Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=микроканальные пластины<.>)

Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4

Исследование зависимости выхода e[0]-электронов от места возникновения радиоактивного распада в источниках {64}Cu [Текст] / А. И. Феоктистов [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2008. - Т. 72, N 2. - С. 285-288. - Библиогр.: c. 288 (6 назв. )

УДК

^a539.163

ББК 22.38
Рубрики: Физика
Ядерная физика в целом
Кл.слова (ненормированные):
радиоактивный распад -- e[0]-электроны -- микроканальные пластины -- приповерхностный слой -- электроны околонулевой энергии -- выход e[0]-электронов -- коэффициент вторичной эмиссии электронов -- экспериментальные исследования
Аннотация: Измерены выходы электронов околонулевой энергии e[0] из источника различной толщины при радиоактивном распаде {64}Cu.

Доп.точки доступа:
Феоктистов, А. И.; Вальчук, А. А.; Купряшкин, В. Т.; Сидоренко, Л. П.; Шаповалова, И. П.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Кулов, С. К.
Наноразмерные неоднородности на поверхности свинцово-силикатного стекла для МКП [Текст] / С. К. Кулов, А. М. Кармоков, О. А. Молоканов // Известия РАН. Серия физическая. - 2009. - Т. 73, N 11. - С. 1649-1651 : Рис. - Библиогр.: c. 1651 (4 назв. ) . - ISSN 0367-6765

УДК

^a535:621

ББК 22.34
Рубрики: Физика
Оптика в целом
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая спектроскопия -- микроканальные пластины -- морфология поверхности -- отжиг -- поверхности -- свинцово-силикатное стекло -- сканирующая зондовая микроскопия -- стекло С87-2 -- термическое воздействие -- шероховатость поверхностей
Аннотация: Методом атомно-силовой спектроскопии исследовано изменение морфологии поверхности свинцово-силикатного стекла С87-2 после отжига при различных условиях.

Доп.точки доступа:
Кармоков, А. М.; Молоканов, О. А.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Рау, Э. И.
Контраст изображений примесных областей в полупроводниковых кристаллах в растровом электронном микроскопе [Текст] / Э. И. Рау, А. М. Тагаченков // Известия РАН. Серия физическая. - 2013. - Т. 77, № 8. - С. 1041-1046 : рис. - Библиогр.: c. 1046 (22 назв. ) . - ISSN 0367-6765

УДК

^a621.385.833:519.633

ББК 32.851
Рубрики: Радиоэлектроника
Электровакуумные приборы
Кл.слова (ненормированные):
контраст изображений -- микроканальные пластины -- микроструктура -- полупроводниковые кристаллы -- примесные области -- растровые электронные микроскопы
Аннотация: Представлен критический обзор современного состояния проблемы визуализации локальных примесных областей в полупроводниковых кристаллах в РЭМ. Предложено новое физико-техническое решение мониторинга распределения примесей в легированных областях, позволяющее в разы увеличить контраст изображения примесных участков в широком диапазоне концентраций.

Доп.точки доступа:
Тагаченков, А. М.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Мазурицкий, М. И.
Аномальное рассеяние, транспортировка и пространственное распределение рентгеновской флуоресценции на выходе поликапиллярных структур [Текст] / М. И. Мазурицкий, А. М. Лерер, П. В. Махно // Журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2016. - Т. 150, вып. 6. - С. 1084-1093. - Библиогр. в конце статьи . - ISSN 0044-4510

УДК

^a530.1

^a535

ББК 22.31 + 22.34
Рубрики: Физика
Теоретическая физика
Оптика в целом
Кл.слова (ненормированные):
аномальное рассеяние -- дифракция рентгеновского излучения -- микроканальные пластины -- поликапиллярные структуры -- рентгеновская флуоресценция -- рентгеновское излучение -- рентгенооптические поликапиллярные системы
Аннотация: Результаты исследования углового распределения интенсивности рентгеновского излучения на выходе микроканальных пластин при скользящем падении монохроматического излучения на стенки микрокапилляров.

Доп.точки доступа:
Лерер, А. М.; Махно, П. В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 01.07.2024
Число запросов	37190
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)