Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

в найденном

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=растровые электронные микроскопы<.>)

Общее количество найденных документов : 19
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-19

Моделирование пористости в карбонатных пластах на примере Оренбургского нефтегазоконденсатного месторождения [Текст] / Н. А. Скибицкая [и др. ] // Известия вузов. Геология и разведка. - 2007. - N 3. - С. 71-74. - Библиогр.: с. 76 (12 назв. )

ГРНТИ	38.53
УДК	^a553.98

ББК 26.325.4
Рубрики: Геология
Нефть и газы--Россия--Оренбургская область
Кл.слова (ненормированные):
карбонатные месторождения -- растровые электронные микроскопы -- электронные микроскопы -- поровое пространство -- карбонатные пласты -- известняки -- электронно-микроскопические исследования -- кластеры -- фрактальная геометрия -- породы-коллекторы -- пористые зоны -- нефтегазоконденсатные месторождения -- месторождения нефтегазоконденсата
Аннотация: На примере опытного участка Оренбургского нефтегазоконденсатного месторождения построена трехмерная очаговая модель распределения разномасштабных и отличающихся по плотности очагов формирования и развития пористых зон за счет вторичных процессов в геологическом теле залежи.

Доп.точки доступа:
Скибицкая, Н. А.; Сурначев, Д. В.; Большаков, М. Н.; Кузьмин, В. А.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Скибицкая, Н. А.
Методика исследования в растровом электронном микроскопе матричной нефти [Текст] / Н. А. Скибицкая, В. А. Кузьмин, А. В. Гаршев // Известия РАН. Серия физическая. - 2008. - Т. 72, N 11. - С. 1567-1570. : рис. - Библиогр.: c. 1570 (7 назв. )

УДК

^a537.533.35

^a621.382

ББК 22.338 + 32.852
Рубрики: Физика
   Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях
   Радиоэлектроника
   Полупроводниковые приборы
Кл.слова (ненормированные):
растровые электронные микроскопы -- карбонатные минерально-органические полимеры -- матричная нефть -- карбонатные породы -- локальные возмущения -- уравнения Ландау-Лифшица -- Ландау-Лифшица уравнения
Аннотация: Предложены методы исследования сколов пород в РЭМ при различных ускоряющих напряжениях, позволяющие идентифицировать матричную нефть за счет выделения фазы с высоким содержанием легких элементов (углерода).

Доп.точки доступа:
Кузьмин, В. А.; Гаршев, А. В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Первые российские стандарты в нанотехнологии [Текст] / В. П. Гавриленко [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2009. - Т. 73, N 4. - С. 454-462. : рис. - Библиогр.: c. 462 (13 назв. )

УДК

^a621.3.049:537.533:620.187:539.25

ББК 31.2
Рубрики: Энергетика
Электротехника в целом
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовые микроскопы -- растровые электронные микроскопы -- Первичный эталон длины -- нанотехнология -- нанометрология -- стандартизация -- нанометровый диапазон -- единица длины
Аннотация: Рассмотрены вопросы обеспечения единства измерений в нанотехнологии.

Доп.точки доступа:
Гавриленко, В. П.; Лесновский, Е. Н.; Новиков, Ю. А.; Раков, А. В.; Тодуа, П. А.; Филиппов, М. Н.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Новиков, Ю. А.
Калибровка атомно-силовых микроскопов [Текст] / Ю. А. Новиков, А. В. Раков, П. А. Тодуа // Известия РАН. Серия физическая. - 2009. - Т. 73, N 4. - С. 473-484. : рис. - Библиогр.: c. 483-484 (28 назв. )

УДК

^a537.533:620187:539.25

ББК 22.338
Рубрики: Физика
Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовые микроскопы -- калибровка АСМ -- растровые электронные микроскопы -- параметры АСМ -- экспериментальные исследования -- геометрические модели -- сканирование -- геометрические свойства -- поверхности
Аннотация: Приведены методы калибровки атомно-силовых микроскопов (АСМ) с использованием сигнала АСМ и его первой производной.

Доп.точки доступа:
Раков, А. В.; Тодуа, П. А.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Определение средней энергии отраженных электронов в зависимости от угла их выхода [Текст] / А. В. Гостев [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2010. - Т. 74, N 7. - С. 1010-1019. . - Библиогр.: c. 1019 (29 назв. )

УДК

^a621.385.833:548.316

ББК 32.851
Рубрики: Радиоэлектроника
Электровакуумные приборы
Кл.слова (ненормированные):
отраженные электроны -- полупроводниковые детекторы -- растровые электронные микроскопы -- средняя энергия отраженных электронов -- углы детектирования ОЭ -- Фарадея цилиндр -- цилиндр Фарадея -- энергетические спектры ОЭ
Аннотация: Для измерений средней энергии отраженных электронов как функции угла их вылета из поверхности применен полупроводниковый детектор. Обнаружены новые закономерности отражения электронов, в частности, выявлен немонотонный характер изменения средней энергии эмитированных электронов как функции от угла вылета и начальной энергии первичных электронов для материалов с различным атомным номером.

