Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=зондовые микроскопы<.>)
Общее количество найденных документов : 10
Показаны документы с 1 по 10
1.


    Серков, А. Т.
    Нанотехнологии и химические волокна [Текст] / А. Т. Серков, М. Б. Радишевский // Химические волокна. - 2008. - N 1. - С. 26-30. - Библиогр.: с. 30 (9 назв. )
УДК
ББК 37.2 + 37.2
Рубрики: Производства легкой промышленности
   Общие вопросы производства легкой промышленности

Кл.слова (ненормированные):
текстильное производство -- формирование волокон -- нанотехнологии -- микроскопическая техника -- сканирующие зондовые микроскопы -- сканирующие микроскопы -- зондовые микроскопы -- нанотрубки -- нанотрубчатые нити -- нанообработка -- технология "сверху - вниз" -- сверху - вниз (технология) -- технология "снизу - вверх" -- снизу - вверх (технология)
Аннотация: Рассмотрены особенности нанотехнологий и возможность их применения в исследовательской и производственной практике в области химических волокон.


Доп.точки доступа:
Радишевский, М. Б.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

2.


    Соколов, Д. Ю. (рук. патентной службы ЗАО "Нанотехнология-МДТ").
    Особенности патентования объектов нанотехнологии [Текст] / Д. Ю. Соколов // Патенты и лицензии. - 2008. - N 6. - С. 14-19 : Ил.: 1 фото. - Библиогр. в сносках
УДК
ББК 67.404.3
Рубрики: Правовая охрана интеллектуальной собственности
   Право

Кл.слова (ненормированные):
интеллектуальная собственность -- патенты -- нанотехнологии -- зондовые микроскопы
Аннотация: В статье делается попытка обобщить более чем десятилетний опыт патентования фирмой объектов нанотехнологии и, в частности, зондовой микроскопии.


Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : пат. (1)
Свободны: пат. (1)

Найти похожие

3.


    Сердюков, О.
    Видит атомы [Текст] / О. Сердюков // Изобретатель и рационализатор. - 2009. - N 1. - С. 8-9. : 2 фот.
УДК
ББК 32.85
Рубрики: Радиоэлектроника
   Электроника в целом

Кл.слова (ненормированные):
микроскопы -- нанотехнологии -- атомы -- зондовые микроскопы -- сканирующие микроскопы
Аннотация: Сканирующий микроскоп предназначен для лабораторий, учебных и научных центров, занимающихся нанотехнологиями в любых отраслях науки и промышленности.


Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : пат. (заказ статей по ЭДД) (1)
Свободны: пат. (заказ статей по ЭДД) (1)

Найти похожие

4.


    Быков, В.
    Продвижение в глубь материи [Текст] / Виктор Быков // Наука в России. - 2008. - N 6. - С. 15-20. : 7 фот.
УДК
ББК 22.3с
Рубрики: Физика
   Физические приборы и методы физического эксперимента

Кл.слова (ненормированные):
зондовые микроскопы -- измерительное оборудование -- микроскопы зондовые -- микроскопы туннельные -- наноматериалы -- оборудование измерительное -- туннельные микроскопы
Аннотация: Компания "Нанотехнология-МТД", начавшая свою работу с разработок сканирующих туннельных микроскопов, сегодня производит уже четыре модельных ряда сложного измерительного оборудования, позволяющего делать принципиально новые шаги практически во всех областях нанотехнологий.


Доп.точки доступа:
Нанотехнология-МТД; НТ-МТД

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

5.


    Андреюк, Д.
    "Оскар" - зондовому микроскопу [Текст] / Денис Андреюк // Наука в России. - 2010. - N 2. - С. 34-36 : 3 фот. . - ISSN 0869-706Х
УДК
ББК 22.338
Рубрики: Физика
   Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях

Кл.слова (ненормированные):
автоматизированные микроскопы -- зондовые микроскопы -- конкурсы -- микроскопы -- премии
Аннотация: Автоматизированный зондовый микроскоп - производства российской компании "НТ-МДТ", по результатам конкурса получил премию и вошел в список 100 лучших мировых разработок.


