Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:БД "Книги" (5)Труды АМГУ (4)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=микроскопы<.>)
Общее количество найденных документов : 117
Показаны документы с 1 по 20
 1-20    21-40   41-60   61-80   81-100   101-117 
1.


    Серков, А. Т.
    Нанотехнологии и химические волокна [Текст] / А. Т. Серков, М. Б. Радишевский // Химические волокна. - 2008. - N 1. - С. 26-30. - Библиогр.: с. 30 (9 назв. )
УДК
ББК 37.2 + 37.2
Рубрики: Производства легкой промышленности
   Общие вопросы производства легкой промышленности

Кл.слова (ненормированные):
текстильное производство -- формирование волокон -- нанотехнологии -- микроскопическая техника -- сканирующие зондовые микроскопы -- сканирующие микроскопы -- зондовые микроскопы -- нанотрубки -- нанотрубчатые нити -- нанообработка -- технология "сверху - вниз" -- сверху - вниз (технология) -- технология "снизу - вверх" -- снизу - вверх (технология)
Аннотация: Рассмотрены особенности нанотехнологий и возможность их применения в исследовательской и производственной практике в области химических волокон.


Доп.точки доступа:
Радишевский, М. Б.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

2.


    Козырев, В. В. (д-р техн. наук, проф.).
    Мехатронные модули для наноиндустрии [Текст] : разработка, создание и внедрение / В. В. Козырев // Мехатроника, автоматизация, управление. - 2008. - N 1. - С. 23-27 : ил. - Библиогр.: с. 27 (4 назв. )
УДК
ББК 34.44
Рубрики: Машиностроение
   Детали машин и механизмов

Кл.слова (ненормированные):
мехатронные модули -- роликовинтовые передачи -- планетарные передачи -- туннельные микроскопы -- нанотехнологическое оборудование -- РВПЗК (передача)
Аннотация: Обсуждаются особенности разработки и перспективы внедрения мехатронных модулей на основе планетарных роликовинтовых передач с высокой разрешающей способностью для подачи столика в туннельных микроскопах, системах активной оптики и в другом нанотехнологическом оборудовании.


Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

3.


   
    Моделирование пористости в карбонатных пластах на примере Оренбургского нефтегазоконденсатного месторождения [Текст] / Н. А. Скибицкая [и др. ] // Известия вузов. Геология и разведка. - 2007. - N 3. - С. 71-74. - Библиогр.: с. 76 (12 назв. )
ГРНТИ
УДК
ББК 26.325.4
Рубрики: Геология
   Нефть и газы--Россия--Оренбургская область

Кл.слова (ненормированные):
карбонатные месторождения -- растровые электронные микроскопы -- электронные микроскопы -- поровое пространство -- карбонатные пласты -- известняки -- электронно-микроскопические исследования -- кластеры -- фрактальная геометрия -- породы-коллекторы -- пористые зоны -- нефтегазоконденсатные месторождения -- месторождения нефтегазоконденсата
Аннотация: На примере опытного участка Оренбургского нефтегазоконденсатного месторождения построена трехмерная очаговая модель распределения разномасштабных и отличающихся по плотности очагов формирования и развития пористых зон за счет вторичных процессов в геологическом теле залежи.


Доп.точки доступа:
Скибицкая, Н. А.; Сурначев, Д. В.; Большаков, М. Н.; Кузьмин, В. А.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

4.


   
    Источник сферической волны на основе зонда ближнепольного микроскопа [Текст] / А. Ю. Климов [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2008. - Т. 72, N 2. - С. 221-223 : Рис. - Библиогр.: c. 223 (6 назв. )
УДК
ББК 22.341 + 30
Рубрики: Физика
   Экспериментальные методы и аппаратура оптики

   Техника

   Общие вопросы техники

Кл.слова (ненормированные):
источник сферической волны -- оптоволоконные зонды -- прецизионные интерферометры -- числовая апертура -- деформации волновых фронтов -- эксперименты -- интерферометры -- ближнепольные микроскопы
Аннотация: Сообщается о новом типе источника сферической волны для прецизионной интерфеометрии на основе оптоволоконного зонда для ближнепольного микроскопа.


Доп.точки доступа:
Климов, А. Ю.; Рогов, В. В.; Салащенко, Н. Н.; Чхало, Н. И.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

5.


    Плужников, Владимир.
    Когда-то в июне [Текст] / Владимир Плужников // Изобретатель и рационализатор. - 2008. - N 6. - 3-я с. обл. : 3 рис.
УДК
ББК 30г
Рубрики: Техника
   История техники--Германия--Швейцария

Кл.слова (ненормированные):
история техники -- оптические стекла -- ракеты -- микроскопы -- изобретатели -- изобретения в технике -- календари знаменательных дат
Аннотация: О знаменательных событиях и людях, внесших неоценимый вклад в развитие науки и техники и родившихся в июне.


