Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска
БД "Книги"
БД "Статьи"
Труды АМГУ
Выпускные квалификационные работы
Антитеррор
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=потенциально ненадежные микросхемы<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.


    Булаев, И. Ю.
    Применение метода критического напряжения питания для отбраковки потенциально ненадежных микросхем [Текст] / И. Ю. Булаев // Контроль. Диагностика. - 2015. - № 4. - С. 56-60. - Библиогр.: с. 60 (2 назв. ) . - ISSN 0201-7032
УДК
^a621.382
ББК 32.852
Рубрики: Радиоэлектроника
   Полупроводниковые приборы
Кл.слова (ненормированные):
внутренние дефекты -- выявление дефектов -- дефекты микросхем -- диагностический контроль -- испытания микросхем -- критическое напряжение питания -- метод критического напряжения питания -- микросхемы -- неразрушающий контроль -- отбраковка изделий -- паразитные сопротивления -- потенциально ненадежные микросхемы -- скрытые дефекты -- электронная компонентная база
Аннотация: Внутренние дефекты современных микросхем иногда невозможно обнаружить с помощью обычного функционального или параметрического контроля. Рассматриваются различные методы диагностического неразрушающего контроля, приводятся их достоинства и недостатки. Описан метод критического напряжения питания для поиска скрытых дефектов внутри современных микросхем.


Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика
за 07.08.2024
Число запросов 21487
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)