Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=сканирующий туннельный микроскоп<.>)
Общее количество найденных документов : 5
Показаны документы с 1 по 5
1.


    Антоненко, С. В.
    Изучение нанотрубок с помощью сканирующего туннельного микроскопа [Текст] / С. В. Антоненко, О. С. Малиновская, С. Н. Мальцев // Журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2007. - Т. 132, N 1. - С. 230-232. - Библиогр.: с. 232
УДК
ББК 22.31
Рубрики: Физика--Теоретическая физика
Кл.слова (ненормированные):
нанотрубки -- углеродные нанотрубки -- многостенные углеродные нанотрубки -- сканирующий туннельный микроскоп -- графитовая бумага -- модифицированная графитовая бумага -- структурные свойства -- токовый отжиг -- вакуум
Аннотация: Методом токового отжига в вакууме получены образцы графитовой бумаги, содержащие многостенные углеродные нанотрубки. С помощью сканирующего туннельного микроскопа исследованы структурные свойства модифицированной графитовой бумаги.


Доп.точки доступа:
Малиновская, О.С.; Мальцев, С.Н.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

2.


   
    Применение аппарата прогнозирования в сканирующих устройствах растрового типа [Текст] / А. М. Липанов [и др. ] // Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика. - 2010. - N 7. - С. 59-64 : 5 рис. - Библиогр.: с. 64 (15 назв. ) . - ISSN 2073-0004
ГРНТИ
УДК
ББК 32.96
Рубрики: Радиоэлектроника
   Автоматика и телемеханика

Кл.слова (ненормированные):
прогнозирование -- адаптивное управление -- структурные элементы изображений -- сканирующие устройства -- сканирующий туннельный микроскоп
Аннотация: Рассматривается задача прогнозирования в растровых устройствах формирования изображений. Предлагаются алгоритмы с высокими адаптивными свойствами, использующие управляемое изменение порядка модели предсказания, что обеспечивает максимальную декорреляцию элементов изображения с учетом динамики его яркостных показателей и уровня шумов.


Доп.точки доступа:
Липанов, А. М.; Шелковников, Ю. К.; Гафаров, М. Р.; Гуляев, П. В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

3.


    Вальков, В. В.
    Проявление антирезонанса Фано в вольт-амперной характеристике наноструктуры с одиночной магнитной примесью [Текст] / В. В. Вальков, С. В. Аксенов, Е. А. Уланов // Известия РАН. Серия физическая. - 2012. - Т. 76, № 3. - С. 411-416. - Библиогр.: c. 416 (44 назв. ) . - ISSN 0367-6765
УДК
ББК 22.3
Рубрики: Физика
   Общие вопросы физики

Кл.слова (ненормированные):
антирезонанс Фано -- вольт-амперные характеристики -- квантовый транспорт -- Ландауэра-Бюттикера подход -- магнитная анизотропия -- одноэлектронный транспорт -- подход Ландауэра-Бюттикера -- сканирующий туннельный микроскоп -- спиновые моменты -- Фано антирезонанс -- электронный транспорт
Аннотация: Проведено теоретическое изучение квантового когерентного электронного транспорта через наноструктуру, содержащую примесный ион с нескомпенсированным магнитным моментом. Показано, что коэффициент прохождения спин-поляризованного электрона через такую структуру содержит особенность, в виде антирезонанса Фано. Этот эффект возникает в результате обменного взаимодействия спинового момента транспортируемого электрона со спиновым моментом примеси. Продемонстрировано, что наличие антирезонанса Фано приводит к качественному изменению вольт-амперной характеристики структуры и индуцирует большое значение магнитосопротивления.


Доп.точки доступа:
Аксенов, С. В.; Уланов, Е. А.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

4.


   
    Оптическое излучение нанокристаллов CdSe под действием электрического тока сканирующего туннельного микроскопа [Текст] / И. С. Езубченко [и др.] // Известия РАН. Серия физическая. - 2012. - Т. 76, № 12. - С. 1465-1467. - Библиогр.: c. 1467 (8 назв. ) . - ISSN 0367-6765
УДК
ББК 22.34
Рубрики: Физика
   Оптика в целом

Кл.слова (ненормированные):
нанокристаллы CdSe -- оптическое излучение -- плазмонная эмиссия -- сканирующий туннельный микроскоп -- туннельный ток -- фотолюминесценция -- электролюминсценция
Аннотация: Измерена интенсивность электролюминесценции одиночных нанокристаллов CdSe, возбуждаемых туннельным током сканирующего туннельного микроскопа. Образцы с нанокристаллами показали отсутствие плазмонной эмиссии. Это обстоятельство позволяло измерять чистый сигнал от нанокристаллов. Электролюминесценция, измеренная во времени, отличалась от фотолюминесценции похожих нанокристаллов, что обусловлено различием физических процессов при возбуждении нанокристалла.


Доп.точки доступа:
Езубченко, И. С.; Трифонов, А. С.; Осадько, И. С.; Прохорова, И. Г.; Снигирев, О. В.; Солдатов, Е. С.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

5.


    Колесников, С. В.
    Оценка времени перемагничивания антиферромагнитных цепочек в рамках модели Гейзенберга [Текст] / С. В. Колесников, И. Н. Колесникова // Журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2017. - Т. 152, вып. 4. - С. 759-766. - Библиогр. в конце статьи . - ISSN 0044-4510
УДК
ББК 22.31
Рубрики: Физика
   Теоретическая физика

Кл.слова (ненормированные):
Гейзенберга модель -- анизотропия -- антиферромагнитные цепочки -- магнитная анизотропия -- модель Гейзенберга -- одноосная магнитная анизотропия -- сканирующий туннельный микроскоп -- спонтанное перемагничивание
Аннотация: В рамках модели Гейзенберга при наличии одноосной магнитной анизотропии получены формулы, позволяющие оценивать как время спонтанного перемагничивания антиферромагнитной цепочки, так и время перемагничивания при взаимодействии с иглой сканирующего туннельного микроскопа.


Доп.точки доступа:
Колесникова, И. Н.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

 
Статистика
за 19.08.2024
Число запросов 51332
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)