Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=эллипсометрические измерения<.>)

Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4

Швец, В. А.
Измерение нормированной матрицы Джонса анизотропных образцов методом статической эллипсометрии [Текст] / В. А. Швец, Е. В. Спесивцев, С. В. Рыхлицкий // Оптика и спектроскопия. - 2008. - Т. 105, N 4. - С. 689-695.

УДК

^a535.5

ББК 22.34
Рубрики: Физика
Оптика в целом
Кл.слова (ненормированные):
эллипсометрические измерения -- статическая эллипсометрия -- анизотропные образцы -- нормированная матрица Джонса -- Джонса нормированная матрица
Аннотация: Рассмотрены функциональные возможности статической фотометрической схемы эллипсометрических измерений, предложенной ранее, применительно к анизотропным отражающим объектам. Комбинации различных положений оптических элементов, а также добавление к двум используемым положениям поляризатора P = плюс минус45 градусов новых рабочих положений P = 0 градусов, 90 градусов позволили получить 24 уравнения для определения нормированной матрицы Джонса анизотропного образца.

Доп.точки доступа:
Спесивцев, Е. В.; Рыхлицкий, С. В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Швец, В. А.
Анализ оптически неоднородных слоев методом in situ эллипсометрии [Текст] / В. А. Швец // Оптика и спектроскопия. - 2010. - Т. 108, № 3. - С. 1042-1048. - Библиогр.: с. 1048 (11 назв. ) . - ISSN 0030-4034

УДК

^a535.2/.3

ББК 22.343
Рубрики: Физика
Физическая оптика
Кл.слова (ненормированные):
эллипсометрические измерения -- эллипсометрические параметры -- численное моделирование -- эллипсометрия -- поляризованный свет -- оптически неоднородные слои
Аннотация: Рассмотрена задача анализа и обработки данных in situ эллипсометрических измерений, полученных при выращивании слоев на оптически неоднородных и многослойных структурах.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Особенности интерпретации результатов эллипсометрических измерений [Текст] / А. А. Тихий [и др.] // Оптика и спектроскопия. - 2012. - Т. 112, № 2. - С. 329-334 : граф. - Библиогр.: с. 333-334 (6 назв.) . - ISSN 0030-4034

УДК

^a535.2/3

^a53.07

ББК 22.343 + 22.3с
Рубрики: Физика
Физическая оптика
Физические приборы и методы физического эксперимента
Кл.слова (ненормированные):
Малина-Ведама метод -- алмазоподобные пленки -- метод Малина-Ведама -- методы решения обратных задач -- минимизационные методы -- обратные задачи -- тонкослойные покрытия -- эллипсометрические измерения -- эллипсометрия
Аннотация: Предложены модификации распространенных методов решения обратной задачи эллипсометрии метода Малина-Ведама и минимизационного метода. Описаны области и особенности их применения.

Доп.точки доступа:
Тихий, А. А.; Грицких, В. А.; Кара-Мурза, С. В.; Николаенко, Ю. М.; Жихарев, И. В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Ближний порядок в аморфном и кристаллическом сегнетоэлектрическом Hf[0.5]Zr[0.5]O[2] [Текст] / С. Б. Эренбург [и др.] // Журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2018. - Т. 153, вып. 6. - С. 982-991. - Библиогр. в конце статьи . - ISSN 0044-4510

УДК

^a530.1

ББК 22.31
Рубрики: Физика
Теоретическая физика
Кл.слова (ненормированные):
EXAFS-спектры -- аморфные пленки -- пленки -- поликристаллические пленки -- рентгеновская спектроскопия -- синтез пленок -- эллипсометрические измерения
Аннотация: Методами рентгеновской спектроскопии и эллипсометрии исследована микроструктура аморфных и поликристаллических сегнетоэлектрических пленок Hf[0. 5]Zr[0. 5]O[2].

Доп.точки доступа:
Эренбург, С. Б.; Трубина, С. В.; Квашнина, К. О.; Кручинин, В. Н.; Гриценко, В. В.; Черникова, А. Г.; Маркеев, А. М.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 31.07.2024
Число запросов	109836
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)