Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

БД "Книги" (2)

Труды АМГУ (4)

Выпускные квалификационные работы (2)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=тонкие пленки<.>)

Общее количество найденных документов : 197
Показаны документы с 1 по 20

1-20 21-40 41-60 61-80 81-100 101-120

Наседкина, Ю. Ф.
Продольный сдвиг и трансформация гауссова пучка при отражении от тонкой пленки [Текст] / Ю. Ф. Наседкина, Д. И. Семенцов // Оптика и спектроскопия. - 2007. - Т. 102, N 5. - С. 846-853

УДК

^a535

ББК 22.34
Рубрики: Физика--Оптика
Кл.слова (ненормированные):
тонкие пленки -- гауссовы пучки -- световые пучки -- отражение световых пучков -- деформация отраженного пучка -- продольный сдвиг Гооса-Хенхен -- Гооса-Хенхен продольный сдвиг
Аннотация: На основе численного анализа исследуются особенности деформации отраженного от тонкой пленки гауссова пучка. Показано, что сложная деформация его профиля определяется тремя факторами: характером поведения коэффициента отражения вблизи угла падения, продольным сдвигом Го-оса-Хенхен и сдвигом в направлении падения пучка, обусловленным наличием границы "пленка-подложка". Получено приближенное выражение для величины смещения "центра тяжести" отраженного пучка.

Доп.точки доступа:
Семенцов, Д. И.
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : з.п. (1)
Свободны: з.п. (1)

Найти похожие

Мягков, В. Г.
Влияние диффузионного Ag-барьерного слоя на твердофазный синтез парамагнитной фазы в Ni/Ag/Fe (001) тонких пленках [Текст] / В. Г. Мягков, В. С. Жигалов [и др.] // Доклады Академии наук. - 2007. - Т. 414, N 6. - С. 777-780. - Библиогр.: с. 780 (14 назв. )

УДК

^a541.1

ББК 24.5
Рубрики: Химия--Физическая химия. Химическая физика
Кл.слова (ненормированные):
твердофазный синтез -- тонкие пленки -- диффузионный барьер -- серебро -- никель -- железо
Аннотация: Цель работы - показать, что диффузионный барьер из слоя серебра, находящийся на границе раздела слоев никеля и железа, не изменяет ни кинетику, ни температуру инициирования парамагнитной фазы.

Доп.точки доступа:
Жигалов, В. С.; Ломаева, С. Ф.; Быкова, Л. Е.; Бондаренко, Г. Н.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Компьютерная система автоматического контроля толщины напыляемых тонких пленок [Текст] / В. В. Наумов, О. А. Гребенщиков, В. Б. Залесский, В. М. Кравченко // Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика. - 2007. - N 12. - С. 53-55 : 2 рис. - Библиогр.: с. 55 (7 назв. )

ГРНТИ	50.09.33
УДК	^a681.325.5

ББК 32.973.202
Рубрики: Вычислительная техника
Компьютерные сети
Кл.слова (ненормированные):
компьютерные системы -- тонкие пленки -- напыление пленок -- микропроцессоры -- автоматический контроль
Аннотация: Описаны устройство, методика измерения и алгоритм функционирования двухканальной компьютерной системы автоматического контроля толщины напыляемых тонких пленок.

Доп.точки доступа:
Наумов, В. В.; Гребенщиков, О. А.; Залесский, В. Б.; Кравченко, В. М.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Электрофизические свойства тонких пленок титаната свинца на поликоровых подложках [Текст] / А. С. Сидоркин [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2007. - Т. 71, N 10. - С. 1420-1421. - Библиогр.: c. 1421 (10 назв. )

УДК

^a537.226.4

ББК 22.33
Рубрики: Физика
Электричество и магнетизм
Кл.слова (ненормированные):
внешние воздействия -- дисперсия -- диэлектрическая проницаемость -- поликоровые подложки -- поляризационные свойства -- сегнетоэлектрики -- сегнетоэлектрические пленки -- титанат свинца -- тонкие пленки -- усталость -- экспериментальные исследования -- электрофизические свойства
Аннотация: Проведено исследование диэлектрических свойств синтезированных пленок, включая дисперсию диэлектрической проницаемости. Экспериментально изучены процессы усталости в пленках в зависимости от количества циклов внешнего переключающего напряжения. Установлено, что в отсутствие внешних воздействий происходит частичное восстановление основных диэлектрических характеристик.

