Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=контрольно-измерительные системы<.>)
Общее количество найденных документов : 18
Показаны документы с 1 по 18
1.


   
    Автоматизированная система для определения статических характеристик пневматических шин [Текст] / Юрий Прокопенко [и др. ] // Современные технологии автоматизации. - 2008. - N 1. - С. 28-34. - Библиогр.: с. 34 (4 назв. )
ГРНТИ
УДК
ББК 32.96
Рубрики: Радиоэлектроника
   Автоматика и телемеханика

Кл.слова (ненормированные):
автоматизированные системы -- пневматические шины -- контрольно-измерительные системы -- промышленные компьютеры
Аннотация: Представлена построенная на базе промышленного компьютера автоматизированная система, предназначенная для определения статических характеристик пневматических шин с помощью технических средств управляемого ею стенда.


Доп.точки доступа:
Прокопенко, Юрий; Роженцев, Виктор; Мараховский, Владимир; Шаманин, Александр

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : эн.ф. (1)
Свободны: эн.ф. (1)

Найти похожие

2.


    Иерусалимов, Игорь.
    Контроль порезки слитков на блюминге [Текст] / Игорь Иерусалимов, Юрий Карфидов, Александр Литвинов // Современные технологии автоматизации. - 2007. - N 1. - С. 18-22. - Библиогр.: с. 22 (3 назв. )
УДК
ББК 34.3
Рубрики: Машиностроение
Кл.слова (ненормированные):
контроль порезки слитков -- порезка слитков на блюминге -- системы контроля -- автоматизированные системы контроля -- контрольно-измерительные системы -- металлургическое производство -- автоматизированные системы -- оптические измерители -- литейное производство
Аннотация: Система контроля порезки слитков на блюминге основана на использовании оптических корреляционных измерителей скорости для контроля положения слитка перед порезкой. Рассказано о сетевых возможностях системы и ее интеграции с системами учета и мониторинга производства.


Доп.точки доступа:
Карфидов, Юрий; Литвинов, Александр

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : эн.ф. (1)
Свободны: эн.ф. (1)

Найти похожие

3.


    Казаков, А. А.
    Программирование контрольно-измерительных операций в системе ADEM-VX [Текст] / А. А. Казаков, А. М. Сальников // САПР и графика. - 2009. - N 3 (149). - С. 75-77. : рис.
УДК
ББК 34.42 + 30.2
Рубрики: Машиностроение
   Проектирование машин и механизмов и их деталей

   Техника

   Проектирование

Кл.слова (ненормированные):
автоматизированные системы -- проектирование -- контрольно-измерительные системы -- станки -- ЧПУ -- числовое программное управление
Аннотация: Об опыте применения системы ADEM-VX для программирования контрольно-измерительных операций на станках с программным управлением, оснащенных измерительными головками.


Доп.точки доступа:
Сальников, А. М.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

4.


   
    Совместное применение ПЛК и интеллектуальных Ethernet-модулей ввода вывода в системах контроля и измерений [Текст] / Доминик Рейсснер, Жюльен Краутц // Современные технологии автоматизации. - 2009. - N 4. - С. 66-69 . - ISSN 0206-975X
ГРНТИ
УДК
ББК 32.96
Рубрики: Радиоэлектроника
   Автоматика и телемеханика

Кл.слова (ненормированные):
модули ввода-вывода -- Ethernet-модули ввода-вывода -- контрольно-измерительные системы -- интеллектуальные модули ввода-вывода -- ПЛК
Аннотация: Современные ПЛК успешно применяются в контрольно-измерительных системах. Однако при скоростном сборе и анализе данных часто их возможностей оказывается недостаточно. Примером решения, расширяющего возможности обычного ПЛК, стала система, интегрированная в стенд для испытаний коленчатых валов. О ней, о том, как интеллектуальные модули ввода-вывода и стандартный Ethernet-протокол TCP/IP могут использоваться совместно с ПЛК для решения сложных задач измерения и обработки данных в реальном времени, рассказывает эта статья.


Доп.точки доступа:
Рейсснер, Доминик; Краутц, Жюльен

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : эн.ф. (1)
Свободны: эн.ф. (1)

Найти похожие

5.


