Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=отраженные электроны<.>)

Общее количество найденных документов : 14
Показаны документы с 1 по 14

Характеризация полупроводниковых детекторов монокинетических и отраженных электронов с энергией 1-30 кэВ [Текст] / А. В. Гостев [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2008. - Т. 72, N 11. - С. 1539-1544. . - Библиогр.: c. 1544 (12 назв. )

УДК

^a621.385.833

ББК 32.851
Рубрики: Радиоэлектроника
Электровакуумные приборы
Кл.слова (ненормированные):
полупроводниковые детекторы -- функции отклика -- энергетические спектры -- расчетные данные -- экспериментальные данные -- отраженные электроны -- монокинетические электроны
Аннотация: Рассмотрены основные характеристики полупроводниковых детекторов, рассчитаны их функции отклика, определены пороговые энергии отсечки как для монокинетического пучка электронов, так и при детектировании полного энергетического спектра отраженных электронов.

Доп.точки доступа:
Гостев, А. В.; Дицман, С. А.; Забродский, В. В.; Забродская, Н. В.; Лукьянов, Ф. А.; Рау, Э. И.; Сеннов, Р. А.; Суханов, В. Л.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Евстафьева, Е. Н.
Некоторые аспекты кинетики зарядки диэлектрических мишеней электронными пучками с энергией 1-50 кэВ [Текст] / Е. Н. Евстафьева, Э. И. Рау, Р. А. Сеннов // Известия РАН. Серия физическая. - 2008. - Т. 72, N 11. - С. 1577-1582. : рис. - Библиогр.: c. 1582 (13 назв. )

УДК

^a539.227

^a621.385.833

ББК 22.37 + 32.851
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом
   Радиоэлектроника
   Электровакуумные приборы
Кл.слова (ненормированные):
экспериментальные исследования -- электронно-эмиссионные характеристики -- диэлектрические мишени -- электронное облучение -- кинетическая модель зарядки -- вторичные электроны -- отраженные электроны
Аннотация: Экспериментально исследованы электронно-эмиссионные характеристики диэлектриков в процессе их облучения электронными пучками средних энергий с плотностью тока порядка 10{-5} A x см{-2}.

Доп.точки доступа:
Рау, Э. И.; Сеннов, Р. А.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Лукьянов, Ф. А.
Глубина пробега первичных электронов, размытие электронного пучка и пространственное разрешение в электронно-зондовых исследованиях [Текст] / Ф. А. Лукьянов, Э. И. Рау, Р. А. Сеннов // Известия РАН. Серия физическая. - 2009. - Т. 73, N 4. - С. 463-472. . - Библиогр.: c. 471-472 (30 назв. )

УДК

^a621.385.833

ББК 32.851
Рубрики: Радиоэлектроника
Электровакуумные приборы
Кл.слова (ненормированные):
твердотельные среды -- глубина пробега -- пробег электронов -- обратно рассеянные электроны -- электронно-зондовые исследования -- микротомография -- первичные электроны -- отраженные электроны
Аннотация: Проведен сравнительный анализ пробегов электронов в твердотельных средах в зависимости от начальных энергий электронов ( в диапазоне 1-50 кэВ) и характеристических параметров вещества.

Доп.точки доступа:
Рау, Э. И.; Сеннов, Р. А.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Батраков, Александр.
Статистическое моделирование спектров упругоотраженных электронов [Текст] / А. Батраков, А. Лубенченко // САПР и графика. - 2009. - N 11 (157). - С. 92-94. : рис. - Библиогр.: с. 94 (7 назв. )

УДК

^a533.9

ББК 22.333
Рубрики: Физика
Электронные и ионные явления. Физика плазмы
Кл.слова (ненормированные):
спектроскопия -- моделирование -- статистическое моделирование -- электроны -- отраженные электроны
Аннотация: Рассказано о методе спектроскопии отраженных электронов.

Доп.точки доступа:
Лубенченко, Александр

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Анализ углеводородных покрытий на основе спектроскопии отраженных электронов [Текст] / В. П. Афанасьев [и др. ] // Вестник Московского энергетического института. - 2009. - N 4. - С. 25-32. - Библиогр.: с. 31-32 (24 назв. ) . - ISSN 1993-6982

УДК

^a53

ББК 22.3
Рубрики: Физика
Общие вопросы физики
Кл.слова (ненормированные):
углеводородные покрытия -- спектроскопия -- отраженные электроны -- конструкционные материалы -- графиты -- плазма
Аннотация: Представлена методика, позволяющая измерять послойные профили водорода в конструкционных материалах на основе расшифровки энергетических спектров электронов, отраженных в заданный элемент телесного угла.

