Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=разрешение по глубине<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.


   
    Рентгеновская эмиссионная спектроскопия твердых тел с разрешением по глубине: исследование нанослоев a-Si/Al/Si [Текст] / А. С. Шулаков [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2008. - Т. 72, N 4. - С. 465-469. - Библиогр.: c. 469 (23 назв. )
УДК
ББК 22.3 + 24.5
Рубрики: Физика
   Общие вопросы физики

   Химия

   Физическая химия в целом

Кл.слова (ненормированные):
рентгеновская эмиссионная спектроскопия -- разрешение по глубине -- наноструктурированные материалы -- молекулярное наслаивание -- кристаллический кремний -- металлический алюминий -- модель Боровского-Рыдника -- Боровского-Рыдника модель -- интенсивность излучения
Аннотация: Сделан краткий обзор истории развития метода ультрамягкой рентгеновской эмиссионной спектроскопии с разрешением по глубине.


Доп.точки доступа:
Шулаков, А. С.; Букин, С. В.; Зданчук, Е. В.; Тверьянович, С. Ю.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

 
Статистика
за 29.06.2024
Число запросов 24964
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)