Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска
БД "Книги"
БД "Статьи"
Труды АМГУ
Выпускные квалификационные работы
Антитеррор
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=модель Нагаи<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.


   
    Рентгенодифракционный анализ искажений эпитаксильной пленки на отклоненных подложках (001) [Текст] / А. В. Колесников [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2011. - Т. 75, N 5. - С. 652-655. . - Библиогр.: c. 655 (8 назв. )
УДК
^a539.261
ББК 22.361
Рубрики: Физика
   Экспериментальные методы и аппаратура молекулярной физики
Кл.слова (ненормированные):
границы раздела -- кривые дифракционного отражения -- кристаллическая решетка -- модель Нагаи -- Нагаи модель -- пластическая релаксация -- рентгеновская дифрактометрия -- триклинные искажения -- эпитаксильные пленки
Аннотация: Развита методика определения структурных параметров эпитаксиальных слоев по данным рентгеновской дифрактометрии, позволяющая анализировать триклинные искажения, которые возникают в гетеросистемах с несингулярными ориентациями. Зарегистрированы углы взаимного разворота кристаллических решеток дислокационной пленки Ge[x]Si[1-x] и подложки Si.


Доп.точки доступа:
Колесников, А. В.; Ильин, А. С.; Труханов, Е. М.; Василенко, А. П.; Лошкарев, И. Д.; Дерябин, А. С.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика
за 10.07.2024
Число запросов 163627
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)