Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска
БД "Книги"
БД "Статьи"
Труды АМГУ
Выпускные квалификационные работы
Антитеррор
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=масс-спектрометрия вторичных ионов<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.


    Чернявский, А. В.
    Измерение диффузионных профилей в ионных кристаллах методом масс-спектрометрии вторичных ионов [Текст] / А. В. Чернявский // Контроль. Диагностика. - 2012. - № 11. - С. 72-74. - Библиогр.: с. 74 (11 назв. ) . - ISSN 0201-7032
УДК
^a543.4/.5
ББК 24.46/48
Рубрики: Химия
   Физико-химические методы анализа
Кл.слова (ненормированные):
диффузионные профили -- измерение диффузионных профилей -- ионные кристаллы -- масс-спектрометрия вторичных ионов -- вторично-ионная масс-спектрометрия -- высокотемпературная диффузия -- диффузия примесей -- примесные ионы -- диффузионный отжиг
Аннотация: Приведены результаты исследований высокотемпературной диффузии примесей из пленки в приповерхностных слоях ионных кристаллов. Распределение примесей по глубине после диффузионного отжига кристаллов исследовано методом вторичной ионной масс-спектрометрии.


Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика
за 02.09.2024
Число запросов 30324
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)