Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=субмикрокристаллические материалы<.>)
Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4
1.


    Дитенберг, И. А.
    Микроструктура сплава Мо - 47 Re - 0, 4 Zr после прокатки при комнатной температуре. [Текст]. I. Анизотропия микрополосовой структуры и особенности внутренней структуры микрополос / И. А. Дитенберг, А. Н. Тюменцев, Я. В. Шуба // Известия вузов. Физика. - 2010. - Т. 53, N 7. - С. 46-53. . - Библиогр.: c. 52-53 (23 назв. )
УДК
ББК 22.37
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

Кл.слова (ненормированные):
глубокие пластические деформации -- деформации металлических материалов -- дисклинации -- кривизна кристаллической решетки -- механизм пластической деформации -- микроструктура сплавов -- наноструктурные состояния -- субмикрокристаллические материалы -- электронная микроскопия
Аннотация: Представлены результаты электронно-микроскопического исследования микроструктуры сплава Мо - 47 Re - 0, 4 Zr после деформации прокаткой при комнатной температуре. Особое внимание уделено исследованию анизотропии формирующихся при этом микрополосовых наноструктурных состояний и высокоэнергетических дефектных субструктур с высокими значениями кривизны кристаллической решетки, плотности дисклинаций и локальных внутренних напряжений. Представлен дисклинационный механизм переориентации как механизм фрагментации внутренней структуры микрополос.


Доп.точки доступа:
Тюменцев, А. Н.; Шуба, Я. В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

2.


    Дитенберг, И. А.
    Микроструктура сплава Мо - 47 % Re - 0, 4 % ZI' после прокатки при комнатной температуре [Текст]. II. Особенности механического двойникования и формирования большеугловых границ микрополос / И. А. Дитенберг, А. Н. Тюменцев, Я. В. Шуба // Известия вузов. Физика. - 2010. - Т. 53, N 8. - С. 38-46. . - Библиогр.: с. 46 (23 назв. )
УДК
ББК 22.37
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

Кл.слова (ненормированные):
аттестация микроструктуры -- глубокие пластические деформации -- дисклинации -- континуальная теория дефектов -- кривизна кристаллической решетки -- механизмы пластической деформации -- механическое двойникование -- микрополосовая структура -- наноструктурные состояния -- субмикрокристаллические материалы -- электронная микроскопия
Аннотация: Показано, что характерными особенностями наноструктурного состояния после большой (эпсилон 90 %) деформации прокаткой сплава Мо - 47 % Re - 0, 4 % Zr (вес. %) при комнатной температуре являются значительная плотность двойников деформации с сильно фасетированными некогерентными границами и микрополос переориентации со специфическим спектром большеугловых разориентировок вокруг направлений типа 110. С использованием представлений о прямых плюс обратных (по альтернативным системам) мартенситных превращениях как механизмах пластической деформации и переориентации кристаллической решетки проведен анализ возможных механизмов формирования этих состояний.


Доп.точки доступа:
Тюменцев, А. Н.; Шуба, Я. В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

3.


    Беляков, А. Н.
    Анализ искажений кристаллической решетки сильнодеформированных металлических материалов с помощью просвечивающей электронной микроскопии [Текст] / А. Н. Беляков, М. С. Тихонова, Р. О. Кайбышев // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2012. - Т. 78, № 1: № 1, № 1. - С. 55-58. - Библиогр.: с. 58 (9 назв. ) . - ISSN 1028-6861
УДК
ББК 30.121 + 22.338
Рубрики: Техника
   Сопротивление материалов

   Физика

   Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях

Кл.слова (ненормированные):
искажения кристаллической решетки -- кристаллические решетки -- сильнодеформированные металлические материалы -- металлические материалы -- просвечивающая электронная микроскопия -- электронная микроскопия -- микроскопия -- микронапряжения -- дифракция Кикучи -- Кикучи дифракция -- субмикрокристаллические материалы -- рентгеноструктурный анализ
Аннотация: Описан способ определения локальных искажений кристаллической решетки с помощью дифракции Кикучи в сходящемся электронном пучке. Показана возможность определения искривлений решетки внутри отдельных кристаллитов в субмикрокристаллических материалах, полученных методами интенсивной пластической деформации.


Доп.точки доступа:
Тихонова, М. С.; Кайбышев, Р. О.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

4.


   
    Применение сканирующей туннельной микроскопии для характеристики зеренно-субзеренной структуры СМК никеля после низкотемпературного отжига [Текст] / П. В. Кузнецов [и др.] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2012. - Т. 78, № 4. - С. 26-34. - Библиогр.: с. 34 (29 назв. ) . - ISSN 1028-6861
УДК
ББК 30.3 + 30.121
Рубрики: Техника
   Материаловедение

   Сопротивление материалов

Кл.слова (ненормированные):
сканирующая туннельная микроскопия -- туннельная микроскопия -- зеренно-субзеренная структура -- субмикрокристаллические материалы -- субмикрокристаллический никель -- низкотемпературный отжиг -- равноканальное угловое прессование -- границы зерен -- микротвердость
Аннотация: Представлен метод оценки распределения зеренно-субзеренной структуры субмикрокристаллических простых металлов по размерам и оценке степени неравновесности их границ после низкотемпературного отжига с помощью сканирующей туннельной микроскопии.


Доп.точки доступа:
Кузнецов, П. В.; Петракова, И. В.; Рахматуллина, Т. В.; Батурин, А. А.; Корзников, А. В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

 
Статистика
за 07.08.2024
Число запросов 26226
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)