Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=туннельная микроскопия<.>)

Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3

Низкоразмерные наноструктуры и пленки фуллеренов на поверхности полупроводников [Текст] / Р. З. Бахтизин [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2009. - Т. 73, N 1. - С. 36-39. : Рис. - Библиогр.: c. 39 (8 назв. )

УДК

^a621.38

ББК 31.2
Рубрики: Энергетика
Электротехника в целом
Кл.слова (ненормированные):
туннельная микроскопия -- микроскопия медленных электронов -- доменные границы -- сверхвысокий вакуум -- низкоразмерные наноструктуры -- фуллерены -- фторфуллерены -- туннельные спектры -- отжиг
Аннотация: Методами сканирующей туннельной микроскопии/спектроскопии и микроскопии медленных электронов в условиях сверхвысокого вакуума исследованы морфология и атомная структура пленок фуллеренов C[60] на поверхности Bi (0001) /Si (111) -7x7 и адсорбция молекул фторфуллеренов C[60]F[x] Si (111) -7x7.

Доп.точки доступа:
Бахтизин, Р. З.; Орешкин, А. И.; Садовский, Ю. Т.; Фуджикава, Я.; Сакурай, Т.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Кузнецов, М. В.
Оксидные наноструктуры на поверхности ниобия и родственные системы: эксперименты и ab initio расчеты [Текст] / М. В. Кузнецов, А. С. Разинкин, А. Л. Ивановский // Успехи физических наук. - 2010. - Т. 180, N 10. - С. 1035-1054. : 16 рис., 7 табл. - Библиогр.: с. 1053-1054 (121 назв. )

ГРНТИ	29.31.26	29.19.22
УДК	^a535.33	^a539.2

ББК 22.344 + 22.37
Рубрики: Физика
Спектроскопия
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
оксидные наноструктуры -- поверхности ниобия -- металлы -- рентгеновская спектроскопия -- фотоэлектронная дифракция -- туннельная микроскопия -- ab initio методы -- система элементов -- система Менделеева -- Менделеева система
Аннотация: В обзоре представлено современное состояние исследований поверхности ниобия и близких к нему переходных металлов IV-VI групп периодической системы элементов Д. И. Менделеева. Обобщены результаты анализа поверхности d-металлов методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, фотоэлектронной спектроскопии, фотоэлектронной дифракции, сканирующей туннельной микроскопии, а также данные теоретических расчетов этих систем ab initio методами компьютерного моделирования.

Доп.точки доступа:
Разинкин, А. С.; Ивановский, А. Л.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Применение сканирующей туннельной микроскопии для характеристики зеренно-субзеренной структуры СМК никеля после низкотемпературного отжига [Текст] / П. В. Кузнецов [и др.] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2012. - Т. 78, № 4. - С. 26-34. - Библиогр.: с. 34 (29 назв. ) . - ISSN 1028-6861

УДК

^a620.1/.2

^a539.3/.6

ББК 30.3 + 30.121
Рубрики: Техника
Материаловедение
Сопротивление материалов
Кл.слова (ненормированные):
сканирующая туннельная микроскопия -- туннельная микроскопия -- зеренно-субзеренная структура -- субмикрокристаллические материалы -- субмикрокристаллический никель -- низкотемпературный отжиг -- равноканальное угловое прессование -- границы зерен -- микротвердость
Аннотация: Представлен метод оценки распределения зеренно-субзеренной структуры субмикрокристаллических простых металлов по размерам и оценке степени неравновесности их границ после низкотемпературного отжига с помощью сканирующей туннельной микроскопии.

Доп.точки доступа:
Кузнецов, П. В.; Петракова, И. В.; Рахматуллина, Т. В.; Батурин, А. А.; Корзников, А. В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 23.08.2024
Число запросов	17180
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)