Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=легирование ионами цинка<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.


   
    Визуализация и идентификация наночастиц в Si, последовательно имплантированном ионами {64}Zn{+} и {16}О{+} [Текст] / В. В. Привезенцев [и др.] // Известия РАН. Серия физическая. - 2015. - Т. 79, № 11. - С. 1506-1513 : рис. - Библиогр.: c. 1513 (24 назв. ) . - ISSN 0367-6765
УДК
ББК 26.303
Рубрики: Геология
   Минералогия

Кл.слова (ненормированные):
кремний -- легирование ионами цинка -- наночастицы -- оксид цинка -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- сканирующая просвечивающая электронная микроскопия -- энергодисперсионная спектроскопия
Аннотация: С помощью сканирующей просвечивающей электронной микроскопии (СПЭМ) в сочетании с энергодисперсионной спектроскопией (ЭДС) и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопией (РФЭС) проведены визуализация и идентификация наночастиц (НЧ) в приповерхностном слое Si, последовательно имплантированном ионами {64}Zn{+} и {16}О{+}. После имплантации в приповерхностном слое подложки выявлено наличие аморфизованной области толщиной 150 нм и нарушенного слоя толщиной 50 нм. После отжига в нейтрально-инертной атмосфере в температурном диапазоне 600-800°C в рекристаллизованном поликристаллическом слое кремния обнаружены НЧ оксида цинка ZnO со средним размером 8. 7 нм.


Доп.точки доступа:
Привезенцев, В. В.; Куликаускас, В. С.; Шемухин, А. Н.; Трифонов, А. Ю.; Кириленко, Е. П.; Батраков, А. А.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

 
Статистика
за 12.09.2024
Число запросов 31236
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)