Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=дифракционное отражение<.>)

Общее количество найденных документов : 5
Показаны документы с 1 по 5

Бушуев, В. А.
Влияние пространственной когерентности рентгеновского излучения на зеркальное отражение от многослойных зеркал [Текст] / В. А. Бушуев // Известия РАН. Серия физическая. - 2010. - Т. 74, N 1. - С. 47-52. - Библиогр.: c. 51-52 (17 назв. ) . - ISSN 0367-6765

УДК

^a548.732

ББК 26.303
Рубрики: Геология
Минералогия
Кл.слова (ненормированные):
дифракционное отражение -- длина пространственной когерентности -- многослойные зеркала -- многослойные структуры -- отраженное излучение -- пространственная когерентность -- рентгеновское излучение -- функции пространственной когерентности -- щели
Аннотация: Рассмотрено влияние степени пространственной когерентности случайно модулированного рентгеновского излучения на интенсивность дифракционного отражения этого излучения от многослойного зеркала и на функцию пространственной когерентности отраженного поля в зависимости от статистических характеристик падающего излучения и параметров многослойной периодической структуры.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Исследование структурного совершенства кристаллов лангасита и лангатата [Текст] / Е. А. Тюнина [и др. ] // Материаловедение. - 2010. - N 12. - С. 45-49.

УДК

^a544.22

ББК 24.52
Рубрики: Химия
Химия твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
пьезоэлектрики -- семейства лангаситов -- метод Чохральского -- Чохральского метод -- дифракционное отражение -- рентгеновская топография -- кривые дифракционного отражения -- лангататы -- кристаллы лангаситов -- лангаситы -- двухкристальная рентгеновская дифрактометрия -- структурное совершенство
Аннотация: Методами двухкристальной рентгеновской дифрактометрии и рентгеновской топографии изучены кристаллы лангасита и лангатата, выращенные методом Чохральского.

Доп.точки доступа:
Тюнина, Е. А.; Каурова, И. А.; Кузьмичева, Г. М.; Доморошина, Е. Н.; Дубовский, А. Б.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Бушуев, В. А.
Влияние теплового нагрева кристалла на дифракцию импульсов рентгеновского лазера на свободных электронах [Текст] / В. А. Бушуев // Известия РАН. Серия физическая. - 2013. - Т. 77, № 1. - С. 19-25. - Библиогр.: c. 25 (13 назв. ) . - ISSN 0367-6765

УДК

^a548.732

ББК 26.303
Рубрики: Геология
Минералогия
Кл.слова (ненормированные):
дифракционное отражение -- дифракция -- рентгеновский лазер на свободных электронах -- синтетические алмазы -- температурная зависимость -- тепловой нагрев -- термодинамические параметры
Аннотация: На основе решения уравнения теплопроводности получены пространственно-временные зависимости распределения температуры кристалла под действием импульсов рентгеновского лазера на свободных электронах. Рассмотрено влияние температуры, ее градиента и деформации кристаллической решетки на дифракционное отражение и прохождение импульсов в кристаллах синтетического алмаза.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Рентгеновские деформации эпитаксильной пленки в случае произвольной ориентации границы раздела [Текст] / Е. М. Труханов [и др.] // Известия РАН. Серия физическая. - 2013. - Т. 77, № 9. - С. 1249-1252. - Библиогр.: c. 1252 (7 назв. ) . - ISSN 0367-6765

УДК

^a539.261

ББК 22.361
Рубрики: Физика
Экспериментальные методы и аппаратура молекулярной физики
Кл.слова (ненормированные):
атомные плоскости -- границы раздела -- дифракционное отражение -- кривые дифракционного отражения -- методика определения рентгеновских деформаций -- ориентация границы раздела -- эпитаксильные пленки
Аннотация: Для эпитаксиальной пленки, находящейся в однородном плосконапряженном состоянии и имеющей произвольную ориентацию границы раздела, развита методика определения рентгеновских деформаций эпсилон и эпсилон[||]. Их измерение выполнено на основе кривых дифракционного отражения, которые могут быть записаны как от одной, так и от двух различных наклонных атомных плоскостей. Исследована опытная структура GeSi/Si (111).

Доп.точки доступа:
Труханов, Е. М.; Ильин, А. С.; Колесников, А. В.; Лошкарев, И. Д.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Эволюция кривых дифракционного отражения рентгеновских лучей в кристаллах парателлурита и фторида лития при воздействии интенсивным ультразвуком [Текст] / А. Е. Благов [и др.] // Физика твердого тела. - 2017. - Т. 59, вып. 5. - С. 947-950 : 4 рис. - Библиогр. в конце ст. (14 назв.) . - ISSN 0367-3294

УДК

^a539.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
дифракционное отражение -- кристаллография в целом -- кристаллы -- литий -- парателлурит -- рентгеновские лучи -- ультразвук -- фторид лития
Аннотация: Проведены исследования локальных деформаций кристаллической решетки в условиях ультразвуковой нагрузки в широком диапазоне значений амплитуд с помощью регистрации кривых дифракционного отражения рентгеновских лучей от монокристаллов парателлурита и фторида лития.

Доп.точки доступа:
Благов, А. Е.; Писаревский, Ю. В.; Таргонский, А. В.; Элиович, Я. А.; Ковальчук, М. В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 20.08.2024
Число запросов	53807
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)