Доп.точки доступа:
Качалов, Николай Николаевич \н. Н.\; Зандер \ф.\; Рорер, Гейнрих \г.\

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : пат. (1)
Свободны: пат. (1)

Найти похожие

6.


    Карташев, В. А.
    Влияние колебаний основания туннельного микроскопа на отклонения от программного движения зонда [Текст] / В. А. Карташев, В. В. Карташев // Известия РАН. Теория и системы управления. - 2008. - N 4. - С. 159-164. - Библиогр.: c. 164 (7 назв. )
УДК
ББК 32.96
Рубрики: Радиоэлектроника
   Автоматика и телемеханика

Кл.слова (ненормированные):
туннельные микроскопы -- зонды -- колебания -- система управления туннельным микроскопом -- зондовые туннельные микроскопы
Аннотация: Дается оценка зависимости амплитуды колебаний иглы от амплитуды колебаний основания для некоторых моделей туннельных микроскопов. Показано, что помимо поступательных колебаний измерительного блока, вклад которых в ошибки измерений мал, на иглу передаются колебания, связанные с его раскачиванием в упругом подвесе.


Доп.точки доступа:
Карташев, В. В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

7.


    Соколов, Д. Ю. (рук. патентной службы ЗАО "Нанотехнология-МДТ").
    Особенности патентования объектов нанотехнологии [Текст] / Д. Ю. Соколов // Патенты и лицензии. - 2008. - N 6. - С. 14-19 : Ил.: 1 фото. - Библиогр. в сносках
УДК
ББК 67.404.3
Рубрики: Правовая охрана интеллектуальной собственности
   Право

Кл.слова (ненормированные):
интеллектуальная собственность -- патенты -- нанотехнологии -- зондовые микроскопы
Аннотация: В статье делается попытка обобщить более чем десятилетний опыт патентования фирмой объектов нанотехнологии и, в частности, зондовой микроскопии.


Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : пат. (1)
Свободны: пат. (1)

Найти похожие

8.


    Баранов, Д. В.
    Поляризационный метод характеризации прямоугольных микроканавок по фазовым откликам дифференциального гетеродинного микроскопа [Текст] / Д. В. Баранов, Е. М. Золотов // Оптика и спектроскопия. - 2008. - Т. 105, N 3. - С. 496-501.
УДК
ББК 22.34 + 22.37
Рубрики: Физика
   Оптика в целом

   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

Кл.слова (ненормированные):
сканирующий дифференциальный гетеродинный микроскоп -- микроскопы -- металлизированные субмикронные структуры -- субмикронные структуры -- прямоугольные микроканавки -- поляризация зондирующего излучения -- нанотехнологии
Аннотация: На основе алгоритма формирования отклика в сканирующем дифференциальном гетеродинном микроскопе с учетом строгой теории дифракции смоделированы фазовые и амплитудные отклики от прямоугольных микроканавок для двух основных состояний поляризации зондирующего излучения. На основе полученных откликов рассчитаны зависимости фазового контраста от глубины и ширины микрообъекта. Проанализированы возможности одновременной характеризации канавки по глубине и ширине. Для определения параметров в особых областях фазовых дислокаций и слабых сигналов предложено использовать зависимости фазового и амплитудного контрастов от глубины канавки, рассчитанные для откликов, регистрируемых вне центра фурье-плоскости микроскопа.


Доп.точки доступа:
Золотов, Е. М.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

9.


    Казьмирук, В. В.
    Сканирующие электронные микроскопы МикроСкан серии МС20 [Текст] / В. В. Казьмирук // Известия РАН. Серия физическая. - 2008. - Т. 72, N 11. - С. 1550-1553. : рис. - Библиогр.: c. 1553 (2 назв. )
УДК
ББК 32.852
Рубрики: Радиоэлектроника
   Полупроводниковые приборы

Кл.слова (ненормированные):
сканирующие электронные микроскопы -- микролитографы -- системные модули -- видеоконтрольные устройства -- электронно-лучевая литография -- принцип модульности -- ионно-оптические системы
Аннотация: В ИПТМ РАН разработана новая серия сканирующих электронных микроскопов (СЭМ) МикроСкан-МС20. Основная их отличительная особенность - модульность конструкции абсолютно всех узлов и систем, что позволило достичь высокого уровня унификации.


Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

10.


