Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

БД "Книги" (2)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=сканирующая зондовая микроскопия<.>)

Общее количество найденных документов : 18
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-18

Особенности микроструктуры сплавов TiC[x]N[y]-TiNi [Текст] / А. Н. Ермаков [и др. ] // Материаловедение. - 2008. - N 8. - С. 56-60

УДК

^a539.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
сплавы -- титан -- никель -- карбонитриды -- никелиды -- интерметаллиды -- наноструктуры -- растровая электронная микроскопия -- сканирующая зондовая микроскопия
Аннотация: Предложено одновременное использование методов визуализации структурно-морфологических особенностей сплавов карбонитрид-никелид титана методами растрово-электронной и сканирующей зондовой микроскопии.

Доп.точки доступа:
Ермаков, А. Н.; Григоров, И. Г.; Мишарина, И. В.; Ермакова, О. Н.; Пушин, В. Г.; Зайнулин, Ю. Г.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Дальнодействующее влияние облучения светом на микротвердость алюминия и кремния [Текст] / Д. И. Тетельбаум [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2008. - Т. 72, N 9. - С. 1373-1376. . - Библиогр.: c. 1376 (21 назв. )

УДК

^a535.21

^a534.16

ББК 22.343 + 22.323
Рубрики: Физика
Физическая оптика
Теория звука
Кл.слова (ненормированные):
алюминий -- кремний -- механические свойства -- микротвердость -- ультразвуковое поле -- эффект фотопамяти металлов -- сканирующая зондовая микроскопия -- эллипсометрия
Аннотация: Исследовано дальнодействующее влияние на микротвердости фольги алюминия и пластин кремния облучения светом в условиях, исключающих значительный макроскопический нагрев образцов.

Доп.точки доступа:
Тетельбаум, Д. И.; Курильчик, Е. В.; Менделева, Ю. А.; Быстрова, О. И.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Кулов, С. К.
Наноразмерные неоднородности на поверхности свинцово-силикатного стекла для МКП [Текст] / С. К. Кулов, А. М. Кармоков, О. А. Молоканов // Известия РАН. Серия физическая. - 2009. - Т. 73, N 11. - С. 1649-1651 : Рис. - Библиогр.: c. 1651 (4 назв. ) . - ISSN 0367-6765

УДК

^a535:621

ББК 22.34
Рубрики: Физика
Оптика в целом
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая спектроскопия -- микроканальные пластины -- морфология поверхности -- отжиг -- поверхности -- свинцово-силикатное стекло -- сканирующая зондовая микроскопия -- стекло С87-2 -- термическое воздействие -- шероховатость поверхностей
Аннотация: Методом атомно-силовой спектроскопии исследовано изменение морфологии поверхности свинцово-силикатного стекла С87-2 после отжига при различных условиях.

Доп.точки доступа:
Кармоков, А. М.; Молоканов, О. А.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Маловичко, И. М.
Применение фазокомпенсирующего метода обратной динамики для увеличения скорости сканирования зондового микроскопа [Текст] / И. М. Маловичко, А. Ю. Остащенко, С. И. Леесмент // Известия РАН. Серия физическая. - 2011. - Т. 75, N 1. - С. 14-17. . - Библиогр.: с. 17 (7 назв. )

УДК

^a53.082.17

ББК 22.3
Рубрики: Физика
Общие вопросы физики
Кл.слова (ненормированные):
быстрое преобразование Фурье -- зондовые микроскопы -- метод восстановления изображения -- метод упреждающего управления -- сканирующая зондовая микроскопия -- скорость сканирования -- фазокомпенсирующий метод обратной динамики -- Фурье быстрое преобразование
Аннотация: В статье рассматривается проблема низкой скорости сканирования зондового микроскопа.

Доп.точки доступа:
Остащенко, А. Ю.; Леесмент, С. И.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Комплекс методик для установления основных аттестационных характеристик наночастиц металлов [Текст] / И. П. Арсентьева [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2011. - Т. 75, N 11. - С. 1566-1572. : рис. - Библиогр.: c. 1572 (6 назв. )

УДК

^a620.18

ББК 30.3
Рубрики: Техника
Материаловедение
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- аттестационные характеристики -- нанодиагностика -- нанопорошки -- наночастицы металлов -- просвечивающая электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- рентгеноструктурный анализ -- сканирующая зондовая микроскопия
Аннотация: Создание наноматериалов, в том числе наночастиц (НЧ), и их дальнейшее применение представляет собой цепочку, включающую “производство нанопорошков - нанодиагностику - их использование”. При этом связующее звено - установление основных аттестационных характеристик НЧ предложенными взаимодополняющими методами на нанометровом уровне.

Доп.точки доступа:
Арсентьева, И. П.; Лейпунский, И. О.; Жигач, А. Н.; Арсентьев, А. А.; Кусков, М. Л.; Зотова, Е. С.; Жигалина, О. М.; Артемов, В. В.; Дзидзигури, Э. Л.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Геометрическое моделирование структуры наноматериалов для тестирования методов сегментации изображений сканирующей зондовой микроскопии [Текст] / А. В. Смурыгин [и др. ] // Математическое моделирование. - 2011. - Т. 23, № 12. - С. 143-150 : 6 рис. - Библиогр.: с. 150 (13 назв. ) . - ISSN 0234-0879

УДК

^a51

^a519.6

ББК 22.19 + 22.19
Рубрики: Математика
Вычислительная математика
Кл.слова (ненормированные):
модельные изображения -- алгоритмы сегментации -- наноматериалы -- сканирующая зондовая микроскопия
Аннотация: Разработана методика формирования модельных изображений, которые используются для тестирования алгоритмов сементации изображений сканирующей зондовой микроскопии. Трехмерная геометрическая модель наноматериалов является комбинацией объектов априорно выбранных форм и размеров с заданной степенью перекрытия. Реализована возможность деформации опорной поверхности модели для имитации крупномасштабной неровности образца реального наноматериала. Такой подход обеспечивает визуальный контроль по растровому изображению модели и представляет параметры для сравнительного анализа эффективности различных алгоритмов сегментации: количество распознаваемых фрагментов объектов, площадь фона и площадь каждого фрагмента в масштабе изображения.

