Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска
БД "Книги"
БД "Статьи"
Труды АМГУ
Выпускные квалификационные работы
Антитеррор
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=режим отраженных электронов<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.


   
    Повышение пространственного разрешения в режиме отраженных электронов в сканирующей электронной микроскопии [Текст] / Н. А. Кошев [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2011. - Т. 75, N 9. - С. 1248-1251. . - Библиогр.: c. 1251 (12 назв. )
УДК
^a543.4
ББК 24.46/48
Рубрики: Химия
   Физико-химические методы анализа
Кл.слова (ненормированные):
отраженные электроны -- пространственное разрешение -- режим отраженных электронов -- сканирующая электронная микроскопия -- твердотельные мишени -- фурье-преобразование -- электронные зонды
Аннотация: Предложен метод повышения пространственного разрешения при детектировании отраженных электронов и наведенного тока в РЭМ на основе регуляризированного фурье-преобразования для обращения свертки. При построении алгоритма учитывается реальный размер электронного зонда и его размытие в твердотельной мишени-образце. Эксперименты демонстрируют улучшение разрешения на обработанных изображениях примерно в два раза.


Доп.точки доступа:
Кошев, Н. А.; Лукьянов, Ф. А.; Рау, Э. И.; Сеннов, Р. А.; Ягола, А. Г.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика
за 05.08.2024
Число запросов 77180
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)