Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

Найдено в других БД:

БД "Книги" (1)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=вторичные электроны<.>)

Общее количество найденных документов : 5
Показаны документы с 1 по 5

Евстафьева, Е. Н.
Некоторые аспекты кинетики зарядки диэлектрических мишеней электронными пучками с энергией 1-50 кэВ [Текст] / Е. Н. Евстафьева, Э. И. Рау, Р. А. Сеннов // Известия РАН. Серия физическая. - 2008. - Т. 72, N 11. - С. 1577-1582. : рис. - Библиогр.: c. 1582 (13 назв. )

УДК

^a539.227

^a621.385.833

ББК 22.37 + 32.851
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом
   Радиоэлектроника
   Электровакуумные приборы
Кл.слова (ненормированные):
экспериментальные исследования -- электронно-эмиссионные характеристики -- диэлектрические мишени -- электронное облучение -- кинетическая модель зарядки -- вторичные электроны -- отраженные электроны
Аннотация: Экспериментально исследованы электронно-эмиссионные характеристики диэлектриков в процессе их облучения электронными пучками средних энергий с плотностью тока порядка 10{-5} A x см{-2}.

Доп.точки доступа:
Рау, Э. И.; Сеннов, Р. А.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Методические аспекты электронно-зондовых исследований процессов зарядки диэлектрических мишеней [Текст] / Е. Н. Евстафьева [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2010. - Т. 74, N 7. - С. 1020-1028. . - Библиогр.: c. 1028 (25 назв. )

УДК

^a621.385.833

ББК 32.851
Рубрики: Радиоэлектроника
Электровакуумные приборы
Кл.слова (ненормированные):
вторичные электроны -- диэлектрические мишени -- зарядка диэлектриков -- отраженные электроны -- поляризованные окситоны -- тормозное рентгеновское излучение -- электронно-зондовые исследования -- электронные пучки
Аннотация: На примере типичного диэлектрика Al[2]O[3] исследованы основные характеристики процесса зарядки диэлектрических мишеней электронными пучками средних энергий. На основе расчетных модельных представлений и экспериментальных данных предложен новый гипотетический сценарий процесса зарядки диэлектриков, основанный на уменьшении тока вторичной эмиссии электронов вследствие эффекта образования поляризованных экситонов в положительном слое заряжающейся мишени.

Доп.точки доступа:
Евстафьева, Е. Н.; Плиес, Э.; Рау, Э. И.; Сеннов, Р. А.; Татаринцев, А. А.; Фрейнкман, Б. Г.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Мельников, А. А.
Анализ коэффициента сборки низковольтного РЭМ [Текст] / А. А. Мельников, О. Д. Потапкин // Известия РАН. Серия физическая. - 2010. - Т. 74, N 7. - С. 1052-1055. : Рис. - Библиогр.: c. 1055 (9 назв. )

УДК

^a557.533

ББК 22.338
Рубрики: Физика
Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях
Кл.слова (ненормированные):
вторичные траектории -- вторичные электроны -- движение электронов -- детекторы Эверхарта-Торнли -- низковольтные РЭМ -- отраженные электроны -- растровые электронные микроскопы -- Эверхарта-Торнли детекторы -- электростатические детекторы
Аннотация: Проводится анализ сбора электронов полем электростатических детекторов, расположенных над объективной линзой низковольтного РЭМ. Ускоряющее первичный пучок поле над объективной линзой является полем электростатического зеркала для вторичных и отраженных электронов. Анализируются вопросы движения вторичных и отраженных электронов.

Доп.точки доступа:
Потапкин, О. Д.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

О подготовке поверхности при диагностике магнитных структур [Текст] / С. А. Гусев [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2011. - Т. 75, N 1. - С. 34-38. : рис. - Библиогр.: с. 38 (10 назв. )

УДК

^a543

ББК 24.46/48
Рубрики: Химия
Физико-химические методы анализа
Кл.слова (ненормированные):
вторичные электроны -- детектор Мотта -- диагностика -- метод SEMPA -- Мотта детектор -- очистка поверхностей -- плазменная очистка -- поверхности -- полимерные загрязнения -- сканирующая электронная микроскопия -- спиновая поляризация -- травление низкоэнергетичными ионами аргона
Аннотация: Экспериментально изучено влияние применения плазменной очистки на состояние поверхности образцов, исследуемых методом электронной микроскопии.

Доп.точки доступа:
Гусев, С. А.; Грибков, Б. А.; Дроздов, М. Н.; Петров, В. Н.; Скороходов, Е. В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Потапкин, О. Д.
Анализ коэффициента сбора РЭМ [Текст] / О. Д. Потапкин, А. А. Мельников // Известия РАН. Серия физическая. - 2012. - Т. 76, № 9. - С. 1099-1102. - Библиогр.: c. 1102 (9 назв. ) . - ISSN 0367-6765

УДК

^a537.533

ББК 22.338
Рубрики: Физика
Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях
Кл.слова (ненормированные):
вторичные электроны -- детекторы Эверхарта-Торнли -- Дирихле задача -- задача Дирихле -- отраженные электроны -- парно-симметричные детекторы -- растровая электронная микроскопия -- численные методы -- Эверхарта-Торнли детекторы
Аннотация: Решена задача Дирихле для расчета электростатического поля парно-симметричных детекторов Эверхарта-Торнли, расположенных под полюсным наконечником объективной линзы. Численными методами найдены траектории вторичных и отраженных электронов. Построены диаграммы эффективности сбора для разных значений отношения длины рабочего отрезка к диаметру полюсного наконечника. Результаты полезны при проведении линейных измерений наноразмерных структур.

Доп.точки доступа:
Мельников, А. А.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 11.07.2024
Число запросов	157915
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)