Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска
БД "Книги"
БД "Статьи"
Труды АМГУ
Выпускные квалификационные работы
Антитеррор
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=методика определения рентгеновских деформаций<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.


   
    Рентгеновские деформации эпитаксильной пленки в случае произвольной ориентации границы раздела [Текст] / Е. М. Труханов [и др.] // Известия РАН. Серия физическая. - 2013. - Т. 77, № 9. - С. 1249-1252. - Библиогр.: c. 1252 (7 назв. ) . - ISSN 0367-6765
УДК
^a539.261
ББК 22.361
Рубрики: Физика
   Экспериментальные методы и аппаратура молекулярной физики
Кл.слова (ненормированные):
атомные плоскости -- границы раздела -- дифракционное отражение -- кривые дифракционного отражения -- методика определения рентгеновских деформаций -- ориентация границы раздела -- эпитаксильные пленки
Аннотация: Для эпитаксиальной пленки, находящейся в однородном плосконапряженном состоянии и имеющей произвольную ориентацию границы раздела, развита методика определения рентгеновских деформаций эпсилон и эпсилон[||]. Их измерение выполнено на основе кривых дифракционного отражения, которые могут быть записаны как от одной, так и от двух различных наклонных атомных плоскостей. Исследована опытная структура GeSi/Si (111).


Доп.точки доступа:
Труханов, Е. М.; Ильин, А. С.; Колесников, А. В.; Лошкарев, И. Д.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика
за 05.08.2024
Число запросов 41173
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)