   
    Автоматизация диагностики автомобильных дорог [Текст] / Ю. Э. Васильев [и др.] // Контроль. Диагностика. - 2012. - № 8. - С. 62-68. - Библиогр.: с. 68 (7 назв. ) . - ISSN 0201-7032
УДК
ББК 32.96 + 39.31/32
Рубрики: Радиоэлектроника
   Автоматика и телемеханика

   Транспорт

   Автомобильные дороги

Кл.слова (ненормированные):
автоматизация диагностики -- автомобильные дороги -- диагностика автомобильных дорог -- дорожные сканеры -- передвижные дорожные лаборатории -- дорожные лаборатории -- автоматизированные сканеры -- сканеры -- контрольно-измерительные системы -- базовые транспортные средства -- информационно-аналитические системы -- дорожные покрытия -- выделение сигналов
Аннотация: Предложена новая концепция представления передвижных дорожных лабораторий как автоматизированных дорожных сканеров.


Доп.точки доступа:
Васильев, Ю. Э.; Борисов, Ю. В.; Янковский, Л. В.; Сарычев, И. Ю.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

6.


    Махов, В. Е.
    Использование алгоритмов вейвлет-анализа для построения оптических измерительных систем [Текст] / В. Е. Махов, А. И. Потапов // Контроль. Диагностика. - 2013. - № 1. - С. 12-21. - Библиогр.: с. 20-21 (11 назв. ) . - ISSN 0201-7032
УДК
ББК 32.813 + 32.973-018.2
Рубрики: Радиоэлектроника
   Искусственный интеллект. Экспертные системы

   Вычислительная техника

   Распознавание и преобразование образов

Кл.слова (ненормированные):
алгоритмы вейвлет-анализа -- вейвлет-анализ -- оптические измерительные системы -- вейвлет-преобразование -- распределение освещенности -- теневые изображения -- измерительные системы технического зрения -- техническое зрение -- компьютерные технологии -- контрольно-измерительные системы -- локальный анализ Фурье -- Фурье локальный анализ -- фазово-растровое преобразование -- виртуальные приборы -- непрерывное вейвлет-преобразование -- качество изображения
Аннотация: Проведено теоретическое исследование различных алгоритмов вейвлет-преобразования распределения освещенности в теневом изображении для измерительной системы технического зрения, построенных на базе компьютерных технологий при различном профиле распределения освещенности в теневом изображении.


Доп.точки доступа:
Потапов, А. И.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

7.


    Боровская, М. И.
    15-й юбилейный Форум "Точные измерения - основа качества и безопасности". На пороге глобальных перемен [Текст] = 15th jubilee Forum "Precision measurements — The basis of quality and safety". On the threshold of global changes / Боровская М. И., Афонская Т. Д., Афонский А. А. // Контрольно-измерительные приборы и системы = Test & Measuring Instruments and Systems. - 2019. - № 3 (июнь). - С. 13-19 : ил., фот.
УДК
ББК 30.10
Рубрики: Техника
   Метрология

Кл.слова (ненормированные):
весы -- выставки -- испытательное оборудование -- контрольно-измерительная техника -- контрольно-измерительное оборудование -- контрольно-измерительные приборы -- контрольно-измерительные системы -- мероприятия -- метрологические приборы -- приборы автоматического регулирования -- приборы учета энергоресурсов -- программное обеспечение -- средства диагностирования -- средства измерения -- средства метрологического обеспечения -- средства неразрушающего контроля -- форумы
Аннотация: В период с 15 по 17 мая 2019 года в Москве на ВДНХ состоялись 15-й Московский международный инновационный форум и выставка "Точные измерения - основа качества и безопасности", приуроченные к Всемирному дню метрологии. Организаторами мероприятий выступили Министерство промышленности и торговли Российской Федерации и Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии. Рассматривались проблемы кооперации в российской системе измерений с целью удовлетворения потребностей страны и общества в высокоточных измерениях. А также консолидация усилий власти, науки и бизнеса для развития отечественного приборостроения, повышения эффективности системы обеспечения единства измерений, совершенствования нормативной базы метрологии и приборостроения с учетом современных международных тенденций для формирования финансовых механизмов поддержки инноваций и их продвижение.


Доп.точки доступа:
Афонская, Т. Д. (заместитель главного редактора); Афонский, А. А. (главный редактор); Российская Федерация \министерство промышленности и торговли\; Министерство промышленности и торговли Российской ФедерацииМинпромторг России; Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии; Росстандарт; Московский международный инновационный форум "Точные измерения - основа качества и безопасности"; Точные измерения - основа качества и безопасности, Московский международный инновационный форум; Международная выставка "Точные измерения - основа качества и безопасности"; Точные измерения - основа качества и безопасности, международная выставка; MetrolExpo

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : а.к. (1)
Свободны: а.к. (1)

Найти похожие

8.


