Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=двойные силицидные эвтектики<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.


    Гнесин, И. Б.
    Исследование влияния примеси углерода на микротвердость, химический и фазовый составы двойных силицидных эвтектик Me[5]Si[3]-MeSi[2] системы Mo-W-Si на литых образцах [Текст] / И. Б. Гнесин, Б. А. Гнесин, А. Н. Некрасов // Материаловедение. - 2008. - N 8. - С. 21-29
УДК
ББК 34.2
Рубрики: Технология металлов
   Металловедение в целом

Кл.слова (ненормированные):
углерод -- микротвердость сплавов -- двойные силицидные эвтектики -- тугоплавкие металлы -- мелкодисперсный карбид кремния -- силициды -- молибден -- вольфрам
Аннотация: Исследованы сплавы, соответствующие линии двойных эвтектик системы Mo-W-Si, с различным соотношением W и Mo, различающиеся по условиям получения концентраций примеси углерода.


Доп.точки доступа:
Гнесин, Б. А.; Некрасов, А. Н.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

2.


    Гнесин, Б. А.
    Исследование влияния примеси углерода в литых силицидных эвтектиках Me[5]Si[3]-MeSi[2] системы Mo-W-Si с помощью рентгеновских методов [Текст] / Б. А. Гнесин, И. Б. Гнесин // Материаловедение. - 2009. - N 1. - С. 14-23.
УДК
ББК 30.3
Рубрики: Техника
   Материаловедение

Кл.слова (ненормированные):
углерод -- силициды -- молибден -- вольфрам -- силициды твердых растворов -- композиционные материалы -- защитные покрытия -- плавление силицидов -- двойные силицидные эвтектики
Аннотация: С увеличением содержания углерода линии гексагональных фаз заметны и при 100% (ат. ) относительного содержания W в силицидах. В более чистых по углероду образцах фаза Новотного при 100% (ат. ) относительного содержания W не выявлена.


Доп.точки доступа:
Гнесин, И. Б.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

3.


    Гнесин, Б. А.
    Сравнение элементного состава с помощью масс-спектроскопии вторичных ионов образцов силицидных эвтектик (Mo, W) [5]Si[3] + (Mo, W) Si[2] [Текст] / Б. А. Гнесин, И. Б. Гнесин, Е. А. Фролова // Материаловедение. - 2010. - N 11. - С. 18-27.
УДК
ББК 24.12 + 24.46/48
Рубрики: Химия
   Химические элементы и их соединения

   Физико-химические методы анализа

Кл.слова (ненормированные):
эвтектики -- силицидные эвтектики -- двойные силицидные эвтектики -- молибден -- вольфрам -- силициды -- углерод в силицидах -- анализ содержания примесей -- масс-спектроскопия -- вторичные ионы -- масс-спектроскопия вторичных ионов -- алмазные порошки -- изотопы -- поликристаллы -- примеси
Аннотация: Метод масс-спектроскопии вторичных ионов (SIMS) потенциально пригоден для анализа малых концентраций примесей таких элементов, как H, B, C, O, N, F. Принципиальной проблемой метода SIMS является трудность получения количественных данных о реальных концентрациях.


Доп.точки доступа:
Гнесин, И. Б.; Фролова, Е. А.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

 
Статистика
за 29.06.2024
Число запросов 51111
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)