Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

Найдено в других БД:

БД "Книги" (1)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=сканирующие микроскопы<.>)

Общее количество найденных документов : 9
Показаны документы с 1 по 9

Серков, А. Т.
Нанотехнологии и химические волокна [Текст] / А. Т. Серков, М. Б. Радишевский // Химические волокна. - 2008. - N 1. - С. 26-30. - Библиогр.: с. 30 (9 назв. )

УДК

^a67

ББК 37.2 + 37.2
Рубрики: Производства легкой промышленности
Общие вопросы производства легкой промышленности
Кл.слова (ненормированные):
текстильное производство -- формирование волокон -- нанотехнологии -- микроскопическая техника -- сканирующие зондовые микроскопы -- сканирующие микроскопы -- зондовые микроскопы -- нанотрубки -- нанотрубчатые нити -- нанообработка -- технология "сверху - вниз" -- сверху - вниз (технология) -- технология "снизу - вверх" -- снизу - вверх (технология)
Аннотация: Рассмотрены особенности нанотехнологий и возможность их применения в исследовательской и производственной практике в области химических волокон.

Доп.точки доступа:
Радишевский, М. Б.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Сердюков, О.
Видит атомы [Текст] / О. Сердюков // Изобретатель и рационализатор. - 2009. - N 1. - С. 8-9. : 2 фот.

УДК

^a621.38

ББК 32.85
Рубрики: Радиоэлектроника
Электроника в целом
Кл.слова (ненормированные):
микроскопы -- нанотехнологии -- атомы -- зондовые микроскопы -- сканирующие микроскопы
Аннотация: Сканирующий микроскоп предназначен для лабораторий, учебных и научных центров, занимающихся нанотехнологиями в любых отраслях науки и промышленности.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : пат. (заказ статей по ЭДД) (1)
Свободны: пат. (заказ статей по ЭДД) (1)

Найти похожие

Быков, В.
Есть ли цвет в наномире? [Текст] / Виктор Быков // Наука в России. - 2009. - N 5. - С. 15-19 : 9 фот. . - ISSN 0869-706Х

УДК

^a535.2/.3

ББК 22.343
Рубрики: Физика
Физическая оптика
Кл.слова (ненормированные):
ближнепольные микроскопы -- микроскопы -- нанотехнологии -- оптические микроскопы -- сканирующие микроскопы
Аннотация: Развитие современных методов позволило перешагнуть дифракционный предел, и сегодня оптические вещества в видимом диапазоне длин волн можно изучать с пространственным разрешением в десятки нанометров. Рассматриваются два подхода, разработанные с использованием сканирующей микроскопии.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Кассандров, Э. Г.
Магматогенные марганцевые руды южно-минусинского межгорного прогиба [Текст] / Э. Г. Кассандров, М. П. Мазуров // Геология рудных месторождений. - 2009. - Т. 51, N 5. - С. 397-413. . - Библиогр.: с. 412-413

УДК

^a553

ББК 26.325
Рубрики: Геология
Геология полезных ископаемых в целом--Хакасия--Аскизный рудный район--Малосырское, месторождение; Чапсордаг, месторждение
Кл.слова (ненормированные):
рентгенография -- металлогения -- рудообразование -- марганцевые руды -- оптическая микроскопия -- метасоматоз -- минеральный состав -- инфракрасная спектроскопия -- сканирующие микроскопы -- электронно-зондовый анализ -- магматогенные руды -- минералогическое картирование
Аннотация: Обобщены и систематизированы первые данные изучения минерального состава и условий формирования марганцевых руд месторождений Чапсордаг и Малосырское в Аскизском рудном районе в Хакасии. Выполнено детальное минералогическое картирование месторождений. Диагностика минералов, определение микротекстур руд осуществлены с помощью оптической микроскопии в проходящем и отраженном свете, с применением сканирующего электронного микроскопа c энергодисперсионной приставкой, электронно-зондового анализа, рентгенографии.

Доп.точки доступа:
Мазуров, М. П.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Методика измерений формы поверхности вращения на интерференционном микроскопе "Talysurf CCI 2000" [Текст] / А. А. Ахсахалян [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2011. - Т. 75, N 1. - С. 102-105. . - Библиогр.: c. 105 (3 назв. )

УДК

^a621.793.164

ББК 34.64
Рубрики: Машиностроение
Соединения деталей машин
Кл.слова (ненормированные):
Talysurf CCI 2000 -- дифференциальные профилометры -- интерференционные микроскопы -- интерферометры белого света -- Киркпатрика-Байеза скрещенные системы -- методы измерения формы поверхности -- многослойные зеркала -- оптические стенды -- сканирующие микроскопы -- скрещенные системы Киркпатрика-Байеза -- форма эллипсоида вращения
Аннотация: Представлена методика измерений формы поверхности эллипсоида вращения на сканирующем интерференционном микроскопе белого света "Talysurf CCI 2000".