Доп.точки доступа:
Сидоркин, А. С.; Нестеренко, Л. П.; Смирнов, Г. Л.; Смирнов, А. Л.; Рябцев, С. В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Пироэлектрические и пьезоэлектрические петли гистерезиса в тонких пленках ЦТС с избыточным содержанием оксида свинца [Текст] / А. А. Богомолов [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2007. - Т. 71, N 10. - С. 1422-1423. - Библиогр.: c. 1423 (6 назв. )

УДК

^a537.226

ББК 22.33
Рубрики: Физика
Электричество и магнетизм
Кл.слова (ненормированные):
гистерезис -- кремниевая подложка -- оксид свинца -- перовскитовая структура -- пироэлектрические петли -- пленки ЦТС -- поликристаллические пленки -- пьезоэлектрические петли -- сегнетоэлектрические пленки -- ситалловая подложка -- тонкие пленки
Аннотация: Проведен сравнительный анализ пироэлектрических и пьезоэлектрических петель гистерезиса тонких пленок PbZr[0. 54]Ti[0. 46]O[3]+10 мол. % PbO, сформированных в идентичных условиях на подложках ситалла и кремния. Существенные различия в поведении исследуемых параметров связаны с различным характером двуосных механических напряжений, действующих на сегнетоэлектрическую пленку со стороны ситалловой и кремниевой подложек.

Доп.точки доступа:
Богомолов, А. А.; Сергеева, О. Н.; Пронин, И. П.; Каптелов, Е. Ю.; Киселев, Д. А.; Холкин, А. Л.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Комбинированное ПЭМ-АСМ-исследование трансротационных сферолитов, растущих в тонких аморфных пленках [Текст] / В. Ю. Колосов [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2007. - Т. 71, N 10. - С. 1481-1485. - Библиогр.: c. 1485 (10 назв. )

УДК

^a537.533.35

^a539.216.2

ББК 22.37 + 22.33
Рубрики: Физика
Физика твердого тела
Электричество и магнетизм
Кл.слова (ненормированные):
аморфные пленки -- атомная силовая микроскопия -- кристаллизация -- кристаллические решетки -- кристаллы -- микроскопические методы -- просвечивающая электронная микроскопия -- сферолитные кристаллы -- тонкие пленки -- трансротационные сферолиты -- электронная микроскопия
Аннотация: Совместно методами просвечивающей электронной микроскопии и атомной силовой микроскопии были исследованы "трансротационные" сферолиты Se и альфа-Fe[2]O[3]. Комбинация двух микроскопических методов позволила выявить особенности структуры и характер поверхности сферолитов, а также сопоставить эти данные.

Доп.точки доступа:
Колосов, В. Ю.; Швамм, К. Л.; Гайнутдинов, Р. В.; Толстихина, А. Л.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Юнакова, О. Н.
Электронный спектр поглощения тонких пленок Cs[2]ZnI[4] [Текст] / О. Н. Юнакова, В. К. Милославский, Е. Н. Коваленко // Оптика и спектроскопия. - 2008. - Т. 104, N 4. - С. 614-619

УДК

^a535.34

ББК 22.343
Рубрики: Физика
Физическая оптика
Кл.слова (ненормированные):
тонкие пленки -- спектр поглощения -- прямозонные диэлектрики -- экситонные возбуждения -- фазовые переходы
Аннотация: Исследован спектр поглощения тонких пленок Cs[2]ZnI[4] в интервалах энергий 3-6 эВ и температур 90-340 К. Установлено, что соединение относится к прямозонным диэлектрикам. Низкочастотные экситонные возбуждения локализованы в структурных элементах Znl[4] кристаллической решетки. По температурным зависимостям спектрального положения и полуширины низкочастотной экситонной полосы обнаружены фазовые переходы при 280 К и 135 К, 96 К. В сегнетоэластических фазах появляется дополнительное уширение экситонной полосы, связанное, по-видимому, с рассеянием экситонов на флуктуациях деформации в области доменных границ.

