Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=стеклянные оболочки<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.


   
    Механизм удаления стеклянной оболочки с "толстого" аморфного провода из Со-сплава, полученного методом Улитовского-Тейлора [Текст] / П. П. Умнов [и др.] // Физика и химия обработки материалов. - 2012. - № 4. - С. 78-83 . - ISSN 0015-3214
УДК
ББК 34.2
Рубрики: Технология металлов
   Металловедение в целом

Кл.слова (ненормированные):
аморфные проводы -- стеклянные оболочки -- оптическая электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- метод Улитовского-Тейлора -- Улитовского-Тейлора метод -- цилиндрические инструменты -- пластическая деформация -- модельные Со-сплавы
Аннотация: Методами оптической и растровой электронной микроскопии изучен механизм удаления стеклянной оболочки с толстого (D=96 мкм) аморфного провода из модельного Со-сплава, полученного методом Улитовского-Тейлора. Показано, что механизм разрушения и удаления стеклянной оболочки при протягивании провода через цилиндрический инструмент с твердым шероховатым покрытием определяется типом и уровнем напряжений, действующих в аморфной металлической жиле. Напряжения, возникающие в продольном направлении из-за различия коэффициентов линейного расширения металла и стекла, обеспечивают легкое скалыванию длинных (5-15 диаметров провода) кусков стеклянной оболочки. Локальные напряжения, возникающие при изгибе провода даже упругой области, способствуют эффективному разрушению оставшихся небольших участков стекла оболочки по направлениям предпочтительного формирования полос сдвига. Высокие изгибные напряжения, возникающие при пластической деформации аморфной металлической жилы, повышают эффективность удаления стеклянной оболочки, но приводят к снижению механических и магнитных свойств металлической жилы за счет образования и роста сетки полос сдвига.


Доп.точки доступа:
Умнов, П. П.; Стегнухин, А. А.; Лавренюк, А. В.; Петракова, Н. В.; Умнова, Н. В.; Молоканов, В. В.; Заболотный, В. Т.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

2.


   
    Низкотемпературные магнитные свойства аморфного ферромагнитного микропровода из сплава Fe-Si-B в стеклянной оболочке и без нее [Текст] / И. А. Барабан [и др.] // Физика твердого тела. - 2018. - Т. 60, вып. 6. - С. 1147-1151 : 4 рис. - Библиогр. в конце ст. (23 назв.) . - ISSN 0367-3294
УДК
ББК 22.373
Рубрики: Физика
   Электрические и магнитные свойства твердых тел--Россия--Дагестан--Махачкала, 2017 г.

Кл.слова (ненормированные):
Fe-Si-B -- Улитовского - Тейлора метод -- аморфные ферромагнитные микропроводы -- конференции -- международные конференции -- метод Улитовского - Тейлора -- микропроводы -- стеклянные оболочки -- ферромагнитные микропроводы
Аннотация: Представлены результаты исследования низкотемпературных магнитных свойств микропроводов, изготовленных методом Улитовского - Тейлора из сплава Fe-Si-B.


Доп.точки доступа:
Барабан, И. А.; Емельянов, А. В.; Медведская, П. Н.; Родионова, В. В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

 
Статистика
за 01.07.2024
Число запросов 56029
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)