Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=туннельный микроскоп<.>)

Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2

Антоненко, С. В.
Исследование облученных и отожженных высокотемпературных сверхпроводящих пленок с помощью нанотехнологического комплекса "Умка" [Текст] / С. В. Антоненко, М. А. Горячев, С. М. Толкачева // Известия РАН. Серия физическая. - 2007. - Т. 71, N 8. - С. 1129-1130. . - Библиогр.: c. 1130 (4 назв. )

УДК

^a537.312

^a538.9

ББК 22.33 + 22.3
Рубрики: Физика
Электричество и магнетизм в целом
Общие вопросы физики
Кл.слова (ненормированные):
высокотемпературные сверхпроводники -- нанотехнологические комплексы -- сверхпроводящие материалы -- сверхпроводящие пленки -- туннельный микроскоп -- характеристики пленок -- пленки
Аннотация: Сверхпроводящие пленки YBa[2]Cu[3]O[7-х] были получены с помощью магнетрона на постоянном токе. После облучения и отжига с помощью нанотехнологического комплекса "Умка" обнаружены повреждения поверхности сравнительно большой глубины - доли микрон.

Доп.точки доступа:
Горячев, М. А.; Толкачева, С. М.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Карташев, В. А.
Учет особенностей управления туннельным микроскопом при интерпретации измерений [Текст] / В. А. Карташев. В. В. Карташев // Известия РАН. Теория и системы управления. - 2018. - № 5. - С. 117-121. - Библиогр.: с. 121 (6 назв. ) . - ISSN 0002-3388

УДК

^a004.93

ББК 32.973-018.2
Рубрики: Вычислительная техника
Распознавание и преобразование образов
Кл.слова (ненормированные):
алгоритм интерпретации измерений -- микроскопы -- нанорельефы -- туннельный микроскоп
Аннотация: Исследуется алгоритм интерпретации измерений, который учитывает особенности управления туннельным микроскопом. Выводятся условия, при выполнении которых модель поверхности нанорельефа, построенная по результатам измерений совпадает с измеряемой поверхностью. Описаны особенности нанорельефа, которые не могут быть воспроизведены с помощью предложенного способа интерпретации измерения.

Доп.точки доступа:
Карташев, В. В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 05.08.2024
Число запросов	1337
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)