Доп.точки доступа:
Милославский, В. К.; Коваленко, Е. Н.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Исследование выхода e[0]-электронов с поверхности тонких пленок при бомбардировке их альфа- и бета-частицами от радиоактивных источников [Текст] / А. И. Феоктистов [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2008. - Т. 72, N 2. - С. 281-284. - Библиогр.: c. 284 (10 назв. )

УДК

^a539.163

ББК 22.38
Рубрики: Физика
Ядерная физика в целом
Кл.слова (ненормированные):
тонкие пленки -- радиоактивные источники -- e[0]-электроны -- бета-частицы -- приповерхностный слой -- ионизация атомов -- альфа-частицы -- эмиссия электронов -- экспериментальные исследования
Аннотация: Настоящая работа предпринята для установления зависимости выхода e[0]-электронов от энергии при бомбардировке тонких пленок альфа- и бета-частицами из распада {152}Eu, {154}Eu и {226}Ra.

Доп.точки доступа:
Феоктистов, А. И.; Вальчук, А. А.; Купряшкин, В. Т.; Сидоренко, Л. П.; Шаповалова, И. П.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Моргунов, Р. Б.
Микроволновое магнитосопротивление и электронный спиновый резонанс в тонких пленках и нанопроволоках Ge: Mn [Текст] / Р. Б. Моргунов, М. Фарле, О. Л. Казакова // Журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2008. - Т. 134, вып: вып. 1. - С. 141-155 : 13 рис. - Библиогр.: с. 154-155

УДК

^a530.1

ББК 22.31
Рубрики: Физика
Теоретическая физика
Кл.слова (ненормированные):
нанопроволоки -- спиновый резонанс -- электронный спиновый резонанс -- пленки -- тонкие пленки -- резонанс -- магнитосопротивление -- микроволновое магнитосопротивление
Аннотация: Исследованы микроволновое магнитосопротивление и электронный спиновый резонанс в тонких пленках и нанопроволоках Ge: Mn.

Доп.точки доступа:
Фарле, М.; Казакова, О. Л.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

10.

Заболотский, А. А.
Бистабильность при взаимодействии трехкомпонентного светового поля с тонкой молекулярной пленкой [Текст] / А. А. Заболотский // Оптика и спектроскопия. - 2008. - Т. 104, N 5. - С. 822-828

УДК

^a535

ББК 22.34
Рубрики: Физика
Оптика в целом
Кл.слова (ненормированные):
тонкие пленки -- молекулярные пленки -- трехкомпонентное световое поле -- J-агрегаты -- электромагнитное поле -- экситон-фононнное взаимодействие -- резонансное взаимодействие -- бистабильность
Аннотация: Исследуется резонансное взаимодействие трехкомпонентного электромагнитного поля с плоской полимерной пленкой, содержащей J-агрегаты красителей. Поле состоит из двух встречных волн, распространяющихся вдоль пленки J-агрегатов, и волны, направленной по нормали к плоскости пленки. Показано, что по сравнению со случаем однокомпонентного поля поляритон-фононное взаимодействие в такой системе приводит к качественно новым условиям возникновения локализованных экситонных состояний и бистабильности.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

11.

