Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска
БД "Книги"
БД "Статьи"
Труды АМГУ
Выпускные квалификационные работы
Антитеррор
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=тонкопленочные образцы<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.


   
    Диэлектрические потери тонкопленочных образцов SiO[2] на Al в THz-IR-диапазоне [Текст] / Г. А. Командин, В. С. Ноздрин, А. А. Пронин [и др.] // Физика твердого тела. - 2020. - Т. 62, вып. 2. - С. 223-228 : 5 рис., 2 табл. - Библиогр. в конце ст. (28 назв.) . - ISSN 0367-3294
УДК
^a537.311.33
ББК 22.379
Рубрики: Физика
   Физика полупроводников и диэлектриков
Кл.слова (ненормированные):
Al-подложка -- диэлектрическая спектроскопия -- диэлектрические потери -- спектрометры -- терагерцовый диапазон -- тонкопленочные образцы
Аннотация: Методами терагерцовой и IR-спектроскопии изучаются диэлектрические потери тонкопленочных образцов SiO[2] на Al-подложке.


Доп.точки доступа:
Командин, Г. А.; Ноздрин, В. С.; Пронин, А. А.; Породинков, О. Е.; Анзин, В. Б.; Спектор, И. Е.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : н.з. (1)
Свободны: н.з. (1)

Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика
за 20.08.2024
Число запросов 34973
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)