Доп.точки доступа:
Смурыгин, А. В. (Физико-технический институт УрО РАН, г. Ижевск); Карбань, О. В. (Физико-технический институт УрО РАН, г. Ижевск); Немцова, О. М. (Физико-технический институт УрО РАН); Хлопов, Д. В. (Физико-технический институт УрО РАН, г. Ижевск); Журбин, И. В. (Физико-технический институт УрО РАН, г. Ижевск)

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Исследование полупроводниковых слоистых систем фотоники [Текст] / Д. В. Абрамов [и др.] // Известия РАН. Серия физическая. - 2012. - Т. 76, № 6. - С. 698-701 : рис. - Библиогр.: c. 701 (7 назв. ) . - ISSN 0367-6765

УДК

^a621.37:620.187

ББК 32
Рубрики: Радиоэлектроника
Радиоэлектроника в целом
Кл.слова (ненормированные):
геометрические характеристики -- диагностика -- лазерные диоды -- полупроводниковые лазеры -- растровая электронная микроскопия -- сканирующая зондовая микроскопия -- слоистые системы -- спектроскопия комбинационного рассеяния -- фотоника
Аннотация: Проведены экспериментальные исследования структуры полупроводникового лазера на гетероструктурах при помощи комплекса, включающего в себя системы растровой электронной микроскопии, сканирующей зондовой микроскопии и спектроскопии комбинационного рассеяния. Показаны возможности микроскопии высокого разрешения для диагностики слоистых систем микроэлектроники.

Доп.точки доступа:
Абрамов, Д. В.; Хорьков, К. С.; Кутровская, С. В.; Номан, М. А. А.; Прокошев, В. Г.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Автоматическое определение размеров зерен наноструктурированных материалов [Текст] / К. С. Кравчук [и др.] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2012. - Т. 78, № 5. - С. 37-40. - Библиогр.: с. 40 (6 назв. ) . - ISSN 1028-6861

УДК

^a53.07

^a539.2

ББК 22.3с + 22.37
Рубрики: Физика
Физические приборы и методы физического эксперимента
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
определение размеров зерен -- наноструктурированные материалы -- композитные материалы -- анализ изображения поверхности -- сканирующая зондовая микроскопия -- автоматическое определение параметров -- распределение зерен -- электронная просвечивающая микроскопия -- детектирование зерен
Аннотация: Описан автоматизированный метод определения размеров частиц наноструктурированных композитных материалов на основе анализа изображения поверхности, полученного методом сканирующей зондовой микроскопии.

Доп.точки доступа:
Кравчук, К. С.; Львова, Н. А.; Медведев, В. В.; Соловьева, Л. Ф.; Широков, И. А.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Автоматическое измерение отпечатка на поверхности композитного образца при испытании на микротвердость [Текст] / Н. А. Львова [и др.] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2012. - Т. 78, № 8. - С. 40-45. - Библиогр.: с. 45 (5 назв. ) . - ISSN 1028-6861

УДК

^a004.93

^a620.1/.2

^a539.2

ББК 32.973-018.2 + 30.3 + 22.37
Рубрики: Вычислительная техника
   Распознавание и преобразование образов
   Техника
   Материаловедение
   Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
автоматические измерения -- испытания на микротвердость -- остаточные отпечатки -- зеренная структура -- обработка фотографий -- оптические фотографии -- трехмерные изображения -- сканирующая зондовая микроскопия -- зондовая микроскопия -- неразрушающий контроль -- физико-химический анализ -- индентирование -- программные модули
Аннотация: Разработан автоматизированный метод определения длин диагоналей и контуров остаточного отпечатка при измерениях микротвердости образцов, имеющих зеренную структуру.

Доп.точки доступа:
Львова, Н. А.; Львов, Д. В.; Кравчук, К. С.; Соловьева, Л. Ф.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

10.

Лозовский, В. Н.
Методика получения нанометок и их применение для позиционирования в сканирующей зондовой микроскопии [Текст] / В. Н. Лозовский, В. А. Ирха, С. Н. Чеботарев // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2012. - Т. 78, № 9. - С. 33-36. - Библиогр.: с. 36 (7 назв. ) . - ISSN 1028-6861

УДК

^a620.1/.2

ББК 30.3
Рубрики: Техника
Материаловедение
Кл.слова (ненормированные):
позиционные нанометки -- нанометки -- позиционирование -- сканирующая зондовая микроскопия -- реперы поверхности -- разложение молекул -- электронно-стимулированное осаждение -- газовые среды -- прекурсоры -- газы-прекурсоры -- углеродные вискеры -- углеродные метки
Аннотация: Описан метод создания и использования специальных нанометок для позиционирования исследуемого с помощью сканирующей зондовой микроскопии участка поверхности образца, не имеющей естественных реперов. В основу метода положен эффект электронно-стимулированного разложения молекул, содержащих необходимый элемент, адсорбированных на соответствующей поверхности из окружающей газовой среды.

Доп.точки доступа:
Ирха, В. А.; Чеботарев, С. Н.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

1-10 11-18

Тематический навигатор

Статистика за 01.09.2024
Число запросов	70099
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)