    Миронов, В. Л.
    Влияние поля зонда магнитно-силового микроскопа на распределение намагниченности в исследуемых образцах [Текст] / В. Л. Миронов, А. А. Фраерман, О. Л. Ермолаева // Известия РАН. Серия физическая. - 2008. - Т. 72, N 11. - С. 1558-1561. . - Библиогр.: c. 1561 (4 назв. )
УДК
ББК 22.334
Рубрики: Физика
   Магнетизм

Кл.слова (ненормированные):
магнитно-силовые микроскопы -- намагниченность -- ферромагнитные образцы -- поле зонда -- локальные возмущения -- уравнения Ландау-Лифшица -- Ландау-Лифшица уравнения
Аннотация: Теоретически рассмотрено влияние поля зонда магнитно-силового микроскопа (МСМ) на распределение намагниченности исследуемых объектов.


Доп.точки доступа:
Фраерман, А. А.; Ермолаева, О. Л.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

11.


    Скибицкая, Н. А.
    Методика исследования в растровом электронном микроскопе матричной нефти [Текст] / Н. А. Скибицкая, В. А. Кузьмин, А. В. Гаршев // Известия РАН. Серия физическая. - 2008. - Т. 72, N 11. - С. 1567-1570. : рис. - Библиогр.: c. 1570 (7 назв. )
УДК
ББК 22.338 + 32.852
Рубрики: Физика
   Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях

   Радиоэлектроника

   Полупроводниковые приборы

Кл.слова (ненормированные):
растровые электронные микроскопы -- карбонатные минерально-органические полимеры -- матричная нефть -- карбонатные породы -- локальные возмущения -- уравнения Ландау-Лифшица -- Ландау-Лифшица уравнения
Аннотация: Предложены методы исследования сколов пород в РЭМ при различных ускоряющих напряжениях, позволяющие идентифицировать матричную нефть за счет выделения фазы с высоким содержанием легких элементов (углерода).


Доп.точки доступа:
Кузьмин, В. А.; Гаршев, А. В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

12.


   
    [Новости зарубежной научно-технической информации] [Текст] // Наука и жизнь. - 2008. - N 10. - С. 62-65. : 11 фот. - 0; Огненный хвост метеорита. - 0; Отопление компьютерами. - 0; Телефон-микроскоп. - 0; Кошка с собакой: секреты гармонии. - 0; Теплый дом. - 0; Эскалатор для капель. - 0; Будущие математики хорошо сочиняют. - 0; Электрический парус. - 0; Робот-читатель. - 0; Рекорды окончатся в 2027 году
УДК
ББК 30 + 72
Рубрики: Техника
   Общие вопросы техники

   Наука. Науковедение

   Общие вопросы науки

Кл.слова (ненормированные):
научные достижения -- метеориты -- компьютеры -- сотовые телефоны -- микроскопы -- кошки -- собаки -- теплоизоляция домов -- одаренные дети -- солнечный ветер -- космические аппараты -- мировые рекорды -- детекторы лжи
Аннотация: Компьютерное моделирование Тунгусского взрыва показало, что космическое тело, ворвавшееся в атмосферу Земли 30 июня 1908 года, могло быть менее массивным, чем полагали до сих пор; ученые предлагают отапливать информационные центры и банки данных теплом, выделяемым компьютерами при работе; мобильные телефоны обрастают все новыми функциями; в Германии предпринимается программа усиления теплоизоляции старых домов; финский инженер предлагает новый движитель для космических аппаратов, использующий так называемый солнечный ветер, а также другие новости науки и техники.


Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

13.


    Сердюков, О.
    Видит атомы [Текст] / О. Сердюков // Изобретатель и рационализатор. - 2009. - N 1. - С. 8-9. : 2 фот.
УДК
ББК 32.85
Рубрики: Радиоэлектроника
   Электроника в целом

Кл.слова (ненормированные):
микроскопы -- нанотехнологии -- атомы -- зондовые микроскопы -- сканирующие микроскопы
Аннотация: Сканирующий микроскоп предназначен для лабораторий, учебных и научных центров, занимающихся нанотехнологиями в любых отраслях науки и промышленности.


Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : пат. (заказ статей по ЭДД) (1)
Свободны: пат. (заказ статей по ЭДД) (1)

Найти похожие

14.


    Быков, В.
    Продвижение в глубь материи [Текст] / Виктор Быков // Наука в России. - 2008. - N 6. - С. 15-20. : 7 фот.
УДК
ББК 22.3с
Рубрики: Физика
   Физические приборы и методы физического эксперимента

Кл.слова (ненормированные):
зондовые микроскопы -- измерительное оборудование -- микроскопы зондовые -- микроскопы туннельные -- наноматериалы -- оборудование измерительное -- туннельные микроскопы
Аннотация: Компания "Нанотехнология-МТД", начавшая свою работу с разработок сканирующих туннельных микроскопов, сегодня производит уже четыре модельных ряда сложного измерительного оборудования, позволяющего делать принципиально новые шаги практически во всех областях нанотехнологий.


Доп.точки доступа:
Нанотехнология-МТД; НТ-МТД

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

15.


