Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=параметры микрорельефа<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.


    Абрамов, А. В.
    Метод компенсации дополнительной погрешности измерения параметров микрорельефа на основе использования оптико-электронного комплекса [Текст] / А. В. Абрамов, А. И. Никонов // Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика. - 2010. - N 8. - С. 34-42. : 8 рис. - Библиогр.: с. 42 (12 назв. )
ГРНТИ
УДК
ББК 32.96
Рубрики: Радиоэлектроника
   Автоматика и телемеханика

Кл.слова (ненормированные):
оптико-электронные комплексы -- преобразователи -- параметры микрорельефа -- погрешности -- компенсации погрешности -- световые потоки -- автокорреляционные функции
Аннотация: Рассматривается метод компенсации дополнительной погрешности измерения оптико-электронными средствами параметров микрорельефа поверхности, которая возникает вследствие отклонения уровня светового потока от его номинального значения. Метод основывается на определении автокорреляционных функций по изображениям анализируемых поверхностей.


Доп.точки доступа:
Никонов, А. И.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

 
Статистика
за 04.09.2024
Число запросов 46038
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)