Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=пленки ЦТС<.>)

Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3

Пироэлектрические и пьезоэлектрические петли гистерезиса в тонких пленках ЦТС с избыточным содержанием оксида свинца [Текст] / А. А. Богомолов [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2007. - Т. 71, N 10. - С. 1422-1423. - Библиогр.: c. 1423 (6 назв. )

УДК

^a537.226

ББК 22.33
Рубрики: Физика
Электричество и магнетизм
Кл.слова (ненормированные):
гистерезис -- кремниевая подложка -- оксид свинца -- перовскитовая структура -- пироэлектрические петли -- пленки ЦТС -- поликристаллические пленки -- пьезоэлектрические петли -- сегнетоэлектрические пленки -- ситалловая подложка -- тонкие пленки
Аннотация: Проведен сравнительный анализ пироэлектрических и пьезоэлектрических петель гистерезиса тонких пленок PbZr[0. 54]Ti[0. 46]O[3]+10 мол. % PbO, сформированных в идентичных условиях на подложках ситалла и кремния. Существенные различия в поведении исследуемых параметров связаны с различным характером двуосных механических напряжений, действующих на сегнетоэлектрическую пленку со стороны ситалловой и кремниевой подложек.

Доп.точки доступа:
Богомолов, А. А.; Сергеева, О. Н.; Пронин, И. П.; Каптелов, Е. Ю.; Киселев, Д. А.; Холкин, А. Л.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Особенности процессов кристаллизации сегнетоэлектрика в многослойных наноразмерных гетероструктурах [Текст] / К. А. Воротилов [и др.] // Наноматериалы и наноструктуры - XXI век. - 2012. - Т. 3, № 1. - С. 3-13. - Библиогр.: c. 12-13 . - ISSN 2225-0999

УДК

^a539.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Физика
Кл.слова (ненормированные):
ЦТС -- диэлектрическая проницаемость -- кристаллизация сегнетоэлектриков -- микроструктуры -- многослойные наноразмерные гетероструктуры -- пленки ЦТС -- поляризация -- сегнетоэлектрические золь-гель пленки -- цирконат-титанат свинца
Аннотация: Исследованы микроструктурные и электрофизические свойства тонких сегнетоэлектрических золь-гель пленок ЦТС (PbZr_0, 48Ti_0, 52O_3), сформированных методом центрифугирования на подложках Pt/TiO_2/SiO_2_/Si с температурой кристаллизации от 550…900 °С. Обсуждены особенности образования зеренной структуры ЦТС, диффузионные процессы, поляризационные свойства и вольт-фарадные характеристики многослойных наноразмерных гетероструктур, сформированных при различных температурах отжига слоя ЦТС.

Доп.точки доступа:
Воротилов, К. А.; Жигалина, О. М.; Подгорный, Ю. В.; Серегин, Д. С.; Сигов, А. С.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Влияние легирования лантаном на структуру пленок ЦТС [Текст] / О. М. Жигалина [и др.] // Наноматериалы и наноструктуры - XXI век. - 2012. - № 4. - С. 17-21 : рис. - Библиогр.: c. 20-21 (8 назв. ) . - ISSN 2225-0999

УДК

^a539.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
ЦТС -- легирование лантаном -- метод электронной микроскопии -- пленки ЦТС -- титанат-цирконат свинца -- фазовый состав материалов -- электронная микроскопия
Аннотация: Методами просвечивающей электронной микроскопии, энергодисперсионного и рентгенофазового анализа исследованы структура, текстура и фазовый состав пленок ЦТС, легированных лантаном с концентрацией 2, 5 и 8 мол. % после отжига при температуре T = 650°C. Пленки получали методом химического осаждения и наносили на подложки Si-SiO (2) -TiO (2) -Pt. Установлено, что легирование лантаном повышает температуру превращения пирохлора в перовскитную фазу по сравнению с аналогичными пленками без лантана, что необходимо учитывать при выборе оптимальной температуры кристаллизации этих пленок.

Доп.точки доступа:
Жигалина, О. М.; Хмеленин, Д. М.; Котова, Н. М.; Шестакова, Ю. А.; Воротилов, К. А.; Сигов, А. С.; Дьяконова, Н. Б.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 06.07.2024
Число запросов	48022
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)