   
    Электродинамическая теория ближнепольной СВЧ-микроскопии плоскослоистых структур и ее применение для метрологии тонких диэлектрических пленок [Текст] / А. Н. Резник [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2009. - Т. 73, N 1. - С. 46-50. . - Библиогр.: c. 50 (13 назв. )
УДК
ББК 32.840/841 + 31.22
Рубрики: Радиоэлектроника
   Теоретические основы радиотехники

   Энергетика

   Электрические и магнитные измерения в целом

Кл.слова (ненормированные):
ближнепольная СВЧ-микроскопия -- электродинамическая теория -- тонкие диэлектрические пленки -- диэлектрическая проницаемость -- плоскослоистые структуры -- ближнепольные микроскопы
Аннотация: Развита теория ближнепольной СВЧ-микроскопии планарных структур.


Доп.точки доступа:
Резник, А. Н.; Таланов, В. В.; Шерешевский, И. А.; Вдовичева, Н. К.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

16.


    Сердюков, О.
    Нано или не нано? [Текст] / О. Сердюков // Изобретатель и рационализатор. - 2009. - N 3. - С. 12. : 1 фот.
УДК
ББК 72
Рубрики: Наука. Науковедение
   Общие вопросы науки

Кл.слова (ненормированные):
нанотехнологии -- инструменты -- приборы -- колибровка -- электронные микроскопы
Аннотация: Устройство позволит проверить и откорректировать работу инструментов и приборов, применяемых при нанотехнологиях.


Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : пат. (заказ статей по ЭДД) (1)
Свободны: пат. (заказ статей по ЭДД) (1)

Найти похожие

17.


   
    Первые российские стандарты в нанотехнологии [Текст] / В. П. Гавриленко [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2009. - Т. 73, N 4. - С. 454-462. : рис. - Библиогр.: c. 462 (13 назв. )
УДК
ББК 31.2
Рубрики: Энергетика
   Электротехника в целом

Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовые микроскопы -- растровые электронные микроскопы -- Первичный эталон длины -- нанотехнология -- нанометрология -- стандартизация -- нанометровый диапазон -- единица длины
Аннотация: Рассмотрены вопросы обеспечения единства измерений в нанотехнологии.


Доп.точки доступа:
Гавриленко, В. П.; Лесновский, Е. Н.; Новиков, Ю. А.; Раков, А. В.; Тодуа, П. А.; Филиппов, М. Н.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

18.


    Новиков, Ю. А.
    Калибровка атомно-силовых микроскопов [Текст] / Ю. А. Новиков, А. В. Раков, П. А. Тодуа // Известия РАН. Серия физическая. - 2009. - Т. 73, N 4. - С. 473-484. : рис. - Библиогр.: c. 483-484 (28 назв. )
УДК
ББК 22.338
Рубрики: Физика
   Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях

Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовые микроскопы -- калибровка АСМ -- растровые электронные микроскопы -- параметры АСМ -- экспериментальные исследования -- геометрические модели -- сканирование -- геометрические свойства -- поверхности
Аннотация: Приведены методы калибровки атомно-силовых микроскопов (АСМ) с использованием сигнала АСМ и его первой производной.


Доп.точки доступа:
Раков, А. В.; Тодуа, П. А.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

19.


   
    Криостат РУПИК к сканирующему электронному микроскопу для послойного исследования структуры различных объектов [Текст] / А. И. Чемерис [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2009. - Т. 73, N 4. - С. 489-491. : рис. - Библиогр.: c. 491 (8 назв. )
УДК
ББК 30.3
Рубрики: Техника
   Материаловедение

Кл.слова (ненормированные):
криотехника -- электронная микроскопия -- сканирующие электронные микроскопы -- фотопленки -- суспензии древесины -- криостаты -- криостат РУПИК
Аннотация: Описаны конструктивные особенности криостата РУПИК к сканирующему электронному микроскопу РЭМ-100У.


Доп.точки доступа:
Чемерис, А. И.; Жовклый, В. Ю.; Чемерис, И. И.; Филатова, А. Г.; Белавцева, Е. М.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

20.


    Геворкян, Эдуард.
    Великолепная десятка [Текст] / Эдуард Геворкян // Наука и религия. - 2009. - N 9. - С. 26-29.
УДК
ББК 2
Рубрики: Общенаучные и междисциплинарные знания
   Общие вопросы естественных и точных наук

Кл.слова (ненормированные):
клеточная терапия -- кометы -- планеты -- сверхпроводимость -- белки (биология) -- химические технологии -- микроскопы -- жиры -- рапамицин -- хищные растения -- геном -- расшифровка генома
Аннотация: О десяти самых значимых научных достижениях в 2009 году.


Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

 1-20    21-40   41-60   61-80   81-100   101-117 
 
Статистика
за 29.06.2024
Число запросов 50964
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)