Доп.точки доступа:
Афанасьев, В. П.; Батраков, А. А.; Бомаер, В.; Науекс, Д.; Лубенченко, А. В.; Маркин, А. Б.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : эн.ф. (1)
Свободны: эн.ф. (1)

Найти похожие

Определение средней энергии отраженных электронов в зависимости от угла их выхода [Текст] / А. В. Гостев [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2010. - Т. 74, N 7. - С. 1010-1019. . - Библиогр.: c. 1019 (29 назв. )

УДК

^a621.385.833:548.316

ББК 32.851
Рубрики: Радиоэлектроника
Электровакуумные приборы
Кл.слова (ненормированные):
отраженные электроны -- полупроводниковые детекторы -- растровые электронные микроскопы -- средняя энергия отраженных электронов -- углы детектирования ОЭ -- Фарадея цилиндр -- цилиндр Фарадея -- энергетические спектры ОЭ
Аннотация: Для измерений средней энергии отраженных электронов как функции угла их вылета из поверхности применен полупроводниковый детектор. Обнаружены новые закономерности отражения электронов, в частности, выявлен немонотонный характер изменения средней энергии эмитированных электронов как функции от угла вылета и начальной энергии первичных электронов для материалов с различным атомным номером.

Доп.точки доступа:
Гостев, А. В.; Дицман, С. А.; Дюков, В. Г.; Лукьянов, Ф. А.; Рау, Э. И.; Сеннов, Р. А.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Методические аспекты электронно-зондовых исследований процессов зарядки диэлектрических мишеней [Текст] / Е. Н. Евстафьева [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2010. - Т. 74, N 7. - С. 1020-1028. . - Библиогр.: c. 1028 (25 назв. )

УДК

^a621.385.833

ББК 32.851
Рубрики: Радиоэлектроника
Электровакуумные приборы
Кл.слова (ненормированные):
вторичные электроны -- диэлектрические мишени -- зарядка диэлектриков -- отраженные электроны -- поляризованные окситоны -- тормозное рентгеновское излучение -- электронно-зондовые исследования -- электронные пучки
Аннотация: На примере типичного диэлектрика Al[2]O[3] исследованы основные характеристики процесса зарядки диэлектрических мишеней электронными пучками средних энергий. На основе расчетных модельных представлений и экспериментальных данных предложен новый гипотетический сценарий процесса зарядки диэлектриков, основанный на уменьшении тока вторичной эмиссии электронов вследствие эффекта образования поляризованных экситонов в положительном слое заряжающейся мишени.

Доп.точки доступа:
Евстафьева, Е. Н.; Плиес, Э.; Рау, Э. И.; Сеннов, Р. А.; Татаринцев, А. А.; Фрейнкман, Б. Г.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Мельников, А. А.
Анализ коэффициента сборки низковольтного РЭМ [Текст] / А. А. Мельников, О. Д. Потапкин // Известия РАН. Серия физическая. - 2010. - Т. 74, N 7. - С. 1052-1055. : Рис. - Библиогр.: c. 1055 (9 назв. )

УДК

^a557.533

ББК 22.338
Рубрики: Физика
Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях
Кл.слова (ненормированные):
вторичные траектории -- вторичные электроны -- движение электронов -- детекторы Эверхарта-Торнли -- низковольтные РЭМ -- отраженные электроны -- растровые электронные микроскопы -- Эверхарта-Торнли детекторы -- электростатические детекторы
Аннотация: Проводится анализ сбора электронов полем электростатических детекторов, расположенных над объективной линзой низковольтного РЭМ. Ускоряющее первичный пучок поле над объективной линзой является полем электростатического зеркала для вторичных и отраженных электронов. Анализируются вопросы движения вторичных и отраженных электронов.

Доп.точки доступа:
Потапкин, О. Д.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Повышение пространственного разрешения в режиме отраженных электронов в сканирующей электронной микроскопии [Текст] / Н. А. Кошев [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2011. - Т. 75, N 9. - С. 1248-1251. . - Библиогр.: c. 1251 (12 назв. )

УДК

^a543.4

ББК 24.46/48
Рубрики: Химия
Физико-химические методы анализа
Кл.слова (ненормированные):
отраженные электроны -- пространственное разрешение -- режим отраженных электронов -- сканирующая электронная микроскопия -- твердотельные мишени -- фурье-преобразование -- электронные зонды
Аннотация: Предложен метод повышения пространственного разрешения при детектировании отраженных электронов и наведенного тока в РЭМ на основе регуляризированного фурье-преобразования для обращения свертки. При построении алгоритма учитывается реальный размер электронного зонда и его размытие в твердотельной мишени-образце. Эксперименты демонстрируют улучшение разрешения на обработанных изображениях примерно в два раза.

Доп.точки доступа:
Кошев, Н. А.; Лукьянов, Ф. А.; Рау, Э. И.; Сеннов, Р. А.; Ягола, А. Г.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

10.

Орликовский, Н. А.
Контраст изображений в режиме детектирования отраженных электронов в сканирующей электронной микроскопии и микротомографии [Текст] / Н. А. Орликовский, Э. И. Рау // Известия РАН. Серия физическая. - 2011. - Т. 75, N 9. - С. 1305-1311. . - Библиогр.: c. 1311 (20 назв. )

УДК

^a544.3

ББК 24.46/48
Рубрики: Химия
Физико-химические методы анализа
Кл.слова (ненормированные):
контраст изображений -- микротомография -- отраженные электроны -- пленочные структуры -- полупроводниковые детекторы -- растровые электронные микроскопы -- сканирующая электронная микроскопия
Аннотация: Рассмотрены основные закономерности формирования контраста изображений в режиме отраженных электронов для массивных и пленочных структур в растровом электронном микроскопе. Показано существенное влияние параметров полупроводниковых детекторов на характер контраста изображения. Приведен расчет величины контраста в зависимости от состава участков мишени, от энергии первичных электронов, от способа детектирования сигнала.