    Боровская, М. И.
    Синергия двух выставок - ElectronTechExpo и ExpoElectronica! [Текст] = Synergy of two exhibitions - ElectronTechExpo and ExpoElectronica! / Боровская М. И., Афонская Т. Д., Афонский А. А. // Контрольно-измерительные приборы и системы = Test & Measuring Instruments and Systems. - 2019. - № 3 (июнь). - С. 35-38 : ил., фот.
УДК
ББК 32.85 + 32.852
Рубрики: Радиоэлектроника
   Электроника в целом

   Полупроводниковые приборы

Кл.слова (ненормированные):
встраиваемые системы -- выставки -- датчики -- дисплеи -- источники питания -- контрольно-измерительная техника -- контрольно-измерительное оборудование -- контрольно-измерительные приборы -- контрольно-измерительные системы -- мероприятия -- пассивные электронные компоненты -- печатные платы -- полупроводниковые компоненты -- полупроводниковые модули -- светодиодное оборудование -- электромеханические компоненты
Аннотация: С 15 по 17 апреля в Москве, в МВЦ "Крокус Экспо" прошли 22-я Международная выставка электронных компонентов, модулей и комплектующих ExpoElectronica и 17-я Международная выставка технологий, оборудования и материалов для производства изделий электронной и электротехнической промышленности ElectronTechExpo. Организатор выставок - группа компаний ITE. Ежегодно посетителями выставок являются руководители и специалисты производственных предприятий в области электронной аппаратуры, электротехнической продукции, приборов и устройств, а также компании-поставщики электронных компонентов, электронного оборудования и материалов.


Доп.точки доступа:
Афонская, Т. Д. (заместитель главного редактора); Афонский, А. А. (главный редактор); Группа компаний ITE, международный организатор выставок и конференций; ITE Group, международный организатор выставок и конференцийExpoElectronica, международная выставка электронных компонентов, модулей и комплектующих; Международная выставка электронных компонентов, модулей и комплектующих "ExpoElectronica"; ElectronTechExpo, международная выставка технологий, оборудования и материалов для производства изделий электронной и электротехнической промышленности; Международная выставка технологий, оборудования и материалов для производства изделий электронной и электротехнической промышленности "ElectronTechExpo"

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : а.к. (1)
Свободны: а.к. (1)

Найти похожие

9.


    Афонский, А. А.
    Productronica - ведущая европейская выставка электроники! [Текст] = Productronica - the leading European exhibition of electronics! / Афонский А. А., Афонская Т. Д., Боровская М. И. // Контрольно-измерительные приборы и системы = Test & Measuring Instruments and Systems. - 2019. - № 6 (декабрь). - С. 22-25 : ил., фот.
УДК
ББК 32.85
Рубрики: Радиоэлектроника
   Электроника в целом

Кл.слова (ненормированные):
выставки -- дисплеи -- кабели -- комплектующие -- контрольно-измерительная техника -- контрольно-измерительное оборудование -- контрольно-измерительные приборы -- контрольно-измерительные системы -- мероприятия -- печатные платы -- полупроводники -- программное обеспечение -- сенсоры -- средства измерения -- форумы -- электронные компоненты -- электроприводы
Аннотация: Представлены итоги международной выставки Productronica, которая прошла с 12 по 15 ноября 2019 года в Мюнхене. В выставке приняло участие свыше 1500 экспонентов из 44 стран, и все они представили свои инновационные технологии, применяемые в области разработки и производства электроники различных направлений.


Доп.точки доступа:
Афонская, Т. Д.; Боровская, М. И.; Productronica, международная выставка комплектующих и технологий производства электроники; Международная выставка комплектующих и технологий производства электроники Productronica

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : а.к. (1)
Свободны: а.к. (1)

Найти похожие

10.


   
    Преимущества комбинированных осциллографов на примере серии RTH1000 от Rohde & Schwarz [Текст] = Advantages of combined oscilloscopes by the example of Rohde & Schwarz RTH1000 series // Контрольно-измерительные приборы и системы = Test & Measuring Instruments and Systems. - 2020. - № 1 (февраль). - С. 6-7 : ил., табл.
УДК
ББК 32 + 30.605
Рубрики: Радиоэлектроника
   Радиоэлектроника в целом

