Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=РОР<.>)

Общее количество найденных документов : 5
Показаны документы с 1 по 5

Лукашевский, М. В.
Электронная спектроскопия покрытий, полученных способом микродугового оксидирования [Текст] / М. В. Лукашевский, С. Д. Федорович, А. В. Лубенченко // Вестник Московского энергетического института. - 2007. - N 2. - С. 132-136. - Библиогр.: с. 136

УДК

^a53

ББК 22.3
Рубрики: Физика
Кл.слова (ненормированные):
электронная спектроскопия -- микродуговое оксидирование -- тонкие покрытия -- имитационное моделирование -- РОР -- резерфордовское обратное рассеяние
Аннотация: Представлен метод спектроскопии отраженных электронов, применяемый для анализа тонких покрытий, полученных способом микродугового оксидирования.

Доп.точки доступа:
Федорович, С. Д.; Лубенченко, А. В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : эн.ф. (1)
Свободны: эн.ф. (1)

Найти похожие

Измерение элементного состава углеродных и композиционных керамических материалов методами ИПРИ и РОР [Текст] / В. С. Авилкина [и др. ] // Физика и химия обработки материалов. - 2011. - N 1. - С. 51-54.

УДК

^a621:620.22

ББК 34.43
Рубрики: Машиностроение
Машиностроительные материалы и изделия
Кл.слова (ненормированные):
протонно-индуцированное рентгеновское излучение -- резерфордовское обратное рассеяние -- керамические покрытия -- микродуговое оксидирование -- никелид титана -- пиролитический графит
Аннотация: Методами спектрометрии ИПРИ и РОР исследован элементный состав керамического покрытия на Zr сплаве, поверхностных слоев никелида титана после термообработки и пиролитического графита после высокодозовой имплантации ионами Ar. Показано, что методы ИПРИ и РОР дополняют друг друга, и их совместное применение позволяет получать дополнительную информацию об элементном составе поверхностных слоев. Установлено, что при микродуговом оксидировании сплава Zr в электролите с добавками ультрадисперсных порошков происходит внедрение Y в материал подложки. После термообработки сплава обнаружен эффект поверхностной сегрегации Ti.

Доп.точки доступа:
Авилкина, В. С.; Борисов, А. М.; Владимиров, Б. В.; Петухов, В. П.; Черных, П. Н.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Состав и нанотвердость покрытий на Si, полученных методом ионно-ассистированного осаждения [Текст] / И. С. Ташлыков [и др. ] // Физика и химия обработки материалов. - 2011. - N 1. - С. 66-70.

УДК

^a621.78

ББК 34.65
Рубрики: Машиностроение
Упрочнение металлов
Кл.слова (ненормированные):
кремний -- композиционный состав покрытий -- метод ионно-ассистированного осаждения -- ионно-ассистированные осаждения -- нанотвердость покрытий -- метод резерфордовского обратного рассеяния -- резерфордовское обратное рассеяние -- метод РОР -- титан -- молибден
Аннотация: Методом резерфордовского обратного рассеяния c компьютерным моделированием экспериментальных спектров исследован композиционный состав покрытий C, Ti, Zr и Mo на Si, полученных методом ионно-ассистированного осаждения. Показано, что в состав покрытий кроме основного компонента входят элементы остаточной атмосферы вакуумной камеры (C, H, O) и Si из подложки. Нанотвердость тонкого (50 нм) поверхностного слоя покрытий в 3-9 раз выше, чем исходного кремния.

Доп.точки доступа:
Ташлыков, И. С.; Барайшук, С. М.; Тульев, В. В.; Гременок, В. Ф.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Диагностика наноразмерных сегнетоэлектрических пленок на полупроводниковых и диэлектрических подложках методом РОР-спектроскопии [Текст] / М. С. Афанасьев [и др.] // Наноматериалы и наноструктуры. - 2011. - № 3. - С. 50-56. - Библиогр.: с. 56 (13 назв.)

УДК

^a544

ББК 24.5
Рубрики: Химия
Физическая химия в целом
Кл.слова (ненормированные):
сегнетоэлектрические пленки -- наноматериалы -- оксид магния -- ионо-пучковая диагностика -- резерфордовское обратное рассеяние -- перовскит
Аннотация: Определена толщина наноразмерных сегнетоэлектрических пленок на подложках, степень их элементной неоднородности по толщине, а также степень их диффузионного загрязенения атомами подложек.

Доп.точки доступа:
Афанасьев, М. С.; Егоров, В. К.; Чучева, Г. В.; Лучников, П. А.; Буров, А. В.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Федоров, С.
Микросхемы РоР [Текст] : практический опыт монтажа / С. Федоров // Электроника: наука, технология, бизнес. - 2012. - № 8. - С. 124-127 . - ISSN 1992-4178

УДК

^a621.37/.39

ББК 32
Рубрики: Радиоэлектроника
Радиоэлектроника в целом
Кл.слова (ненормированные):
микросхемы -- поверхностный монтаж -- РоР -- печатные платы -- тестовые платы
Аннотация: Одна из современных технологий поверхностного монтажа х установка микросхем друг на друга (РоР). так же как и большинство новых технологий, освоение этого метода монтажа требует проведения некоторого количества проб и испытаний. При правильно подобранном оборудовании и отлаженных процессах монтажа и тестирование готовых изделий метод РоР можно применять на практике.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : эн.ф. (1)
Свободны: эн.ф. (1)

Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 11.07.2024
Число запросов	159900
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)