Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=спектроскопия ближней тонкой структуры края рентгеновского поглощения<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.


   
    Исследования пористого InP методами рентгеновской дифракции, ИК-спектроскопии, УМРЭС, XANES и ФЛ [Текст] / Э. П. Домашевская [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2008. - Т. 72, N 4. - С. 470-473. - Библиогр.: c. 473 (6 назв. )
УДК
ББК 22.3
Рубрики: Физика
   Общие вопросы физики

Кл.слова (ненормированные):
рентгеновская дифракция -- ИК-спектроскопия -- ультрамягкая рентгеновская спектроскопия -- спектроскопия ближней тонкой структуры края рентгеновского поглощения -- дисперсионный анализ -- методы исследования -- фотолюминесценция -- пористый фосфид индия -- XANES -- рентгеноструктурный анализ
Аннотация: Проведены комплексные исследования методами рентгеновской дифракции и ИК-спектроскопии, ультрамягкой рентгеновской спектроскопии (УМРЭС), спектроскопии ближней тонкой структуры края рентгеновского поглощения (XANES - X-ray absorption near edge structure) и фотолюминесценции (ФЛ) слоев пористого фосфида индия (por-InP), полученных анодным импульсным электрохимическим травлением монокристаллических пластин InP (100) n-типа проводимости (n~10{18}).


Доп.точки доступа:
Домашевская, Э. П.; Кашкаров, В. М.; Середин, П. В.; Терехов, В. А.; Турищев, С. Ю.; Арсентьев, И. Н.; Улин, В. П.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

 
Статистика
за 11.07.2024
Число запросов 158546
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)