Доп.точки доступа:
Рау, Э. И.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

11.

Восстановление энергетических спектров отраженных электронов с учетом аппаратной функции спектрометра [Текст] / Н. А. Кошев [и др.] // Известия РАН. Серия физическая. - 2012. - Т. 76, № 9. - С. 1070-1076. - Библиогр.: c. 1076 (21 назв. ) . - ISSN 0367-6765

УДК

^a621.385.833

ББК 32.851
Рубрики: Радиоэлектроника
Электровакуумные приборы
Кл.слова (ненормированные):
отраженные электроны -- пленка на подложке -- растровые электронные микроскопы -- слоистые мишени -- упруго отраженные электроны -- энергетические спектры
Аннотация: Решена обратная задача восстановления реального спектра обратно рассеянных электронов от массивных и слоистых мишеней с учетом аппаратной функции тороидального секторного энергоанализатора и функции отклика электронного детектора спектрометра. Приведены результаты исследований энергетических спектров ряда однородных образцов и систем “пленка на подложке”, полученных при различных энергиях пучка облучающих электронов, нормальном падении последних на поверхность и при угле детектирования отраженных электронов 45 град.

Доп.точки доступа:
Кошев, Н. А.; Орликовский, Н. А.; Рау, Э. И.; Ягола, А. Г.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

12.

Потапкин, О. Д.
Анализ коэффициента сбора РЭМ [Текст] / О. Д. Потапкин, А. А. Мельников // Известия РАН. Серия физическая. - 2012. - Т. 76, № 9. - С. 1099-1102. - Библиогр.: c. 1102 (9 назв. ) . - ISSN 0367-6765

УДК

^a537.533

ББК 22.338
Рубрики: Физика
Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях
Кл.слова (ненормированные):
вторичные электроны -- детекторы Эверхарта-Торнли -- Дирихле задача -- задача Дирихле -- отраженные электроны -- парно-симметричные детекторы -- растровая электронная микроскопия -- численные методы -- Эверхарта-Торнли детекторы
Аннотация: Решена задача Дирихле для расчета электростатического поля парно-симметричных детекторов Эверхарта-Торнли, расположенных под полюсным наконечником объективной линзы. Численными методами найдены траектории вторичных и отраженных электронов. Построены диаграммы эффективности сбора для разных значений отношения длины рабочего отрезка к диаметру полюсного наконечника. Результаты полезны при проведении линейных измерений наноразмерных структур.

Доп.точки доступа:
Мельников, А. А.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

13.

Анализ формул для расчета основных характеристик отраженных электронов и сравнение с экспериментальными результатами [Текст] / Э. И. Рау [и др.] // Известия РАН. Серия физическая. - 2013. - Т. 77, № 8. - С. 1050-1058. - Библиогр.: c. 1057-1058 (28 назв. ) . - ISSN 0367-6765

УДК

^a539.25:620.187

ББК 22.37
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
аналитические формулы -- коэффициенты отраженных электронов -- отраженные электроны -- растровые электронные микроскопы -- энергетические спектры
Аннотация: Выведены полуэмпирические соотношения для основных параметров отраженных электронов в растровом электронном микроскопе: коэффициента отражения, средней и наиболее вероятной энергии, энергетических спектров, зависимости энергии отраженных электронов от угла выхода. Показано, что характеристика энергетической зависимости имеет максимум в области углов отраженных электронов тета = 65°-75°.

Доп.точки доступа:
Рау, Э. И.; Дицман, С. А.; Зайцев, С. В.; Лермонтов, Н. В.; Лукьянов, А. Е.; Купреенко, С. Ю.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

14.

Паршин, А. С.
Спектроскопия потерь энергии отраженных электронов gamma-Fe[2]O[3] [Текст] / А. С. Паршин, Ю. Л. Михлин, Г. А. Александрова // Физика твердого тела. - 2021. - Т. 63, вып. 8. - С. 1049-1055 : 7 рис. - Библиогр. в конце ст. (30 назв.) . - ISSN 0367-3294

УДК

^a537.311.33

ББК 22.379
Рубрики: Физика
Физика полупроводников и диэлектриков
Кл.слова (ненормированные):
диапазон энергии 200-3000 eV -- отраженные электроны -- плазмоны -- потери энергии -- электронная спектроскопия -- электроны
Аннотация: Исследованы спектры потерь энергии отраженных электронов, полученные при энергии первичных электронов в диапазоне 200-3000 eV.

Доп.точки доступа:
Михлин, Ю. Л.; Александрова, Г. А.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : н.з. (1)
Свободны: н.з. (1)

Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 11.07.2024
Число запросов	157637
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)