Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:БД "Книги" (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=источники возбуждения<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.


   
    Двухимпульсный лазерный источник возбуждения атомно-эмиссионных спектров [Текст] / Д. В. Смолин [и др. ] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2012. - Т. 78, № 1: № 1, № 1. - С. 58-61. - Библиогр.: с. 61 (7 назв. ) . - ISSN 1028-6861
УДК
ББК 24.46/48
Рубрики: Химия
   Физико-химические методы анализа

Кл.слова (ненормированные):
двухимпульсные лазерные источники возбуждения -- лазерные источники возбуждения -- источники возбуждения -- атомно-эмиссионные спектры -- возбуждение спектров -- многоканальные спектрометры -- анализаторы МАЭС -- лазерная атомно-эмиссионная спектрометрия -- атомно-эмиссионная спектрометрия -- абляция -- интенсивность спектральных линий
Аннотация: Описан двухимпульсный лазерный источник возбуждения атомно-эмиссионных спектров, обеспечивающий возможность проведения анализа твердых проб любого типа - металлов, минералов, стекол и других с использованием многоканальных спектрометров с анализаторами МАЭС.


Доп.точки доступа:
Смолин, Д. В.; Лабусов, В. А.; Гаранин, В. Г.; Кузнецов, С. Н.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

2.


    Отмахов, В. И.
    Оптимизация условий проведения атомно-эмиссионного спектрального анализа порошковых проб сложного состава на графитовой основе [Текст] / В. И. Отмахов, Е. В. Петрова // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2012. - Т. 78, № 1: № 1, № 1. - С. 82-85. - Библиогр.: с. 85 (6 назв. ) . - ISSN 1028-6861
УДК
ББК 24.46/48
Рубрики: Химия
   Физико-химические методы анализа

Кл.слова (ненормированные):
атомно-эмиссионный спектральный анализ -- спектральный анализ -- порошковые пробы сложного состава -- порошковые пробы на графитовой основе -- источники возбуждения -- программное обеспечение -- многоканальные анализаторы эмиссионных спектров -- анализаторы МАЭС -- метрологические модели -- методики спектрального анализа -- качество измерений -- метрологическая корректировка
Аннотация: Исследованы и описаны различные режимы спектрального анализа порошковых проб на графитовой основе.


Доп.точки доступа:
Петрова, Е. В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

 
Статистика
за 18.08.2024
Число запросов 9304
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)