Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=ситалловая подложка<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.


   
    Пироэлектрические и пьезоэлектрические петли гистерезиса в тонких пленках ЦТС с избыточным содержанием оксида свинца [Текст] / А. А. Богомолов [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2007. - Т. 71, N 10. - С. 1422-1423. - Библиогр.: c. 1423 (6 назв. )
УДК
ББК 22.33
Рубрики: Физика
   Электричество и магнетизм

Кл.слова (ненормированные):
гистерезис -- кремниевая подложка -- оксид свинца -- перовскитовая структура -- пироэлектрические петли -- пленки ЦТС -- поликристаллические пленки -- пьезоэлектрические петли -- сегнетоэлектрические пленки -- ситалловая подложка -- тонкие пленки
Аннотация: Проведен сравнительный анализ пироэлектрических и пьезоэлектрических петель гистерезиса тонких пленок PbZr[0. 54]Ti[0. 46]O[3]+10 мол. % PbO, сформированных в идентичных условиях на подложках ситалла и кремния. Существенные различия в поведении исследуемых параметров связаны с различным характером двуосных механических напряжений, действующих на сегнетоэлектрическую пленку со стороны ситалловой и кремниевой подложек.


Доп.точки доступа:
Богомолов, А. А.; Сергеева, О. Н.; Пронин, И. П.; Каптелов, Е. Ю.; Киселев, Д. А.; Холкин, А. Л.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

2.


   
    Применение метода спектральной эллипсометрии для характеризации наноразмерных пленок с ферромагнитными слоями [Текст] / Х. Хашим [и др.] // Физика твердого тела. - 2017. - Т. 59, вып. 11. - С. 2191-2195 : 7 рис. - Библиогр. в конце ст. (19 назв.) . - ISSN 0367-3294
УДК
ББК 22.373
Рубрики: Физика
   Электрические и магнитные свойства твердых тел--Россия--Нижний Новгород, 2017 г.

Кл.слова (ненормированные):
магнитооптика -- наноразмерные пленки -- ситалловая подложка -- спектральная эллипсометрия -- ферромагнитные слои -- эллипсометрия
Аннотация: С помощью методов эллипсометрии были исследованы оптические и структурные параметры многослойных пленок на ситалловой подложке.


Доп.точки доступа:
Хашим, Х.; Сингх, С. П.; Панина, Л. В.; Пудонин, Ф. А.; Шерстнев, И. А.; Подгорная, С. В.; Шпетный, И. А.; Беклемишева, А. В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

 
Статистика
за 02.09.2024
Число запросов 20650
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)