Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=кремниевые диоды<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.


    Борблик, В. Л.
    Проявление эффектов разупорядочения в избыточном туннельном токе сильно легированных кремниевых диодов [Текст] / В. Л. Борблик, Ю. М. Шварц, М. М. Шварц // Известия РАН. Серия физическая. - 2007. - Т. 71, N 8. - С. 1108-1110. . - Библиогр.: c. 1110 (11 назв. )
УДК
ББК 31.233
Рубрики: Энергетика
   Полупроводниковые материалы и изделия

Кл.слова (ненормированные):
барьеры случайные -- диоды -- кремниевые диоды -- легированные диоды -- низкие температуры -- прыжковая проводимость -- температурная зависимость -- термотуннелирование -- туннельный ток -- эффекты неупорядоченности
Аннотация: Измерена температурная зависимость прямого тока в сильно легированных кремниевых p-n-диодах при низких температурах, когда проводимость осуществляется туннелированием. В области самых низких температур наблюдалась прыжковая проводимость с переменной длиной прыжка, а в области более высоких температур - "сверхэкспоненциальная" зависимость диодного тока от температуры, которую можно объяснить термотуннелированием сквозь некие случайные потенциальные барьеры.


Доп.точки доступа:
Шварц, Ю. М.; Шварц, М. М.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

2.


   
    Метод XBIC на лабораторном источнике рентгеновского излучения [Текст] / М. В. Григорьев [и др.] // Известия РАН. Серия физическая. - 2013. - Т. 77, № 1. - С. 26-28 : рис. - Библиогр.: с. 28 (4 назв. ) . - ISSN 0367-6765
УДК
ББК 26.303 + 22.346
Рубрики: Геология
   Минералогия

   Физика

   Рентгеновские лучи. Гамма-лучи

Кл.слова (ненормированные):
барьер Шоттки -- кремниевые диоды -- лабораторные источники рентгеновского излучения -- метод XBIC -- рентгеновское излучение -- Шоттки барьер
Аннотация: В данной работе представлены результаты реализации метода тока, индуцированного сфокусированным рентгеновским пучком (XBIC - X-ray beam induced current) на лабораторном источнике. Показано, что при уменьшении размера рентгеновского зонда наряду с улучшением разрешения происходит и увеличение контраста получаемого изображения границ зерен в кристалле.


Доп.точки доступа:
Григорьев, М. В.; Фахртдинов, Р. Р.; Иржак, Д. В.; Рощупкин, Д. В.; Якимов, Е. Б.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

 
Статистика
за 11.07.2024
Число запросов 143110
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)