Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=уравнение Липпмана-Швингера<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.


    Буров, В. А.
    Волновые эффекты в акустических средах с отрицательным показателем преломления [Текст] / В. А. Буров, К. В. Дмитриев, С. Н. Сергеев // Известия РАН. Серия физическая. - 2008. - Т. 72, N 12. - С. 1695-1699. : рис. - Библиогр.: c. 1699 (14 назв. )
УДК
ББК 22.325
Рубрики: Физика
   Распространение звука

Кл.слова (ненормированные):
акустические среды -- волновые эффекты -- численное моделирование -- отрицательное преломление -- уравнение Липпмана-Швингера -- Липпмана-Швингера уравнение -- уравнения гидродинамики -- теория рассеяния волн
Аннотация: Предложен метод рассмотрения сред с отрицательным показателем преломления в акустике.


Доп.точки доступа:
Дмитриев, К. В.; Сергеев, С. Н.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

2.


    Лозовский, В. З.
    Моделирование ближнеполевых изображений поверхности полупроводника с разными распределениями носителей [Текст] / В. З. Лозовский, Г. Г. Тарасов, В. В. Василенко // Оптика и спектроскопия. - 2007. - Т. 103, N 6. - С. 961-972.
УДК
ББК 22.345
Рубрики: Физика
   Люминесценция

Кл.слова (ненормированные):
полупроводники -- ближнеполевые изображения поверхности -- теория линейного отклика -- уравнение Липпмана-Швингера -- Липпмана-Швингера уравнение -- сканирующая оптическая микроскопия ближнего поля -- неоднородное распределение электронов -- неразрушающие методы контроля
Аннотация: Предложен метод определения ближнеполевого изображения поверхности полупроводника с неоднородным распределением носителей. Метод базируется на теории линейного отклика. Как результат, решение самосогласованного уравнения Липпмана-Швингера представлено через эффективную восприимчивость. Произведен расчет для поверхности полупроводника с неоднородным распределением электронов под поверхностью. Показано, что на вид картины распределения ближнего поля существенно влияет поляризация как зондирующего поля, так и поля на детекторе в дальней зоне. Результаты, полученные в работе, позволяют сделать вывод о возможности определения ориентации образований (дефектов) под поверхностью полупроводника. Подход универсален и может быть использован для моделирования сканирующей ближнеполевой микроскопии для различного типа объектов под поверхностью.


Доп.точки доступа:
Тарасов, Г. Г.; Василенко, В. В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

 
Статистика
за 28.07.2024
Число запросов 68635
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)