Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=кремниевые приборы<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.


    Гриценко, В. А.
    Структура границ раздела кремний/оксид и нитрид/оксид [Текст] / В. А. Гриценко // Успехи физических наук. - 2009. - Т. 179, N 9. - С. 921-930. : 20 рис. - Библиогр.: с. 930 (43 назв. )
ГРНТИ
УДК
ББК 22.37
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

Кл.слова (ненормированные):
атомное строение -- диэлектрики -- свойства границ -- границы раздела -- кремниевая микроэлектроника -- электрические поля -- кремниевые приборы
Аннотация: В настоящем обзоре систематизированы и обобщены современные представления об атомном строении границ раздела кремний/диэлектрик и диэлектрик/диэлектрик в структурах, которые являются основой кремниевых приборов.


Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

2.


    Гриценко, В. А.
    Электронная структура нитрида кремния [Текст] / В. А. Гриценко // Успехи физических наук. - 2012. - Т. 182, № 5. - С. 531-542 : 20 рис., 1 табл. - Библиогр.: с. 542 (34 назв.) . - ISSN 0042-1294
ГРНТИ
УДК
ББК 22.37
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

Кл.слова (ненормированные):
электронные структуры -- диэлектрики -- кремниевые приборы -- нитриды кремния -- электроны -- электрические свойства -- квантово-химические методы моделирования
Аннотация: В обзоре приведен детальный анализ электронной структуры и эффективных масс электронов и дырок в нитриде кремния. Современные квантово-химические расчеты хорошо описывают экспериментально наблюдаемый перенос заряда по связи Si-N.


Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

3.


    Роуз, А.
    Цель Fujitsu [Текст] : рассказывает испольнительный вице-призидент компании Fujitsu А. Роуз / беседу вел И. Шахнович // Электроника: наука, технология, бизнес. - 2015. - № 6. - С. 22-25 . - ISSN 1992-4178
УДК
ББК 32.85
Рубрики: Радиоэлектроника
   Электроника в целом

Кл.слова (ненормированные):
GaN-технологии -- интервью -- компании -- компании -- кремниевые приборы -- полупроводниковые приборы
Аннотация: Интервью посвящено перспективам развития компании Fujitsu, которая выступает контрактным производителем полупроводниковым приборов, причем не только кремниевых, но и по GaN-технологии.


Доп.точки доступа:
Шахнович, И. \.\; Fujitsu, компания

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : эн.ф. (1)
Свободны: эн.ф. (1)

Найти похожие

 
Статистика
за 30.06.2024
Число запросов 32244
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)