Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска
БД "Книги"
БД "Статьи"
Труды АМГУ
Выпускные квалификационные работы
Антитеррор
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=силицидные эвтектики<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.


    Гнесин, Б. А.
    Сравнение элементного состава с помощью масс-спектроскопии вторичных ионов образцов силицидных эвтектик (Mo, W) [5]Si[3] + (Mo, W) Si[2] [Текст] / Б. А. Гнесин, И. Б. Гнесин, Е. А. Фролова // Материаловедение. - 2010. - N 11. - С. 18-27.
УДК
^a546
^a543.4/.5
ББК 24.12 + 24.46/48
Рубрики: Химия
   Химические элементы и их соединения
   Физико-химические методы анализа
Кл.слова (ненормированные):
эвтектики -- силицидные эвтектики -- двойные силицидные эвтектики -- молибден -- вольфрам -- силициды -- углерод в силицидах -- анализ содержания примесей -- масс-спектроскопия -- вторичные ионы -- масс-спектроскопия вторичных ионов -- алмазные порошки -- изотопы -- поликристаллы -- примеси
Аннотация: Метод масс-спектроскопии вторичных ионов (SIMS) потенциально пригоден для анализа малых концентраций примесей таких элементов, как H, B, C, O, N, F. Принципиальной проблемой метода SIMS является трудность получения количественных данных о реальных концентрациях.


Доп.точки доступа:
Гнесин, И. Б.; Фролова, Е. А.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика
за 03.07.2024
Число запросов 70998
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)