Алексейчик, Л. В.
Исследование электрофизических параметров тонких пленок и пленочных покрытий методом диэлектрического СВЧ резонатора [Текст] / Алексейчик Л. В. // Электричество. - 2008. - N 7. - С. 63-65 : 4 рис. - Библиогр.: с. 65 (2 назв. )

УДК

^a621.317

ББК 31.22
Рубрики: Энергетика
Электрические и магнитные измерения в целом
Кл.слова (ненормированные):
измерение электрических величин -- параметры электрофизические -- пленочные покрытия -- покрытия пленочные -- резонаторы СВЧ -- сверхвысокочастотные резонаторы -- СВЧ резонаторы -- тонкие пленки -- электрофизические параметры
Аннотация: Представлены результаты измерений тонких диэлектрических пленок, частично металлизированных с одной стороны и изготовленных по технологии так называемых перколяционных систем. Подобные системы обладают повышенными значениями наведенной эффективной диэлектрической проницаемости и технологически управляемым тангенсом угла потерь. Описана конструкция измерительной установки в виде волноводной осесимметричной резонансной системы на основе диэлектрического резонатора, позволяющая измерять электрофизические параметры пленок с повышенной точностью.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : эн.ф. (1)
Свободны: эн.ф. (1)

Найти похожие

12.

Брюквина, Л. И.
Оптические свойства поверхностных структур переходного металла во фторидных ионных кристаллах и особенности их образования в процессе термодиффузии [Текст] / Л. И. Брюквина, С. Н. Пидгурский, Е. А. Ермолаева // Оптика и спектроскопия. - 2008. - Т. 105, N 3. - С. 418-422.

УДК

^a535

ББК 22.34
Рубрики: Физика
Общие вопросы физики
Кл.слова (ненормированные):
фторидные ионные кристаллы -- ионные кристаллы -- переходные металлы -- поверхностные структуры -- тонкие пленки -- термодиффузия -- щелочно-галоидные кристаллы
Аннотация: Анализируется возможность широкого ряда ионных кристаллов образовывать поверхностные пленки с повышенной концентрацией примесного металла в процессе высокотемпературной диффузии: LiF с примесями Co, Ni, Mg, Ca, Ba, Sr; NaF с Co, Mn, Mg, Ca, Sr; MgF[2] с Co, Ni; CaF[2] с Co. Установлено, что пленки образуются только на щелочно-галоидных кристаллах (ЩГК) с примесями переходных металлов и не образуются на щелочно-земельных фторидах с примесями переходных металлов, а также на ЩГК, активированных другими двухвалентными катионными примесями. Показана динамика возрастания и спада интенсивности центров, связанных с примесно-вакансионными диполями, в процессе термодиффузии. Дано объяснение механизмов образования пленок на основе особенностей выращивания и строения ионных кристаллов с катионными примесями и правил изоморфизма.

Доп.точки доступа:
Пидгурский, С. Н.; Ермолаева, Е. А.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

13.

Мутилин, С. В.
Показатель преломления тонкой однородной пленки SiO[2] [Текст] / С. В. Мутилин, Т. Хасанов // Оптика и спектроскопия. - 2008. - Т. 105, N 3. - С. 505-510.

УДК

^a535

^a539.2

ББК 22.34 + 22.37
Рубрики: Физика
Оптика в целом
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
тонкие пленки -- SiO[2] -- показатель преломления
Аннотация: Представлены результаты исследования влияния неоднородности по толщине на показатель преломления пленок SiO[2]. Пленки SiO[2], нанесенные методом пиролиза тетраэтоксисилана на плоскопараллельных подложках ориентированного кристаллического кварца и на пластине кремния, подвергались послойному травлению в растворе Плискина. Рассчитывались показатель преломления и геометрическая толщина пленок из измеренных эллипсометрических углов после каждого травления. Представлен численный анализ точности определения показателя преломления в зависимости от толщины пленки за счет экспериментальных ошибок измерений поляризационных углов и параметров подложки. Для пленок SiO[2] толще 20 нм влияние неоднородности не обнаружено. При меньших толщинах наблюдалась зависимость показателей преломления от толщины. Обсуждены причины таких зависимостей.

Доп.точки доступа:
Хасанов, Т.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

14.

