрия -- флуктуация температур -- прецизионные измерения
Аннотация: Предложен высокочувствительный метод определения химического состава нестехиометрических кристаллов ниобата лития путем прецизионного измерения двулучепреломления тонких подложек с помощью лазерной эллипсометрии на просвет.

Доп.точки доступа:
Хасанов, Т.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Эллипсометрические исследования оптических свойств поверхности алюминиевого сплава, облученного высокоэнергетическими ионами ксенона [Текст] / А. И. Беляева [ и др. ] // Физика и химия обработки материалов. - 2009. - N 5. - С. 33-36 . - ISSN 0015-3214

УДК

^a535

ББК 22.34
Рубрики: Физика
Оптика в целом
Кл.слова (ненормированные):
эллипсометрия -- оптические свойства -- дюралюминий -- радиационные повреждения поверхности -- эллипсометрические исследования -- алюминиевые сплавы -- ксенон -- ионы ксенона -- высокоэнергетические ионы ксенона
Аннотация: С помощью эллипсометрических исследований оптических свойств экспериментально изучено влияние облучения тяжелыми ионами 132Хe{+ 23} с энергиев 132 МэВ на дефектную струтуру поверхности алюминиевого сплава Д16.

Доп.точки доступа:
Беляева, А. И.; Галуза, А. А.; Дидык, А. Ю.; Клепиков, В. Ф.; Литвиненко, В. В.; Робук, В. Н.; Скуратов, В. А.; Слатин, К. А.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Князев, Ю. В.
Зависимость оптических свойств от структуры аморфного сплава Fe[78]Si[10]B[12] [Текст] / Ю. В. Князев, Ю. И. Кузьмин, А. П. Потапов // Оптика и спектроскопия. - 2009. - Т. 107, N 5. - С. 748-752. - Библиогр.: с. 752 (12 назв. ) . - ISSN 0030-4034

УДК

^a535.33

ББК 22.344
Рубрики: Физика
Спектроскопия
Кл.слова (ненормированные):
ферромагнитные сплавы -- эллипсометрия -- кристаллизация сплавов -- оптические постоянные -- диэлектрические функции -- межзонные поглощения -- электроны проводимости -- плазменные частоты -- релаксационные частоты
Аннотация: Методом эллипсометрии исследованы оптические свойства ферромагнитного сплава Fe78Si10B12 в аморфном, кристаллическом и промежуточных структурных состояниях в спектральном интервале 0. 22-18 мкм.

Доп.точки доступа:
Кузьмин, Ю. И.; Потапов, А. П.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

10.

Лебедев, М. С.
Профиль распределения показателя преломления по толщине пленок (HfO[2]) [x] (Al[2]O[3]) [1-x] [Текст] / М. С. Лебедев // Оптика и спектроскопия. - 2009. - Т. 107, N 5. - С. 817-821. - Библиогр.: с. 821 (19 назв. ) . - ISSN 0030-4034

УДК

^a535.2/.3

ББК 22.343
Рубрики: Физика
Физическая оптика
Кл.слова (ненормированные):
лазерная эллипсометрия -- твердые растворы -- многокомпонентные растворы -- тонкие пленки -- оптические парамтеры -- летучие соединения -- дипивалоилметанат гафния -- ацетилацетонат алюминия -- монокристаллический кремний -- показатели преломления
Аннотация: Продемонстрированы возможности метода лазерной нулевой эллипсометрии для изучения оптических параметров тонких пленок многокомпонентных твердых растворов.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

11.

Швец, В. А.
О точности эллипсометрического контроля при выращивании полупроводниковых наноструктур [Текст] / В. А. Швец // Оптика и спектроскопия. - 2009. - Т. 107, N 5. - С. 822-825. - Библиогр.: с. 825 (11 назв. ) . - ISSN 0030-4034

УДК

^a535.2/.3

ББК 22.343
Рубрики: Физика
Физическая оптика
Кл.слова (ненормированные):
многослойные структуры -- эллипсометрия -- оптические константы -- коэффициенты отражения -- показатели преломления -- наноструктуры -- кадмий -- ртуть -- теллур
Аннотация: Проведен анализ точности определения параметров многослойных структур при их эллипсометрическом контроле in situ.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

12.