Доп.точки доступа:
НТ-МТД, компания

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

6.


    Маловичко, И. М.
    Применение фазокомпенсирующего метода обратной динамики для увеличения скорости сканирования зондового микроскопа [Текст] / И. М. Маловичко, А. Ю. Остащенко, С. И. Леесмент // Известия РАН. Серия физическая. - 2011. - Т. 75, N 1. - С. 14-17. . - Библиогр.: с. 17 (7 назв. )
УДК
ББК 22.3
Рубрики: Физика
   Общие вопросы физики

Кл.слова (ненормированные):
быстрое преобразование Фурье -- зондовые микроскопы -- метод восстановления изображения -- метод упреждающего управления -- сканирующая зондовая микроскопия -- скорость сканирования -- фазокомпенсирующий метод обратной динамики -- Фурье быстрое преобразование
Аннотация: В статье рассматривается проблема низкой скорости сканирования зондового микроскопа.


Доп.точки доступа:
Остащенко, А. Ю.; Леесмент, С. И.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

7.


    Гурьянов, Александр.
    Мобильный микроскоп [Текст] / Александр Гурьянов // Наука и жизнь. - 2011. - N 4. - С. 27. : 1 фот.
УДК
ББК 30.10
Рубрики: Техника
   Метрология

Кл.слова (ненормированные):
зондовые микроскопы -- мобильные микроскопы -- микроскопы -- износ оборудования -- износ материалов
Аннотация: Отечественные специалисты создали мобильный зондовый микроскоп, с помощью которого можно производить оценку остаточного ресурса оборудования и материалов в полевых условиях.


Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

8.


    Быков, Виктор Александрович (доктор технических наук).
    Наука не делится на "свою" и "чужую" [Текст] / Виктор Александрович Быков ; беседу вела Елена Вешняковская // Наука и жизнь. - 2011. - N 9. - С. 16-24. : 1 фот.
УДК
ББК 30.10
Рубрики: Техника
   Метрология

Кл.слова (ненормированные):
беседы -- интервью -- зондовые микроскопы -- микроскопы -- сканирующие микроскопы -- сканирующие зондовые микроскопы -- нанотехнологии -- высокотехнологические компании
Аннотация: Беседа с доктором технических наук, президентом Нанотехнологического общества, директором компании "МТ-НДТ" Виктором Александровичем Быковым о работе компании, имеющей вторую по величине долю мирового рынка в своем сегменте - сканирующих зондовых микроскопов.


Доп.точки доступа:
Вешняковская, Елена \.\

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

9.


    Андреюк, Денис (кандидат биологических наук).
    Микроскопия от "увидеть" до "потрогать" [Текст] / Денис Андреюк, Елена Вешняковская // Наука и жизнь. - 2011. - N 9. - С. 24-30. : 2 фот., 1 рис.
УДК
ББК 30.10
Рубрики: Техника
   Метрология

Кл.слова (ненормированные):
история микроскопов -- микроскопы -- микроскопия -- сканирующие микроскопы -- сканирующие зондовые микроскопы -- зондовые микроскопы -- световые микроскопы -- электронные микроскопы -- оптические микроскопы
Аннотация: История создания микроскопа.


Доп.точки доступа:
Вешняковская, Елена

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

10.


   
    Один атом на острие [Текст] / материал подгот. Лариса Аксенова // Наука и жизнь. - 2013. - № 1. - С. 34-36 . - ISSN 0028-1263
УДК
ББК 30.10
Рубрики: Техника
   Метрология

Кл.слова (ненормированные):
измерительные приборы -- электронные микроскопы -- микроскопы -- зондовые микроскопы
Аннотация: Статья посвящена усовершенствованному средству измерения - электронному микроскопу.


Доп.точки доступа:
Аксенова, Лариса \.\

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

 
Статистика
за 29.06.2024
Число запросов 50763
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)