Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=Микроскопический анализ<.>)

Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3

Nazmitdinov, R. G.
Microscopic analysis of wobbing excitations in {156}Dy and {162}Yb [Text] / R. G. Nazmitdinov, J. Kvasil // Журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2007. - Т. 132, вып: вып. 5. - С. 1100-1120. - Библиогр.: с. 1120

УДК

^a530.1

ББК 22.31
Рубрики: Физика
Теоретическая физика
Кл.слова (ненормированные):
Возбуждения -- Лантаноиды -- Диспрозий -- Спины -- Колеблющиеся возбуждения -- Микроскопический анализ -- Иттербий

Доп.точки доступа:
Kvasil, J.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Микроскопический анализ энергетической зависимости полных сечений реакций {6}He, {6}Li + {28}Si в диапазоне Е= (5-50) А. МэВ [Текст] / К. В. Лукьянов [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2008. - Т. 72, N 3. - С. 382-386. - Библиогр.: c. 386 (16 назв. )

УДК

^a539.17.01

ББК 22.38
Рубрики: Физика
Ядерная физика в целом
Кл.слова (ненормированные):
энергетическая зависимость -- микроскопический анализ -- полные сечения реакций -- двойной фолдинг -- экспериментальные данные -- кулоновский потенциал -- полумикроскопические потенциалы -- нуклон-нуклонные силы
Аннотация: Представлены экспериментальные данные полных сечений реакций {6}He, {6}Li + {28}Si в диапазоне Е= (5-50) А. МэВ.

Доп.точки доступа:
Лукьянов, К. В.; Земляная, Е. В.; Лукьянов, В. К.; Кухтина, И. Н.; Пенионжкевич, Ю. Э.; Соболев, Ю. Г.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Влияние тонких диэлектрических пленок на электронную эмиссию и устойчивость плазмо-поверхностного контакта [Текст] / К. М. Гуторов [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2010. - Т. 74. N 2. - С. 208-211 : Рис. - Библиогр.: c. 211 (7 назв. ) . - ISSN 0367-6765

УДК

^a538.971

ББК 22.3
Рубрики: Физика
Общие вопросы физики
Кл.слова (ненормированные):
вольт-амперные характеристики -- диэлектрические пленки -- микроскопический анализ -- плазменные колебания -- плазмо-поверхностные контакты -- поверхности -- пучково-плазменные разряды -- сплав Д16 -- сплав Х18Н10Т -- толстые пленки -- тонкие пленки -- электронная эмиссия
Аннотация: Приведены результаты микроскопического анализа диэлектрических пленок на поверхности контактирующих с плазмой электродов. Показано, что тонкие пленки (4-10 нм) вызывают неустойчивости протекания тока и приводят к самовозбуждению колебаний в плазме, а толстые пленки (более 50 нм) подвержены пробоям, сопровождающимся испарением материала пленки.

Доп.точки доступа:
Гуторов, К. М.; Визгалов, И. В.; Маркина, Е. А.; Курнаев, В. А.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 10.07.2024
Число запросов	148937
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)