Формирование фазовых доменных структур в тонких пленках в условиях магнитного фазового перехода первого рода [Текст] / Ю. И. Джежеря, А. И. Товстолыткин // Журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2008. - Т. 134, вып. 5. - С. 930-939. . - Библиогр.: с. 938-939

УДК

^a530.1

ББК 22.31
Рубрики: Физика
Теоретическая физика
Кл.слова (ненормированные):
магнитные фазовые переходы -- резонансные свойства -- пленки -- тонкие пленки -- доменные структуры -- структуры -- переходы -- магнитные свойства -- фазовый переход первого рода -- фазовые доменные структуры
Аннотация: Теоретическое исследование магнитных и резонансных свойств тонких пленок в области перехода из парамагнитного в ферромагнитное состояние в условиях, когда магнитный переход является фазовым переходом первого рода.

Доп.точки доступа:
Джежеря, Ю. И.; Товстолыткин, А. И.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

15.

Юнакова, О. Н.
Электронный спектр поглощения тонких пленок K2]ZnI[4] [Текст] / О. Н. Юнакова, В. К. Милославский, Е. Н. Коваленко // Оптика и спектроскопия. - 2008. - Т. 105, N 6. - С. 983-987.

УДК

^a535.3

ББК 22.343
Рубрики: Физика
Физическая оптика
Кл.слова (ненормированные):
тонкие пленки -- K[2]ZnI[4] -- спектр поглощения -- прямозонные диэлектрики
Аннотация: Исследован спектр поглощения тонких пленок K[2]ZnI[4] в области спектра 3-6 эВ при температурах 90-340 К. Установлено, что соединение относится к прямозонным диэлектрикам, низкочастотные экситонные возбуждения локализованы в структурных слоях ZnI[4] кристаллической решетки и носят квазидвумерный (2D) характер. На основании изучения спектров установлено существование двух модификаций K2ZnI[4], принадлежащих по предположению к моноклинной (I) и орторомбической (II) фазам. По температурным зависимостям спектрального положения и полуширины низкочастотной экситонной полосы в K2ZnI[4] обнаружен фазовый переход 1-го рода при 215 К в моноклинной и при 225 К в орторомбической фазах.

Доп.точки доступа:
Милославский, В. К.; Коваленко, Е. Н.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

16.

Ворох, А. С.
Переход неупорядоченной структуры сульфида кадмия CdS в структуру вюрцита при увеличении размера наночастиц [Текст] / А. С. Ворох, Н. С. Кожевникова, А. А. Ремпель // Известия РАН. Серия физическая. - 2008. - Т. 72, N 10. - С. 1472-1475. . - Библиогр.: c. 1475 (29 назв. )

УДК

^a546.48`221:539.22:519.6

ББК 24.1
Рубрики: Химия
Общая и неорганическая химия в целом
Кл.слова (ненормированные):
неупорядоченные структуры -- метод Вильямсона-Холла -- нанопорошки -- тонкие пленки -- сульфид кадмия -- Вильямсона-Холла метод -- вюрцитная структура -- рентгенодифракционный анализ
Аннотация: Установлена зависимость структуры наночастиц сульфида кадмия от их размера в нанопорошках и тонких пленках.

Доп.точки доступа:
Кожевникова, Н. С.; Ремпель, А. А.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

17.

Исследование оптических констант пленок халькогенидов мышьяка в области длин волн 0. 5-2. 5 мкм [Текст] / Е. Н. Котликов [и др. ] // Оптика и спектроскопия. - 2007. - Т. 103, N 6. - С. 981-985.

УДК

^a535.323

ББК 22.343
Рубрики: Физика
Физическая оптика
Кл.слова (ненормированные):
халькогенидные стекла -- халькогениды мышьяка -- тонкие пленки -- оптические константы
Аннотация: Исследованы тонкие пленки халькогенидных стекол, осажденные на подложки из кварцевого стекла методом термического испарения в вакууме. По спектрам пропускания определены зависимости n (ламбда) и k (ламбда) для пленок разного состава. Представлены выражения вида n = A + BL + CL\{2\} + D ламбда\{2\} + E ламбда\{4\}, где L = (ламбда\{2\} - 0. 028) \{-1\}, а A, B, C, D, E – некоторые постоянные, для расчета показателя преломления для пленок As[2]Se[3], АsSe[4], АsS[4], АsS[16. 2]Sе[16. 2] в диапазоне 0. 5-2. 5 мкм.