Доп.точки доступа:
Ахсахалян, А. А.; Ахсахалян, А. Д.; Зорина, М. В.; Харитонов, А. И.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Быков, Виктор Александрович (доктор технических наук).
Наука не делится на "свою" и "чужую" [Текст] / Виктор Александрович Быков ; беседу вела Елена Вешняковская // Наука и жизнь. - 2011. - N 9. - С. 16-24. : 1 фот.

УДК

^a389

ББК 30.10
Рубрики: Техника
Метрология
Кл.слова (ненормированные):
беседы -- интервью -- зондовые микроскопы -- микроскопы -- сканирующие микроскопы -- сканирующие зондовые микроскопы -- нанотехнологии -- высокотехнологические компании
Аннотация: Беседа с доктором технических наук, президентом Нанотехнологического общества, директором компании "МТ-НДТ" Виктором Александровичем Быковым о работе компании, имеющей вторую по величине долю мирового рынка в своем сегменте - сканирующих зондовых микроскопов.

Доп.точки доступа:
Вешняковская, Елена \.\

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Андреюк, Денис (кандидат биологических наук).
Микроскопия от "увидеть" до "потрогать" [Текст] / Денис Андреюк, Елена Вешняковская // Наука и жизнь. - 2011. - N 9. - С. 24-30. : 2 фот., 1 рис.

УДК

^a389

ББК 30.10
Рубрики: Техника
Метрология
Кл.слова (ненормированные):
история микроскопов -- микроскопы -- микроскопия -- сканирующие микроскопы -- сканирующие зондовые микроскопы -- зондовые микроскопы -- световые микроскопы -- электронные микроскопы -- оптические микроскопы
Аннотация: История создания микроскопа.

Доп.точки доступа:
Вешняковская, Елена

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Хамматова, В. В.
Проведение исследований микроструктуры образцов наномодифицированных текстильных материалов для специальной одежды методами микроскопии [Текст] / В. В. Хамматова, К. Э. Разумеев // Известия вузов. Технология текстильной промышленности. - 2016. - № 5 (365). - С. 84-89. - Библиогр.: с. 89 (9 назв. ) . - ISSN 0021-3497

УДК

^a677

ББК 37.23
Рубрики: Легкая промышленность
Текстильное производство
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовые микроскопы -- исследование микроструктуры -- конфокальные лазерные микроскопы -- материалы для спецодежды -- методы исследований -- микроструктура материалов -- наномодифицированные материалы -- наноструктура материалов -- сканирующая электронная микроскопия -- сканирующие микроскопы -- текстильные материалы
Аннотация: Рассмотрены вопросы, связанные с проведением исследований микроструктуры контрольных и наномодифицированных натуральных текстильных материалов с использованием методов сканирующей электронной микроскопии на конфокальном лазерном сканирующем микроскопе Olympus OLS LEXT 4000 и атомно-силовом микроскопе NTEGRA Prima (NT-MDT, Россия), которые обеспечивают получение изображений поверхности текстильного материала. Исследованы морфологические особенности микроскопических объектов на примере нано- и микроструктуры контрольных и наномодифицированных образцов с содержанием натуральных хлопковых волокон, а также расположение наночастиц серебра на их поверхности.

Доп.точки доступа:
Разумеев, К. Э.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Баданова, А. К.
Влияние процессов подготовки на изменение поверхности целлюлозного волокна [Текст] / А. К. Баданова, К. И. Баданова, Р. Р. Баданова // Известия вузов. Технология текстильной промышленности. - 2017. - № 6 (372). - С. 158-163. - Библиогр.: с. 163 (6 назв. ) . - ISSN 0021-3497

УДК

^a677

ББК 37.23
Рубрики: Легкая промышленность
Текстильное производство
Кл.слова (ненормированные):
внутренний канал волокон -- изменение волокон -- изменение форм канала -- исследование характеристик -- обработка растворами -- отделка волокон -- поверхностные изменения -- поверхностные характеристики -- сканирующие микроскопы -- сорбционная способность -- технологические растворы -- увеличение способности -- формы канала -- хлопковые волокна
Аннотация: Проведены исследования поверхностных характеристик хлопкового волокна и изменений волокна после воздействия различных технологических растворов. Выявлено, что сорбционная способность волокна может быть увеличена при изменении формы внутреннего канала волокна. Проведенные исследования с применением электронного сканирующего микроскопа позволили визуально оценить изменение не только поверхности волокна, но и его формы.

Доп.точки доступа:
Баданова, К. И.; Баданова, Р. Р.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 20.07.2024
Число запросов	5751
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)