Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:Труды АМГУ (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=скейлинговые характеристики<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.


    Масловская, Анна Геннадьевна (кандидат физико-математических наук; докторант; доцент кафедры МАиМ).
    Расчет скейлинговых характеристик РЭМ-изображений доменных структур сегнетоэлектриков методом фрактальной параметризации [Текст] / А. Г. Масловская, Т. К. Барабаш // Вестник Амурского государственного университета. - 2011. - Вып. 55 : Сер. Естеств. и экон. науки. - С. 35-42 : рис. - Библиогр.: с. 41-42 (12 назв.) . - ISSN 2073-0268
УДК
ББК 537 + 22.18
Рубрики: Физика
   Электричество и магнетизм в целом

   Математика

   Математическая кибернетика

   
Кл.слова (ненормированные):
сегнетоэлектрики -- доменные структуры сегнетоэлектриков -- фрактальные методы -- мультифрактальные методы -- рэм-изображения -- анализ изображений -- скейлинговые характеристики -- методы фрактальной параметризации -- кластеры -- алгоритмы анализа изображений -- фрактальные закономерности
Аннотация: Рассмотрены вопросы применения и мультифрактальных методов для анализа скейлинговых характеристик бинарных изображений доменных структур сегнетоэлектриков. В ППП Matlab реализованы алгоритмы фрактальной параметризации, основанные на покрытии изображения квадратными кластерами. Представлены результаты расчета скейлинговых характеристик для РЭМ-изображения доменной структуры сегнетоэлектрического кристалла ТГС.


Доп.точки доступа:
Барабаш, Татьяна Константиновна (ассистент кафедры МАиМ)

Имеются экземпляры в отделах: всего 5 : аб. (2), н.з. (1), эн.ф. (1), ч.з. (1)
Свободны: аб. (2), н.з. (1), эн.ф. (1), ч.з. (1)

Найти похожие

2.


    Салмиянов, Владислав Олегович.
    Адаптированные алгоритмы интеллектуальной спецификации скейлинговых характеристик морфологии культивированных бактерий [Текст] / В. О. Салмиянов, И. А. Шевкун, А. Г. Масловская // Информатика и системы управления. - 2023. - № 4 (78). - С. 75-89 : 6 рис. - Библиогр. в конце ст. . - ISSN 1814-2400
УДК
ББК 32.973-018.2
Рубрики: Вычислительная техника
   Распознавание и преобразование образов

   
Кл.слова (ненормированные):
бактериальная колония -- дендритная структура -- морфология -- мультифрактальный анализ -- растровое изображение -- скейлинговые характеристики -- фрактальный анализ
Аннотация: Междисциплинарный подход, использующий интеллектуальный фрактальный анализ данных и количественную спецификацию сложноструктурированных объектов, нашел применение в микробиологии. В работе представлена программная интеграция трех аналитических методик, обладающих диагностическим потенциалом для исследования скейлинговых характеристик сложной морфологии бактерий при поверхностном культивировании на питательных средах. В качестве алгоритмического базиса рассмотрены: классический метод "box-counting" для фрактального анализа, метод лакунарного анализа и метод мультифрактальной параметризации. В серии вычислительных экспериментов установлены скейлинговые характеристики растровых изображений дендритоподобных бактериальных паттернов, наблюдаемых в практике биологического эксперимента и визуализируемых при реализации гибридной реакционно- диффузионной модели.

Перейти: http://ics.khstu.ru/media/2023/N78_07.pdf

Доп.точки доступа:
Шевкун, Иван Александрович; Масловская, Анна Геннадьевна (доктор физико-математических наук)

Имеются экземпляры в отделах: всего 3 : н.з. (1), аб. (1), эн.ф. (1)
Свободны: н.з. (1), аб. (1), эн.ф. (1)

Найти похожие

 
Статистика
за 03.09.2024
Число запросов 71392
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)