Доп.точки доступа:
Котликов, Е. Н.; Иванов, В. А.; Крупенников, В. А.; Таллерчик, Б. А.; Тропин, А. Н.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

18.

Марков, Д. А.
Нелинейное пропускание ультракоротких импульсов лазерного излучения тонкой пленкой полупроводника в условиях двухфотонного двухимпульсного возбуждения биэкситонов [Текст] / Д. А. Марков, П. И. Хаджи, А. В. Коровай // Оптика и спектроскопия. - 2008. - Т. 104, N 1. - С. 109-115.

УДК

^a535

ББК 22.34
Рубрики: Физика
Оптика в целом
Кл.слова (ненормированные):
лазерное излучение -- тонкие пленки -- полупроводники -- биэкситоны -- нелинейное пропускание излучения
Аннотация: Изучены особенности нестационарного пропускания тонкой пленкой полупроводника двух импульсов, возбуждающих в пленке биэкситоны из основного состояния. Показано, что один из падающих прямоугольных импульсов полностью отражается от пленки, тогда как второй проходит через нее как через абсолютно прозрачную среду. Определены критерии возникновения стационарного бистабильного пропускания.

Доп.точки доступа:
Хаджи, П. И.; Коровай, А. В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

19.

Коноплев, Ю. Н.
Оптимизация структуры волоконно-оптического поляризатора с металлической пленкой на длину волны 980 нм [Текст] / Ю. Н. Коноплев, Ю. А. Мамаев, А. А. Туркин // Оптика и спектроскопия. - 2008. - Т. 105, N 1. - С. 140-146.

УДК

^a535.3

ББК 22.343
Рубрики: Физика
Физическая оптика
Кл.слова (ненормированные):
волоконно-оптические поляризаторы -- коэффициент экстинции -- тонкие пленки -- буферный слой -- алюминий -- фторид магния
Аннотация: Экспериментально и теоретически исследована зависимость коэффициента экстинкции волоконного поляризатора с пленкой алюминия на длину волны 980 нм от толщины буферного слоя из фторида магния. При оптимальной толщине буферного слоя h[b] = 0. 078, нормированной на длину волны, для поляризаторов с остаточным слоем оболочки волокна 2. 01 и 1. 607 мкм получены коэффициенты экстинкции 23 и 41 дБ соответственно. Определена оптимальная тонкопленочная структура, которая позволит получать поляризаторы с коэффициентом экстинкции до 100 дБ.

Доп.точки доступа:
Мамаев, Ю. А.; Туркин, А. А.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

20.

Могилевский, Е. И.
Течения тонких пленок вязкой жидкости по криволинейным вращающимся поверхностям [Текст] / Е. И. Могилевский, В. Я. Шкадов // Известия РАН. Механика жидкости и газа. - 2009. - N 2. - С. 18-32. . - Библиогр.: с. 32 (13 назв. )

УДК

^a536.22/.23

ББК 22.365
Рубрики: Физика
Газы и жидкости
Кл.слова (ненормированные):
тонкие пленки -- пленки -- капиллярные пленки -- криволинейные поверхности -- нелинейные волны
Аннотация: Рассматриваются течения тонких пленок вязкой жидкости по криволинейным вращающимся поверхностям. Изучено стационарное течение при больших и конечных числах Экмана. Рассмотрена возможность получения пленки заданной толщины.

Доп.точки доступа:
Шкадов В. Я.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

1-20 21-40 41-60 61-80 81-100 101-120

Тематический навигатор

Статистика за 04.08.2024
Число запросов	139788
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)