Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска
БД "Книги"
БД "Статьи"
Труды АМГУ
Выпускные квалификационные работы
Антитеррор
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=Джонса нормированная матрица<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.


    Швец, В. А.
    Измерение нормированной матрицы Джонса анизотропных образцов методом статической эллипсометрии [Текст] / В. А. Швец, Е. В. Спесивцев, С. В. Рыхлицкий // Оптика и спектроскопия. - 2008. - Т. 105, N 4. - С. 689-695.
УДК
^a535.5
ББК 22.34
Рубрики: Физика
   Оптика в целом
Кл.слова (ненормированные):
эллипсометрические измерения -- статическая эллипсометрия -- анизотропные образцы -- нормированная матрица Джонса -- Джонса нормированная матрица
Аннотация: Рассмотрены функциональные возможности статической фотометрической схемы эллипсометрических измерений, предложенной ранее, применительно к анизотропным отражающим объектам. Комбинации различных положений оптических элементов, а также добавление к двум используемым положениям поляризатора P = плюс минус45 градусов новых рабочих положений P = 0 градусов, 90 градусов позволили получить 24 уравнения для определения нормированной матрицы Джонса анизотропного образца.


Доп.точки доступа:
Спесивцев, Е. В.; Рыхлицкий, С. В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика
за 10.09.2024
Число запросов 24710
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)