Электрофизические свойства Ce[0, 8]Gd[0, 2]O[2-d], модифицированного оксидом титана [Текст] / Е. Ю. Пикалова [и др. ] // Перспективные материалы. - 2010. - N 1. - С. 76-86 : Рис. 8, табл. 3. - Библиогр.: с. 85-86 (22 назв. ) . - ISSN 1028-978Х

УДК

^a544.6

ББК 24.57
Рубрики: Химия
Электрохимия
Кл.слова (ненормированные):
твердые электролиты -- диоксид церия -- микроструктура -- импеданс спектроскопия -- эллипсометрия -- рентгеновская спектроскопия -- сканирующая электронная микроскопия -- СЭМ
Аннотация: Методами рентгеновской спектроскопии, сканирующей электронной микроскопии (СЭМ), импеданс спектроскопии и эллипсометрии изучено влияние ряда факторов: количества спекающей добавки, температуры спекания - на микроструктурные, электрические и оптические свойства твердого электролита Ce[0, 8]Gd[0, 2]O[2-d] + х мол. % TiO[2].

Доп.точки доступа:
Пикалова, Елена Юрьевна (научный сотрудник; специалист в области электрохимии твердых электролитов); Сальников, Валентин Васильевич (кандидат химических наук; старший научный сотрудник; специалист в области материаловедения, оптических свойств керамики); Головкин, Борис Георгиевич (кандидат химических наук; старший научный сотрудник; специалист в области химии твердого тела, математического моделирования); Панкратов, Александр Алексеевич (научный сотрудник; специалист в области микроскопии и энерго-дисперсионного микроанализа); Береснев, Сергей Михайлович (научный сотрудник; специалист в области кинетики электрохимических процессов в системах с твердым электролитом)

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

13.

Швец, В. А.
Анализ оптически неоднородных слоев методом in situ эллипсометрии [Текст] / В. А. Швец // Оптика и спектроскопия. - 2010. - Т. 108, № 3. - С. 1042-1048. - Библиогр.: с. 1048 (11 назв. ) . - ISSN 0030-4034

УДК

^a535.2/.3

ББК 22.343
Рубрики: Физика
Физическая оптика
Кл.слова (ненормированные):
эллипсометрические измерения -- эллипсометрические параметры -- численное моделирование -- эллипсометрия -- поляризованный свет -- оптически неоднородные слои
Аннотация: Рассмотрена задача анализа и обработки данных in situ эллипсометрических измерений, полученных при выращивании слоев на оптически неоднородных и многослойных структурах.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

14.

Беляева, А. И.
Особенности формирования оксидного слоя на поверхности аморфного сплава Zr[41. 2]Ti[13. 8]Cu[12. 5]Ni[10. 0]Be[22. 5] [Текст] / А. И. Беляева, А. А. Галуза, А. А. Савченко // Известия РАН. Серия физическая. - 2010. - Т. 74, N 5. - С. 635-638. . - Библиогр.: c. 638 (12 назв. )

УДК

^a539.213.26

ББК 22.37
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
аморфные сплавы -- диффузия -- Интернациональный термоядерный экспериментальный реактор -- ИТЭР -- многоугловая эллипсометрия -- окисление -- оптические свойства -- радиационное воздействие -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- сплав Vitreloy-1 -- сплав Zr41. 2Ti13. 8Cu12. 5Ni10. 0Be22. 5
Аннотация: В реальных условиях изучена природа окисления сплава Zr[41. 2]Ti[13. 8]Cu[12. 5]Ni[10. 0]Be[22. 5] (Vitreloy-1) - представителя новых сплавов, перспективных для внутрикорпусных зеркал ИТЭР. Основные методики исследования: рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и многоугловая эллипсометрия. Устойчивость оптических свойств Vitreloy-1 к радиационным воздействиям объяснена с помощью механизма окисления поверхностного слоя, основанного на специфике процесса диффузии в аморфных сплавах и особенностях взаимодействия аморфных металлических сплавов с водородом.

