Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=интерференционные микроскопы<.>)

Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2

Методика измерений формы поверхности вращения на интерференционном микроскопе "Talysurf CCI 2000" [Текст] / А. А. Ахсахалян [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2011. - Т. 75, N 1. - С. 102-105. . - Библиогр.: c. 105 (3 назв. )

УДК

^a621.793.164

ББК 34.64
Рубрики: Машиностроение
Соединения деталей машин
Кл.слова (ненормированные):
Talysurf CCI 2000 -- дифференциальные профилометры -- интерференционные микроскопы -- интерферометры белого света -- Киркпатрика-Байеза скрещенные системы -- методы измерения формы поверхности -- многослойные зеркала -- оптические стенды -- сканирующие микроскопы -- скрещенные системы Киркпатрика-Байеза -- форма эллипсоида вращения
Аннотация: Представлена методика измерений формы поверхности эллипсоида вращения на сканирующем интерференционном микроскопе белого света "Talysurf CCI 2000".

Доп.точки доступа:
Ахсахалян, А. А.; Ахсахалян, А. Д.; Зорина, М. В.; Харитонов, А. И.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Послойный анализ многослойных металлических структур Pd/B[4]C, Ni/C, Cr/Sc методом ВИМС с использованием кластерных вторичных ионов: проблема повышения разрешения по глубине [Текст] / М. Н. Дроздов [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2011. - Т. 75, N 1. - С. 106-110. . - Библиогр.: с. 110 (8 назв. )

УДК

^a539.216.2:543.51

ББК 22.37
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
вторично-ионная масс-спектрометрия -- интерференционные микроскопы -- матричные эффекты -- металлические пленки -- многослойные структуры -- электронная оже-спектроскопия -- элементный состав
Аннотация: Исследуется возможность минимизации матричных эффектов при послойном анализе многослойных металлических структур методом ВИМС, основанная на использовании кластерных вторичных ионов, включающих комбинацию анализируемого элемента и распыляющих ионов цезия либо кислорода.

Доп.точки доступа:
Дроздов, М. Н.; Дроздов, Ю. Н.; Барышева, М. М.; Полковников, В. Н.; Чхало, Н. И.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 01.07.2024
Число запросов	1377
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)