   Техника

   Промышленное оборудование

Кл.слова (ненормированные):
R&S Scope Rider RTH1000 -- комбинированные осциллографы -- контрольно-измерительная аппаратура -- контрольно-измерительная техника -- контрольно-измерительные приборы -- контрольно-измерительные системы -- портативные осциллографы -- цифровые осциллографы
Аннотация: Вот уже несколько лет разработка и выпуск комбинированных приборов стало своеобразным трендом для производителей измерительной техники. Рассказывается о портативном осциллографе компании Rohde & Schwarz R&S Scope Rider RTH1000. Эта модель осциллографа выпускается в двух- и четырехканальном вариантах, причем каналы гальванически развязанные. R&S Scope Rider RTH1000 имеет рабочие характеристики и функциональность, как у лабораторного прибора и позволяет проводить измерения во всех электрических категориях, а его прочный корпус имеет достаточную степень защиты от пыли и влаги.


Доп.точки доступа:
Rohde & Schwarz, компания; Компания Rohde & Schwarz

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : а.к. (1)
Свободны: а.к. (1)

Найти похожие

11.


    Хердин, Маркус.
    Портативный осциллограф для полевых измерений. Качество лабораторного прибора в корпусе повышенной прочности [Текст] = Portable oscilloscope for in-the-field measurements. Performance of a lab oscilloscope in a ruggedized housing / Маркус Хердин // Контрольно-измерительные приборы и системы = Test & Measuring Instruments and Systems. - 2020. - № 1 (февраль). - С. 8-10 : ил.
УДК
ББК 32 + 30.605
Рубрики: Радиоэлектроника
   Радиоэлектроника в целом

   Техника

   Промышленное оборудование

Кл.слова (ненормированные):
R&S Scope Rider -- контрольно-измерительная аппаратура -- контрольно-измерительная техника -- контрольно-измерительные приборы -- контрольно-измерительные системы -- портативные осциллографы -- цифровые осциллографы
Аннотация: Особое место среди измерительных приборов занимают портативные осциллографы, которые можно использовать в "полевых" условиях. Неисправность в таком случае должна быть найдена как можно скорее при минимизации финансовых затрат. Серия портативных осциллографов компании Rohde & Schwarz R&S Scope Rider является идеальным решением. Данные осциллографы выпускается в двух и четырехканальном варианте, причем каналы гальванически развязаны. R&S Scope Rider имеет рабочие характеристики и функциональность, как у лабораторных приборов. Компания представила двадцать моделей прибора, которые смогут удовлетворить любые требования пользователей.


Доп.точки доступа:
Rohde & Schwarz, компания; Компания Rohde & Schwarz

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : а.к. (1)
Свободны: а.к. (1)

Найти похожие

12.


    Афонская, Т. Д.
    Портрет удивительного будущего на выставке CES 2020 [Текст] = Amazing future image at CES 2020 / Афонская Т. Д., Афонский А. А., Боровская М. И. // Контрольно-измерительные приборы и системы = Test & Measuring Instruments and Systems. - 2020. - № 1 (февраль). - С. 25 : ил., фот.
УДК
ББК 32.85
Рубрики: Радиоэлектроника
   Электроника в целом

Кл.слова (ненормированные):
видеокарты -- выставки -- гаджеты -- дисплеи -- контрольно-измерительная техника -- контрольно-измерительное оборудование -- контрольно-измерительные приборы -- контрольно-измерительные системы -- мероприятия -- ноутбуки -- роботы -- смартфоны -- телевизоры -- форумы -- часы -- электронные компоненты
Аннотация: Представлены итоги международной выставки электроники Consumer Electronics Show (CES) в Лас-Вегасе, прошедшей с 6 по 10 января 2020 г.


Доп.точки доступа:
Афонский, А. А.; Боровская, М. И.; Consumer Electronics Show, международная выставка электроники; CES, международная выставка электроникиМеждународная выставка электроники Consumer Electronics Show

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : а.к. (1)
Свободны: а.к. (1)

Найти похожие

13.


   
    Проблемы ЭМС/ЭМП в подключенном автомобиле [Текст] = EMC/EMI challenges in the connected vehicle // Контрольно-измерительные приборы и системы = Test & Measuring Instruments and Systems. - 2020. - № 2 (апрель). - С. 19-21 : ил.
УДК
ББК 32 + 39.33/36
Рубрики: Радиоэлектроника
   Радиоэлектроника в целом

   Транспорт

   Автодорожный транспорт

Кл.слова (ненормированные):
PXE -- ЭМП -- ЭМС -- автомобили -- автомобильная электроника -- контрольно-измерительная аппаратура -- контрольно-измерительная техника -- контрольно-измерительные приборы -- контрольно-измерительные системы -- приемники ЭМП -- электромагнитная совместимость -- электромагнитные помехи -- электронные системы автомобиля
Аннотация: Подобно любой высокоскоростной и сложной цифровой электронной системе, автомобильная электроника может быть источником электромагнитных помех и обладать большой чувствительностью к этим помехам, причем последствия отказа могут стать фатальными. Рассказано об источниках электромагнитных помех (ЭМП), их выявлении, локализации и снижении их влияния с помощью прибора, способного с высокой точностью измерять характеристики ЭМП - приемника ЭМП PXE от Keysight Technologies.