Доп.точки доступа:
Галуза, А. А.; Савченко, А. А.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

15.

Выращивание и оптические параметры кристаллов GaSe: Te [Текст] / С. Ю. Саркисов [и др. ] // Известия вузов. Физика. - 2010. - Т. 53, N 4. - С. 21-26. . - Библиогр.: c. 26 (15 назв. )

УДК

^a539.2

^a537.311.33

ББК 22.37 + 22.379
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Физика полупроводников и диэлектриков
Кл.слова (ненормированные):
выращивание кристаллов -- монокристаллы -- селенид галлия -- электронная микроскопия -- эллипсометрия
Аннотация: Проведена серия технологических экспериментов по выращиванию монокристаллов GaSe: Te методом Бриджмена - Стокбаргера. Исследованы микроморфология поверхности и механические свойства кристаллов с различным уровнем легирования. Получены спектральные зависимости комплексного показателя преломления с помощью эллипсометрии. Экспериментальные данные аппроксимированы в рамках модели Лоренца - Друде.

Доп.точки доступа:
Саркисов, С. Ю.; Атучин, В. В.; Гаврилова, Т. А.; Кручинин, В. Н.; Березная, С. А.; Коротченко, З. В.; Толбанов, О. П.; Чернышов, А. И.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

16.

Модификация оптических свойств рекристаллизованного W при изменении морфологии поверхности вследствие бомбардировки ионами дейтерия [Текст] / А. И. Беляева [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2011. - Т. 75, N 5. - С. 763-766. . - Библиогр.: c. 766 (14 назв. )

УДК

^a535.016

^a533.924

ББК 22.34 + 22.333
Рубрики: Физика
Оптика в целом
Электронные и ионные явления. Физика плазмы
Кл.слова (ненормированные):
блистеринг -- бомбардировка ионами -- зеркала -- коэффициент зеркального отражения -- облучение -- оптические свойства -- рекристаллизованный вольфрам -- рефлектометрия -- температурная зависимость -- эллипсометрия
Аннотация: Методами эллипсометрии и рефлектометрии обнаружено аномальное изменение оптических свойств рекристаллизованного W в результате бомбардировки ионами D при температуре в области 535 К. Имеет место принципиальное различие между значениями коэффициента отражения, измеренными рефлектометрией и рассчитанными по данным эллипсометрии. Предложена физическая модель обнаруженного эффекта. Показано, что на поверхности W, облученного при 535 К, имеют место два процесса: появление блистеров и модификация электронной структуры поверхностного слоя.

Доп.точки доступа:
Беляева, А. И.; Галуза, А. А.; Савченко, А. А.; Слатин, К. А.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

17.

Оптические свойства и электронная структура интерметаллидов YNi[5-x]Cu[x] [Текст] / Ю. В. Князев [и др. ] // Оптика и спектроскопия. - 2011. - Т. 111, N 5. - С. 847-852. . - Библиогр.: с. 852 (28 назв. )

УДК

^a535.33

^a535.31

^a539.21:535

ББК 22.344 + 22.342 + 22.374
Рубрики: Физика
   Спектроскопия
   Геометрическая оптика. Оптические приборы
   Оптические свойства твердых тел
Кл.слова (ненормированные):
интерметаллиды -- электронные структуры -- метод эллипсометрии -- оптические свойства -- гексагональные интерметаллиды -- интерметаллические соединения -- квантовое поглощение -- релаксационные частоты -- гексагональные соединения -- эллипсометрия -- оптическая проводимость -- электроны проводимости -- редкоземельные металлы -- проводимость -- иттрий -- парамагнетик Паули -- Паули парамагнетик
Аннотация: В определенном спектральном интервале методом эллипсометрии исследованы оптические свойства гексагональных интерметаллических соединений YNi[5-x]Cu[x]. Определены значения основных параметров зонной структуры, полные и парциальные плотности электронных состояний.

