Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=резерфордовское обратное рассеяние<.>)

Общее количество найденных документов : 9
Показаны документы с 1 по 9

Зенкевич, А. В.
Формирование поликристаллической фазы FeSi со структурой CsCl в соосажденных тонкопленочных слоях Fe[x]Si[1-x] (х = 0. 5-0. 6) [Текст] / А. В. Зенкевич, Д. Э. Лауэр, В. П. Филиппов // Известия РАН. Серия физическая. - 2007. - Т. 71, N 9. - С. 1313-1315. - Библиогр.: c. 1315 (13 назв. )

УДК

^a539.234

ББК 22.37
Рубрики: Физика
Физика твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
железо -- импульсное лазерное осаждение -- конверсионная электронная мёссбауэровская спектроскопия -- мёссбауэровская спектроскопия -- молекулярно-лучевая эпитаксия -- резерфордовское обратное рассеяние -- силициды железа -- система Fe-Si
Аннотация: Исследовались особенности фазообразования в системе Fe-Si в области концентраций Fe[x]Si[1-x] (х = 0. 5-0. 6).

Доп.точки доступа:
Лауэр, Д. Э.; Филиппов, В. П.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Лукашевский, М. В.
Электронная спектроскопия покрытий, полученных способом микродугового оксидирования [Текст] / М. В. Лукашевский, С. Д. Федорович, А. В. Лубенченко // Вестник Московского энергетического института. - 2007. - N 2. - С. 132-136. - Библиогр.: с. 136

УДК

^a53

ББК 22.3
Рубрики: Физика
Кл.слова (ненормированные):
электронная спектроскопия -- микродуговое оксидирование -- тонкие покрытия -- имитационное моделирование -- РОР -- резерфордовское обратное рассеяние
Аннотация: Представлен метод спектроскопии отраженных электронов, применяемый для анализа тонких покрытий, полученных способом микродугового оксидирования.

Доп.точки доступа:
Федорович, С. Д.; Лубенченко, А. В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : эн.ф. (1)
Свободны: эн.ф. (1)

Найти похожие

Ионно-лучевой синтез нанокристаллов InAs в кристаллическом кремнии [Текст] / Ф. Ф. Комаров [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2010. - Т. 74. N 2. - С. 273-276 : Рис. - Библиогр.: c. 276 (2 назв. ) . - ISSN 0367-6765

УДК

^a539.2:669

ББК 22.37
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
высокодозная имплантация -- ионно-лучевой синтез -- кристаллический кремний -- нанокристаллы InAs -- отжиг -- просвечивающая электронная микроскопия -- резерфордовское обратное рассеяние -- спектры фотолюминесценции -- фотолюминесценция
Аннотация: Проведены исследования формирования наноразмерных кристаллитов InAs в подложках Si методом высокодозной имплантации ионов As и In и последующей высокотемпературной обработки. Установлено, что распределения кристаллитов по размерам и по глубине образцов зависят как от температуры имплантации, так и от условий отжига. В спектрах фотолюминесценции образцов с нанокристаллитами зарегистрирована широкая полоса в диапазоне энергий 0. 75-1. 1 эВ.

Доп.точки доступа:
Комаров, Ф. Ф.; Мильчанин, О. В.; Власукова, А. А.; Веш, В.; Комаров, А. Ф.; Мудрый, А. В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Измерение элементного состава углеродных и композиционных керамических материалов методами ИПРИ и РОР [Текст] / В. С. Авилкина [и др. ] // Физика и химия обработки материалов. - 2011. - N 1. - С. 51-54.

УДК

^a621:620.22

ББК 34.43
Рубрики: Машиностроение
Машиностроительные материалы и изделия
Кл.слова (ненормированные):
протонно-индуцированное рентгеновское излучение -- резерфордовское обратное рассеяние -- керамические покрытия -- микродуговое оксидирование -- никелид титана -- пиролитический графит
Аннотация: Методами спектрометрии ИПРИ и РОР исследован элементный состав керамического покрытия на Zr сплаве, поверхностных слоев никелида титана после термообработки и пиролитического графита после высокодозовой имплантации ионами Ar. Показано, что методы ИПРИ и РОР дополняют друг друга, и их совместное применение позволяет получать дополнительную информацию об элементном составе поверхностных слоев. Установлено, что при микродуговом оксидировании сплава Zr в электролите с добавками ультрадисперсных порошков происходит внедрение Y в материал подложки. После термообработки сплава обнаружен эффект поверхностной сегрегации Ti.

Доп.точки доступа:
Авилкина, В. С.; Борисов, А. М.; Владимиров, Б. В.; Петухов, В. П.; Черных, П. Н.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Состав и нанотвердость покрытий на Si, полученных методом ионно-ассистированного осаждения [Текст] / И. С. Ташлыков [и др. ] // Физика и химия обработки материалов. - 2011. - N 1. - С. 66-70.