Доп.точки доступа:
Keysight Technologies, компания; Компания Keysight Technologies

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : а.к. (1)
Свободны: а.к. (1)

Найти похожие

14.


    Максвелл, Мэтью.
    Как экономически эффективно обеспечить электромагнитную совместимость IoT-устройств [Текст] = Cost effectively ensure electromagnetic compatibility in the age of IoT / Мэтью Максвелл // Контрольно-измерительные приборы и системы = Test & Measuring Instruments and Systems. - 2020. - № 2 (апрель). - С. 22-30 : ил.
УДК
ББК 32
Рубрики: Радиоэлектроника
   Радиоэлектроника в целом

Кл.слова (ненормированные):
IoT-устройства -- ЭМС -- контрольно-измерительная аппаратура -- контрольно-измерительная техника -- контрольно-измерительные приборы -- контрольно-измерительные системы -- электромагнитная совместимость
Аннотация: Любая радиоэлектронная аппаратура, в том числе и IoT, для получения сертификата соответствия со стороны регулирующих органов, должна пройти испытания на ЭМС. Рассказано, как это сделать эффективно, качественно и с наименьшими затратами.


Доп.точки доступа:
Rohde & Schwarz, компания; Компания Rohde & Schwarz

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : а.к. (1)
Свободны: а.к. (1)

Найти похожие

15.


    Афонский, А. А.
    Необычный год - необычные решения… Или как пройдет выставка Electronica [Текст] = Unusual year - unusual solutions… Or how electronica exhibition will be held / Афонский А. А., Афонская Т. Д., Боровская М. И. // Контрольно-измерительные приборы и системы = Test & Measuring Instruments and Systems. - 2020. - № 5 (октябрь). - С. 31-32 : ил., фот.
УДК
ББК 32.85
Рубрики: Радиоэлектроника
   Электроника в целом

Кл.слова (ненормированные):
встроенные системы -- выставки -- датчики -- дисплеи -- источники электропитания -- контрольно-измерительная техника -- контрольно-измерительное оборудование -- контрольно-измерительные приборы -- контрольно-измерительные системы -- мероприятия -- наносистемы -- пассивные компоненты -- печатные платы -- полупроводники -- системные компоненты -- средства измерения
Аннотация: Международная выставка Electronica прошла с 10 по 13 ноября 2020 г. в городе Мюнхен, Германия. На выставке были представлены полупроводники, дисплеи, наносистемы, датчики, приборы контроля, тестирования, средства измерений и другие приборы. Организатор выставки: Messe Munchen GmbH. Подробную информацию можно получить на сайте выставки https: //www. electronica. de/en.


Доп.точки доступа:
Афонская, Т. Д.; Боровская, М. И.; Messe Munchen GmbH; Electronica, международная выставка электронных компонентов, систем и устройствМеждународная выставка электронных компонентов, систем и устройств Electronica

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : а.к. (1)
Свободны: а.к. (1)

Найти похожие

16.


    Афонский, А. А.
    Итоги первой онлайн-выставки electronica 2020 [Текст] = Final report on the first online exhibition electronica 2020 / Афонский А. А., Афонская Т. Д., Боровская М. И. // Контрольно-измерительные приборы и системы = Test & Measuring Instruments and Systems. - 2020. - № 6 (декабрь). - С. 21-26 : ил., фот.
УДК
ББК 32.85
Рубрики: Радиоэлектроника
   Электроника в целом

Кл.слова (ненормированные):
встроенные системы -- выставки -- датчики -- дисплеи -- источники электропитания -- контрольно-измерительная техника -- контрольно-измерительное оборудование -- контрольно-измерительные приборы -- контрольно-измерительные системы -- мероприятия -- наносистемы -- пассивные компоненты -- печатные платы -- полупроводники -- системные компоненты -- средства измерения
Аннотация: Международная выставка Electronica прошла с 10 по 13 ноября 2020 г. в городе Мюнхен, Германия. На выставке были представлены полупроводники, дисплеи, наносистемы, датчики, приборы контроля, тестирования, средства измерений и другие приборы. Организатор выставки: Messe Munchen GmbH. Подробную информацию можно получить на сайте выставки https: //www. electronica. de/en.