Доп.точки доступа:
Князев, Ю. В.; Кузьмин, Ю. И.; Кучин, А. Г.; Лукоянов, А. В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

18.

Оптические характеристики титана с естественным поверхностным слоем [Текст] / Н. И. Стаськов [и др. ] // Оптика и спектроскопия. - 2011. - Т. 111, N 6. - С. 1008-1012. . - Библиогр.: с. 1012 (10 назв. )

УДК

^a535.2/.3

ББК 22.343
Рубрики: Физика
Физическая оптика
Кл.слова (ненормированные):
титан -- обратные задачи -- поликристаллический титан -- многоугловая эллипсометрия -- поверхностный слой -- геометрические модели
Аннотация: Обсуждаются решения обратной задачи многоугловой эллипсометрии для титана с естественным поверхностным слоем – определение толщины приповерхностного слоя и оптических характеристик, с помощью которых можно интерпретировать структуру титана.

Доп.точки доступа:
Стаськов, Н. И.; Ивашкевич, И. В.; Крекотень, Н. А.; Ухов, В. А.; Птелицкий, А. Н.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

19.

Васильев, В. А.
Нанопористые силикатные пленки, сформированные золь-гель методом [Текст] / В. А. Васильев, Д. С. Серегин, К. А. Воротилов // Наноматериалы и наноструктуры. - 2011. - № 3. - С. 34-41. - Библиогр.: с. 40-41 (24 назв.)

УДК

^a544.22

^a544.6

ББК 24.52 + 24.57
Рубрики: Химия
Химия твердого тела
Электрохимия
Кл.слова (ненормированные):
силикаты -- силоксан -- силикатные пленки -- золь-гель метод -- пористость -- показатель преломления -- нанопленки -- спектральная эллипсометрия -- ИК-спектроскопия
Аннотация: Методами ИК-спектроскопии и спектральной эллипсометрии исследованы процессы изменения химического состава и микроструктуры органосиликатных пленок, полученных из разных алкоголятных систем, в зависимости от температуры обработки пленок.

Доп.точки доступа:
Серегин, Д. С.; Воротилов, К. А.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

20.

Исследование оптических свойств приповерхностного слоя в кремнии, имплантированном цинком, после термических отжигов [Текст] / В. В. Привезенцев [и др.] // Известия РАН. Серия физическая. - 2012. - Т. 76, № 9. - С. 1007-1110. - Библиогр.: c. 1110 (8 назв. ) . - ISSN 0367-6765

УДК

^a621.382

ББК 32.852
Рубрики: Радиоэлектроника
Полупроводниковые приборы
Кл.слова (ненормированные):
имплантация цинком -- катодолюминесценция -- комбинационное рассеяние света -- оксидные нанокластеры -- оптические свойства -- термический отжиг -- точечные дефекты -- частичная аморфизация -- эллипсометрия
Аннотация: Исследованы изменения в процессе термических отжигов оптических свойств нарушенного в результате имплантации ионами Zn слоя Si. Исследования проводились методами комбинационного рассеяния света (КРС), эллипсометрии и катодолюминесценции (КЛ). В имплантированных образцах образуется нарушенная область с частичной аморфизацией толщиной около 60 нм. Термообработка при 400 град. C приводит к частичному отжигу радиационных точечных дефектов, при этом толщина нарушенного слоя уменьшилась до 40 нм. После высокотемпературного отжига при 700 град. C нарушенный слой полностью восстановился ZnO.

Доп.точки доступа:
Привезенцев, В. В.; Чукичев, М. В.; Миронов, Р. В.; Кривенков, Ю. В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

1-20 21-30

Тематический навигатор

Статистика за 10.07.2024
Число запросов	143284
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)