Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=локализованные заряды<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.


    Атамуратов, А. Э.
    Детектирование заряда встроенного в оксидном слое МОП-транзистора, боковым С-V-измерением [Текст] / А. Э. Атамуратов, Д. У. Матрасулов, П. К. Хабибуллаев // Доклады Академии наук. - 2007. - Т. 414, N 6. - С. 761-764. - Библиогр.: с. 764 (9 назв. )
УДК
ББК 30.13
Рубрики: Техника--Техническая физика
Кл.слова (ненормированные):
нитрид кремния -- детектирование -- локализованные заряды -- область пространственного заряда -- полупроводники
Аннотация: Изучается возможность детектирования локального заряда в SiO[2]-слое МОП-транзистора простым C-V-измерением перехода исток-подложка.


Доп.точки доступа:
Матрасулов, Д. У.; Хабибуллаев, П. К.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

2.


    Одринский, А. П.
    Эффект модификации вклада термоэмиссии локализованных зарядов в релаксацию фотоотклика монокристалла TlGaSe[2] [Текст] / А. П. Одринский // Физика твердого тела. - 2020. - Т. 62, вып. 4. - С. 596-602 : 7 рис. - Библиогр. в конце ст. (29 назв.) . - ISSN 0367-3294
УДК
ББК 22.37
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

Кл.слова (ненормированные):
кристаллография в целом -- локализованные заряды -- сегнетоэлектрики-полупроводники -- слоистые кристаллы -- термоэмиссия -- фотоотклик
Аннотация: Представлены результаты исследования особенностей процессов термоэмиссии с центров локализации зарядов в электрически неоднородном кристалле TlGaSe[2].


Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : н.з. (1)
Свободны: н.з. (1)

Найти похожие

 
Статистика
за 18.09.2024
Число запросов 29052
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)