Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=отбраковка<.>)

Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4

Галеев, А.
Отбор электронных изделий для аппаратуры, работающей в космосе [Текст] / А. Галеев, С. Малкин, В. Семенов // Электроника: наука, технология, бизнес. - 2009. - N 1. - С. 42-44.

УДК

^a621.38

ББК 32.85
Рубрики: Радиоэлектроника
Электроника в целом
Кл.слова (ненормированные):
космос -- космическое пространство -- электронные изделия -- ЭРИ -- надежность электроизделий -- испытания -- радиационная отбраковка -- Метеор-3
Аннотация: Описаны исследования надежности электрорадиоизделий (ЭРИ), применяемых при конструировании космической аппаратуры, которые проводились в условиях космического пространства на ИСЗ "Метеор-3".

Доп.точки доступа:
Малкин, С.; Семенов, В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : эн.ф. (1)
Свободны: эн.ф. (1)

Найти похожие

Харько, В. В.
Добровольная сертификация - эффективное средство повышения надежности функционирования энергопредприятия [Текст] / Харько В. В., Морозов А. М., Смелкова И. И. // Электрические станции. - 2009. - N 4. - С. 2-5. : 2 рис.

УДК

^a620.9

ББК 31
Рубрики: Энергетика
Общие вопросы энергетики
Кл.слова (ненормированные):
гарантии поставщиков -- закупки -- качество -- конкурсы -- материально-технические ресурсы -- материально-техническое снабжение -- отбраковка -- потребности производственные -- производственные потребности -- ресурсы материально-технические -- сертификация -- страхование -- техническое обслуживание -- ТОиР -- функционирование энергопредприятий -- энергопредприятия
Аннотация: Обозначена проблема отсутствия достаточного внимания к качеству приобретаемых ресурсов предприятиями энергетики, выявлены причины такого положения дел и предложены инструменты для организации соответствующего упреждающего контроля.

Доп.точки доступа:
Морозов, А. М.; Смелкова, И. И.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : эн.ф. (заказ статей по ЭДД) (1)
Свободны: эн.ф. (заказ статей по ЭДД) (1)

Найти похожие

Чернышев, А. В.
Вихретоковый дефектоскоп для контроля гильз блока цилиндров двигателя [Текст] / А. В. Чернышев, И. Е. Загорский // Контроль. Диагностика. - 2014. - № 4. - С. 70-73. - Библиогр.: с. 73 (5 назв. ) . - ISSN 0201-7032

УДК

^a620.1/.2

ББК 30.3
Рубрики: Техника
Материаловедение
Кл.слова (ненормированные):
автоматизированный контроль -- амплитудно-фазовый метод -- бесконтактные преобразователи -- вихретоковые дефектоскопы -- вихретоковые преобразователи -- гильзы цилиндров -- двигатели внутреннего сгорания -- дефектоскопы -- дефекты сплошности -- контактные преобразователи -- модуляционные способы контроля -- накладные преобразователи -- обнаружение дефектов -- отбраковка гильз -- промышленное применение -- чугунные гильзы
Аннотация: Приведены данные о вихретоковом дефектоскопе, предназначенном для обнаружения дефектов сплошности в чугунных гильзах блока цилиндров двигателя. Представлены результаты промышленного применения дефектоскопа и примеры выявляемых им дефектов.

Доп.точки доступа:
Загорский, И. Е.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Булаев, И. Ю.
Применение метода критического напряжения питания для отбраковки потенциально ненадежных микросхем [Текст] / И. Ю. Булаев // Контроль. Диагностика. - 2015. - № 4. - С. 56-60. - Библиогр.: с. 60 (2 назв. ) . - ISSN 0201-7032

УДК

^a621.382

ББК 32.852
Рубрики: Радиоэлектроника
Полупроводниковые приборы
Кл.слова (ненормированные):
внутренние дефекты -- выявление дефектов -- дефекты микросхем -- диагностический контроль -- испытания микросхем -- критическое напряжение питания -- метод критического напряжения питания -- микросхемы -- неразрушающий контроль -- отбраковка изделий -- паразитные сопротивления -- потенциально ненадежные микросхемы -- скрытые дефекты -- электронная компонентная база
Аннотация: Внутренние дефекты современных микросхем иногда невозможно обнаружить с помощью обычного функционального или параметрического контроля. Рассматриваются различные методы диагностического неразрушающего контроля, приводятся их достоинства и недостатки. Описан метод критического напряжения питания для поиска скрытых дефектов внутри современных микросхем.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 29.07.2024
Число запросов	53019
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)