Доп.точки доступа:
Афонская, Т. Д.; Боровская, М. И.; Messe Munchen GmbH; Electronica, международная выставка электронных компонентов, систем и устройствМеждународная выставка электронных компонентов, систем и устройств Electronica

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : а.к. (1)
Свободны: а.к. (1)

Найти похожие

17.


    Афонский, А. А.
    Новые даты, новый формат и новые тенденции. А вы готовы к CES 2021? [Текст] = New dates, new format and new trends. Are you ready for CES 2021? / Афонский А. А., Афонская Т. Д., Боровская М. И. // Контрольно-измерительные приборы и системы = Test & Measuring Instruments and Systems. - 2020. - № 6 (декабрь). - С. 27-31 : ил., фот.
УДК
ББК 32.85 + 32.97
Рубрики: Радиоэлектроника
   Электроника в целом

   Вычислительная техника

   Вычислительная техника в целом

Кл.слова (ненормированные):
3D-печать -- AR-технологии -- VR-технологии -- беспроводные устройства -- выставки -- искусственный интеллект -- компьютерные игры -- контрольно-измерительная техника -- контрольно-измерительное оборудование -- контрольно-измерительные приборы -- контрольно-измерительные системы -- мероприятия -- онлайн-формат -- программное обеспечение -- средства измерения -- форумы -- цифровой формат
Аннотация: В связи пандемией Ковид-19, одна из самых популярных международных выставок CES 2021, проведение которой перенесено на 11-14 января 2021 г., будет представлена в цифровом формате. Онлайн-формат позволит CES стать центром встречи экспонентов и потребителей электроники со всего мира. Предполагается, что основные доклады будут доступны онлайн, как и витрина с новинками. Кроме того, будет предусмотрена возможность пообщаться с представителями компаний и деловыми партнерами посредством встреч и круглых столов, которые тоже пройдут онлайн. В качестве технологического партнера была выбрана компания Microsoft, которая ответственна за технологические решения в проведении этого мероприятия.


Доп.точки доступа:
Афонская, Т. Д.; Боровская, М. И.; Ассоциация потребительских технологий; СТАMicrosoft, компания; Компания Microsoft; CES, международная выставка потребительской электроники; Международная выставка потребительской электроники CES

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : а.к. (1)
Свободны: а.к. (1)

Найти похожие

18.


    Афонский, А. А.
    Итоги самой масштабной онлайн-выставки начала 2021 года - CES 2021! [Текст] = Results of the largest online exhibition of early 2021 - CES 2021! / Афонский А. А., Афонская Т. Д., Боровская М. И. // Контрольно-измерительные приборы и системы = Test & Measuring Instruments and Systems. - 2021. - № 1 (март). - С. 25-35 : ил., фот.
УДК
ББК 32.85 + 32.97
Рубрики: Радиоэлектроника
   Электроника в целом

   Вычислительная техника

   Вычислительная техника в целом

Кл.слова (ненормированные):
3D-печать -- AR-технологии -- VR-технологии -- беспроводные устройства -- выставки -- искусственный интеллект -- компьютерные игры -- контрольно-измерительная техника -- контрольно-измерительное оборудование -- контрольно-измерительные приборы -- контрольно-измерительные системы -- мероприятия -- онлайн-выставки -- онлайн-формат -- программное обеспечение -- средства измерения -- форумы -- цифровой формат
Аннотация: В связи пандемией Ковид-19, одна из самых популярных международных выставок CES 2021, проведение которой было перенесено на 11-14 января 2021 г., была представлена в цифровом формате. Полностью цифровая выставка CES 2021 позволила техническим специалистам из разных стран встретиться в виртуальных залах, поделиться своим опытом, обменяться идеями и предложениями. На выставке этого года удалось создать уникальную виртуальную среду, в которой компании могли делать объявления, анонсировать самые свежие разработки и общаться со своей аудиторией.


Доп.точки доступа:
Афонская, Т. Д.; Боровская, М. И.; Ассоциация потребительских технологий; СТАMicrosoft, компания; Компания Microsoft; CES, международная выставка потребительской электроники; Международная выставка потребительской электроники CES
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

 
Статистика
за 02.09.2024
Число запросов 31767
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)