Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=полупроводниковые детекторы<.>)

Общее количество найденных документов : 5
Показаны документы с 1 по 5

Характеризация полупроводниковых детекторов монокинетических и отраженных электронов с энергией 1-30 кэВ [Текст] / А. В. Гостев [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2008. - Т. 72, N 11. - С. 1539-1544. . - Библиогр.: c. 1544 (12 назв. )

УДК

^a621.385.833

ББК 32.851
Рубрики: Радиоэлектроника
Электровакуумные приборы
Кл.слова (ненормированные):
полупроводниковые детекторы -- функции отклика -- энергетические спектры -- расчетные данные -- экспериментальные данные -- отраженные электроны -- монокинетические электроны
Аннотация: Рассмотрены основные характеристики полупроводниковых детекторов, рассчитаны их функции отклика, определены пороговые энергии отсечки как для монокинетического пучка электронов, так и при детектировании полного энергетического спектра отраженных электронов.

Доп.точки доступа:
Гостев, А. В.; Дицман, С. А.; Забродский, В. В.; Забродская, Н. В.; Лукьянов, Ф. А.; Рау, Э. И.; Сеннов, Р. А.; Суханов, В. Л.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Определение средней энергии отраженных электронов в зависимости от угла их выхода [Текст] / А. В. Гостев [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2010. - Т. 74, N 7. - С. 1010-1019. . - Библиогр.: c. 1019 (29 назв. )

УДК

^a621.385.833:548.316

ББК 32.851
Рубрики: Радиоэлектроника
Электровакуумные приборы
Кл.слова (ненормированные):
отраженные электроны -- полупроводниковые детекторы -- растровые электронные микроскопы -- средняя энергия отраженных электронов -- углы детектирования ОЭ -- Фарадея цилиндр -- цилиндр Фарадея -- энергетические спектры ОЭ
Аннотация: Для измерений средней энергии отраженных электронов как функции угла их вылета из поверхности применен полупроводниковый детектор. Обнаружены новые закономерности отражения электронов, в частности, выявлен немонотонный характер изменения средней энергии эмитированных электронов как функции от угла вылета и начальной энергии первичных электронов для материалов с различным атомным номером.

Доп.точки доступа:
Гостев, А. В.; Дицман, С. А.; Дюков, В. Г.; Лукьянов, Ф. А.; Рау, Э. И.; Сеннов, Р. А.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Орликовский, Н. А.
Контраст изображений в режиме детектирования отраженных электронов в сканирующей электронной микроскопии и микротомографии [Текст] / Н. А. Орликовский, Э. И. Рау // Известия РАН. Серия физическая. - 2011. - Т. 75, N 9. - С. 1305-1311. . - Библиогр.: c. 1311 (20 назв. )

УДК

^a544.3

ББК 24.46/48
Рубрики: Химия
Физико-химические методы анализа
Кл.слова (ненормированные):
контраст изображений -- микротомография -- отраженные электроны -- пленочные структуры -- полупроводниковые детекторы -- растровые электронные микроскопы -- сканирующая электронная микроскопия
Аннотация: Рассмотрены основные закономерности формирования контраста изображений в режиме отраженных электронов для массивных и пленочных структур в растровом электронном микроскопе. Показано существенное влияние параметров полупроводниковых детекторов на характер контраста изображения. Приведен расчет величины контраста в зависимости от состава участков мишени, от энергии первичных электронов, от способа детектирования сигнала.

Доп.точки доступа:
Рау, Э. И.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Исследование субструктуры нанопорошков NbC [Текст] / А. Б. Михайлова [и др.] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2012. - Т. 78, № 9. - С. 29-33. - Библиогр.: с. 32-33 (11 назв. ) . - ISSN 1028-6861

УДК

^a544.22

ББК 24.52
Рубрики: Химия
Химия твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
субструктура нанопорошков -- нанопорошки -- NbC -- карбид ниобия -- микродеформации -- программные комплексы -- метод Брунауэра - Эммета - Теллера -- Брунауэра - Эммета - Теллера метод -- регистрация спектров -- рентгеновские дифракционные спектры -- дифракционные спектры -- спектры -- метод Брэгга - Брентано -- Брэгга - Брентано метод -- полупроводниковые детекторы
Аннотация: Методами рентгеновской дифракции определены размеры областей когерентного рассеяния и величины микродеформаций в нанопорошках NbC.

Доп.точки доступа:
Михайлова, А. Б.; Сиротинкин, В. П.; Благовещенский, Ю. В.; Шамрай, В. Ф.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Жалсараев, Б. Ж.
Оценка возможностей рентгеновских спектрометров с поляризованными пучками [Текст] / Б. Ж. Жалсараев // Отечественная геология. - 2013. - № 3. - С. 99-103. - Библиогр.: с. 103 (10 назв.) . - ISSN 0869-7175

УДК

^a535.33

ББК 22.344
Рубрики: Физика
Спектроскопия
Кл.слова (ненормированные):
спектрометры -- спектрометры прямого возбуждения -- полупроводниковые детекторы -- рентгеновские спектрометры -- энергодисперсионные спектрометры -- поляризационные спектрометры -- ЭДПРС -- рентгенофлуоресцентный анализ -- поляризованные пучки -- AZTECGoldAnalyser -- подавление фона
Аннотация: Обсуждаются возможности рентгенофлуоресцентного анализа элементов со средними и большими атомными номерами. Исследовано влияние поляризации на фон, скорость счета флуоресценции, пороги обнаружения и эффективность рентгеновских спектрометров.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 18.09.2024
Число запросов	28441
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)