Доп.точки доступа:
Гостев, А. В.; Дицман, С. А.; Дюков, В. Г.; Лукьянов, Ф. А.; Рау, Э. И.; Сеннов, Р. А.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Селективный рост одностенных углеродных нанотрубок и изготовление устройств на их основе [Текст] / О. В. Кононенко [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2010. - Т. 74, N 7. - С. 1032-1034. : Рис. - Библиогр.: c. 1034 (20 назв. )

УДК

^a546.26:621.3.049.7

ББК 24.12
Рубрики: Химия
Химические элементы и их соединения
Кл.слова (ненормированные):
CVD-синтеза нанотрубок -- каталитический CVD-синтез -- кельвиновский режим -- одностенные углеродные нанотрубки -- окисленный кремний -- оптическая литография -- растровые электронные микроскопы -- сканирующие зондовые микроскопы
Аннотация: Одностенные углеродные нанотрубки (ОНТ) были синтезированы на заданных участках подложек из окисленного кремния методом CVD однократным напуском ацетилена. Нанотрубки были исследованы в высокоразрешающем растровом электронном микроскопе (РЭМ) и в сканирующем зондовом микроскопе (СЗМ). С помощью нанесения электродов из Pd и Pd/Al на полученные ОНТ были изготовлены устройства для измерения сопротивления серии нанотрубок и индивидуальных нанотрубок. С применением кельвиновского режима СЗМ была измерена контактная разность потенциалов между Pd-электродом и углеродной нанотрубкой.

Доп.точки доступа:
Кононенко, О. В.; Матвеев, В. Н.; Касумов, Ю. А.; Ходос, И. И.; Матвеев, Д. В.; Божко, С. И.; Волков, В. Т.; Князев, М. А.; Фирсов, А. А.; Ильин, А. И.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Мельников, А. А.
Анализ коэффициента сборки низковольтного РЭМ [Текст] / А. А. Мельников, О. Д. Потапкин // Известия РАН. Серия физическая. - 2010. - Т. 74, N 7. - С. 1052-1055. : Рис. - Библиогр.: c. 1055 (9 назв. )

УДК

^a557.533

ББК 22.338
Рубрики: Физика
Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях
Кл.слова (ненормированные):
вторичные траектории -- вторичные электроны -- движение электронов -- детекторы Эверхарта-Торнли -- низковольтные РЭМ -- отраженные электроны -- растровые электронные микроскопы -- Эверхарта-Торнли детекторы -- электростатические детекторы
Аннотация: Проводится анализ сбора электронов полем электростатических детекторов, расположенных над объективной линзой низковольтного РЭМ. Ускоряющее первичный пучок поле над объективной линзой является полем электростатического зеркала для вторичных и отраженных электронов. Анализируются вопросы движения вторичных и отраженных электронов.

Доп.точки доступа:
Потапкин, О. Д.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Орликовский, Н. А.
Контраст изображений в режиме детектирования отраженных электронов в сканирующей электронной микроскопии и микротомографии [Текст] / Н. А. Орликовский, Э. И. Рау // Известия РАН. Серия физическая. - 2011. - Т. 75, N 9. - С. 1305-1311. . - Библиогр.: c. 1311 (20 назв. )

УДК

^a544.3

ББК 24.46/48
Рубрики: Химия
Физико-химические методы анализа
Кл.слова (ненормированные):
контраст изображений -- микротомография -- отраженные электроны -- пленочные структуры -- полупроводниковые детекторы -- растровые электронные микроскопы -- сканирующая электронная микроскопия
Аннотация: Рассмотрены основные закономерности формирования контраста изображений в режиме отраженных электронов для массивных и пленочных структур в растровом электронном микроскопе. Показано существенное влияние параметров полупроводниковых детекторов на характер контраста изображения. Приведен расчет величины контраста в зависимости от состава участков мишени, от энергии первичных электронов, от способа детектирования сигнала.

Доп.точки доступа:
Рау, Э. И.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Наноразмерные эталонные образцы на базе трековых полимерных мембран [Текст] / И. Г. Григоров [и др. ] // Доклады Академии наук. - 2011. - Т. 441, N 1. - С. 68-71. . - Библиогр.: с. 70-71

УДК

^a537.8

ББК 22.338
Рубрики: Физика
Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях
Кл.слова (ненормированные):
растровые электронные микроскопы -- сканирующие зондовые микроскопы -- наноструктуры кремния -- островковое золото -- нитрид титана -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- измерение нанообъектов
Аннотация: Продемонстрирована возможность использования для поверки и калибровки РЭМ, а также СЗМ, работающих в режимах сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) и атомно-силового микроскопа (АСМ), трековых полимерных мембран с проводящим покрытием из нитрида титана.

Доп.точки доступа:
Григоров, И. Г.; Логинов, Б. А.; Борисов, С. В.; Поляков, Е. В.; Хлебников, Н. А.; Ромашев, Л. Н.; Зайнулин, Ю. Г.; Швейкин, Г. П.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

10.

Федотов, Г. Н.
Почвенные гели и их исследование [Текст] / Г. Н. Федотов, Г. В. Добровольский // Доклады Академии наук. - 2012. - Т. 444, № 1, май. - С. 114-117 : 2 рис. - Библиогр.: с. 117 . - ISSN 0869-5652

УДК

^a631.4

ББК 40.3
Рубрики: Сельское хозяйство
Почвоведение
Кл.слова (ненормированные):
растровые электронные микроскопы -- почвенные гели -- слои гептана
Аннотация: Выяснена природа и причины выделения из воздушно-сухих почв и подьема на поверхность воды гелевых пленок.

Доп.точки доступа:
Добровольский, Г. В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

1-10 11-19

Тематический навигатор

Статистика за 19.08.2024
Число запросов	47916
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)