Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=топология поверхности<.>)

Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2

Крылов, П. Н.
Нанокристаллические пленки ZnS и ZnSe: синтез, структура [Текст] / П. Н. Крылов, Э. А. Романов, И. В. Федотова // Материаловедение. - 2011. - N 7. - С. 45-49.

УДК

^a539.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
нанокристаллические пленки -- низкие температуры конденсации -- рост пленок -- кристаллиты -- кристаллиты кубической модификации -- адсорбция -- кремниевые подложки -- кварцевые подложки -- топология поверхности -- кубические фазы -- гексагональные фазы -- конденсация
Аннотация: Выявлена нелинейная зависимость скорости роста пленок ZnS и ZnSe от температуры конденсации. Пленки на кремниевых и кварцевых подложках содержат в основном кристаллиты кубической модификации. В пленках на сколах NaCl наблюдается гексагональная фаза в сочетании с кубической. На топологию поверхности влияют механизм адсорбции, скорость роста и структура растущей пленки.

Доп.точки доступа:
Романов, Э. А.; Федотова, И. В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Белов, В. К.
Новое в метрологии: замена 2D-параметров микротопографии профиля на 3D-параметры микротопографии поверхности [Текст] / В. К. Белов, М. В. Пономарева // Контроль. Диагностика. - 2012. - № 7. - С. 57-63. - Библиогр.: с. 63 (15 назв. ) . - ISSN 0201-7032

УДК

^a621.77.016

^a389

ББК 34.51/59 + 30.10
Рубрики: Машиностроение
   Обработка металлов
   Техника
   Метрология
Кл.слова (ненормированные):
3D-фильтрация -- 2D-фильтрация -- параметры микротопографии -- микротопография поверхности -- микротопография профиля -- 3D-профилография -- маслоемкость -- анизотропия поверхности -- анизотропия гармонической составляющей поверхности -- поверхность шероховатости -- поверхность микротопографии -- плотность вершин поверхности -- ориентация неровностей поверхности -- топология поверхности
Аннотация: Описаны переход с 2D-фильтрации микротопографии профиля на 3D-фильтрацию микротопографии поверхности, а также методика получения новых эксплуатационных 3D-параметров поверхности и возможности их применения.

Доп.точки доступа:
Пономарева, М. В.; ГОУ ВПО "МГТУ им. Г. И. Носова", г. Магнитогорск \ниц "микротопография"\Магнитогорский государственный технический университет им. Г. И. Носова \ниц "микротопография"\

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 10.09.2024
Число запросов	53477
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)