УДК

^a621.78

ББК 34.65
Рубрики: Машиностроение
Упрочнение металлов
Кл.слова (ненормированные):
кремний -- композиционный состав покрытий -- метод ионно-ассистированного осаждения -- ионно-ассистированные осаждения -- нанотвердость покрытий -- метод резерфордовского обратного рассеяния -- резерфордовское обратное рассеяние -- метод РОР -- титан -- молибден
Аннотация: Методом резерфордовского обратного рассеяния c компьютерным моделированием экспериментальных спектров исследован композиционный состав покрытий C, Ti, Zr и Mo на Si, полученных методом ионно-ассистированного осаждения. Показано, что в состав покрытий кроме основного компонента входят элементы остаточной атмосферы вакуумной камеры (C, H, O) и Si из подложки. Нанотвердость тонкого (50 нм) поверхностного слоя покрытий в 3-9 раз выше, чем исходного кремния.

Доп.точки доступа:
Ташлыков, И. С.; Барайшук, С. М.; Тульев, В. В.; Гременок, В. Ф.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Диагностика наноразмерных сегнетоэлектрических пленок на полупроводниковых и диэлектрических подложках методом РОР-спектроскопии [Текст] / М. С. Афанасьев [и др.] // Наноматериалы и наноструктуры. - 2011. - № 3. - С. 50-56. - Библиогр.: с. 56 (13 назв.)

УДК

^a544

ББК 24.5
Рубрики: Химия
Физическая химия в целом
Кл.слова (ненормированные):
сегнетоэлектрические пленки -- наноматериалы -- оксид магния -- ионо-пучковая диагностика -- резерфордовское обратное рассеяние -- перовскит
Аннотация: Определена толщина наноразмерных сегнетоэлектрических пленок на подложках, степень их элементной неоднородности по толщине, а также степень их диффузионного загрязенения атомами подложек.

Доп.точки доступа:
Афанасьев, М. С.; Егоров, В. К.; Чучева, Г. В.; Лучников, П. А.; Буров, А. В.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Туровец, А. И.
Элементный состав и свойства поверхности графита, облученного ионами ксенона [Текст] / А. И. Туровец, И. С. Ташлыков // Физика и химия обработки материалов. - 2013. - № 3. - С. 5-12 . - ISSN 0015-3214

УДК

^a539.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- гидрофобизация -- графит -- ионное облучение -- ксенон -- морфология поверхностей -- обратное рассеяние -- резерфордовское обратное рассеяние -- смачиваемость -- топография
Аннотация: Изучено влияние облучения ионами Xe+ на структуру, элементный состав, топографию и смачиваемость поверхности графита. Показано, что с увеличением дозы облучения концентрация Xe на поверхности графита возрастает, а в более глубоких слоях — уменьшается. Установлено, что вызванное ионным облучением изменение топографии поверхности графита приводит к ее гидрофобизации.

Доп.точки доступа:
Ташлыков, И. С.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Егоров, В. К.
Возможности ионно-пучковой диагностики тонкопленочных эпитаксильных и неориентированных структур [Текст] / В. К. Егоров, Е. В. Егоров, М. С. Афанасьев // Известия РАН. Серия физическая. - 2014. - Т. 78, № 6. - С. 700-704. - Библиогр.: c. 704 (13 назв. ) . - ISSN 0367-6765

УДК

^a537.531:535

ББК 22.33
Рубрики: Физика
Электричество и магнетизм в целом
Кл.слова (ненормированные):
ионно-пучковая диагностика -- ионно-пучковый аналитический комплекс Сокол-3 -- неориентированные структуры -- резерфордовское обратное рассеяние -- тонкопленочные эпитаксиальные структуры
Аннотация: В работе кратко обсуждаются некоторые возможности и особенности ионно-пучковой диагностики тонкопленочных эпитаксиальных и неориентированных структур. Проиллюстрировано на конкретных примерах главное достоинство этой диагностики: способность построения элементного концентрационного профиля по толщине мишени на глубину в несколько микрометров без ее деструкции и без использования эталонов. В качестве базового инструмента ионно-пучкового зондирования материалов дана краткая характеристика ионно-пучкового аналитического комплекса Сокол-3.

Доп.точки доступа:
Егоров, Е. В.; Афанасьев, М. С.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Егоров, В. К.
Ионно-пучковые и рентгеновские методы элементной диагностики тонкопленочных покрытий [Текст] / В. К. Егоров, Е. В. Егоров, М. С. Афанасьев // Физика твердого тела. - 2019. - Т. 61, вып. 12. - С. 2454-2460 : 5 рис. - Библиогр. в конце ст. (24 назв.) . - ISSN 0367-3294

УДК

^a539.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом--Россия--Санкт-Петербург, 2019 г.
Кл.слова (ненормированные):
доклады -- конференции -- кристаллография в целом -- резерфордовское обратное рассеяние -- рентгенофлуоресцентная диагностика -- рентгенофлуоресцентный анализ -- тонкопленочные покрытия -- элементная диагностика
Аннотация: Показано, как совместное использование методов резерфордовского обратного рассеяния ионов, рентгенофлуоресцентного анализа позволяет эффективно диагностировать элементный состав тонкопленочных покрытий и пленок сухих остатков жидкостей.

Доп.точки доступа:
Егоров, Е. В.; Афанасьев, М. С.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 24.08.2024
Число запросов	169944
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)