Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:БД "Книги" (50)Труды АМГУ (8)Выпускные квалификационные работы (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=микроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 485
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-30   31-40   41-50   51-60      
1.


    Мишаков, В. Ю. (канд. техн. наук).
    Исследование волокнистых материалов модифицированных наноразмерными биологическими активными препаратами методом сканирующей микроскопии [Текст] / В. Ю. Мишаков // Швейная промышленность. - 2007. - N 4. - С. . 54-56. - Библиогр.: с. 56 (4 назв. )
УДК
ББК 37.2
Рубрики: Производства легкой промышленности--Общие вопросы производства легкой промышленности
Кл.слова (ненормированные):
легкая промышленность -- текстильные материалы -- текстиль -- наноматериалы -- волокнистые материалы -- модифицированные материалы -- производство материалов -- технологии производства -- нанотехнологии -- активные препараты -- биологические препараты -- наноразмерные препараты -- биологически активные препараты -- биопрепараты -- модифицирование материалов -- методы модифицирования -- сканирующая микроскопия (метод)
Аннотация: Об изучении и разработке новых технологий с элементами нанотехнологий и наноматериалов в легкой промышленности.


Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

2.


    Лаврентьева, Л. Г.
    Дефекты в слоях GaAs и InGaAs, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии при низких температурах [Текст] / Л. Г. Лаврентьева [и др. ] // Известия вузов. Физика. - 2006. - Т. 49, N 12. - С. 63-72. - Библиогр.: с. 71-72 (34 назв. )
УДК
ББК 31.24
Рубрики: Энергетика--Техника высоких измерений
Кл.слова (ненормированные):
дефекты в слоях GaAs и InGaAs -- метод молекулярно-лучевой эпитаксии -- морфология ростовой поверхности -- отжиг (физика) -- электронная микроскопия
Аннотация: В статье обсуждается проблема дефектообразования в слоях GaAs и InGaAs, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии при низких температурах. Анализируется влияние условий роста (температура, соотношение потоков элементов групп) на морфологию ростовой поверхности, внутреннюю структуру, тип и концентрацию электрически и оптически активных точечных дефектов. Проведено сопоставление процессов дефектообразования в GaAs и InGaAs при росте и последующем отжиге.


Доп.точки доступа:
Вилисова, М.Д.; Бобровникова, И.А.; Ивонин, И.В.; Преображенский, В.В.; Чалдышев, В.В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

3.


    Потапов, В. В.
    Состав продуктов коррозии и твердых отложений в тракте Верхнемутновской ГеоЭС [Текст] / В. В. Потапов [и др. ] // Теплоэнергетика. - 2007. - N 8. - С. . 17-23
УДК
ББК 31.37
Рубрики: Энергетика--Тепловые электрические станции
   Россия
    Российская Федерация

    Камчатка

    Камчатская область

    Мутновка

Кл.слова (ненормированные):
коррозия -- геотермальные электрические станции -- рентгенофазовый анализ -- электронная микроскопия -- термогравиметрия -- инфракрасная спектроскопия -- мессбауэровская спектроскопия
Аннотация: Представлены результаты исследования физико-химических характеристик проб продуктов коррозии и твердых отложений, сформировавшихся в тракте геотермальных электрических станций (ГеоЭС), несколькими методами: рентгенофазового анализа, электронной микроскопии, термогравиметрии, инфракрасной и мессбауэровской спектроскопии.


Доп.точки доступа:
Подвербный, В. М.; Горбач, В. А.; Таскин, В. В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : эн.ф. (1)
Свободны: эн.ф. (1)

Найти похожие

4.
   Н
   М75


    Молодежь XXI века: шаг в будущее [Текст] : [В 4 ч.]: материалы 8 регион. межвуз. науч.-практ. конф. Благовещенск, 17-18 мая 2007 г. - М. : Изд-во Современ. Гуманитар. ун-та, 2007 - .
   Ч. 4. - 2007. - 250 с. - Из содерж.: Достоинства и недостатки пропорциональной избирательной системы / А. Р. Манукян, С. В. Чердаков. Общее образование осужденных как основное средство исправления в лечебных исправительных учреждениях / Т. П. Бутенко. Основные тенденции развития современного гражданского права / И. С. Емшанов. Альтернативные методы разрешения корпоративных споров / А. В. Кучеренко. Предметный мир современной цивилизации как показатель ее кризисного состояния (по роману В.И. Белова "Все впереди") / Т. Е. Аркатова. Исследование субструктурных изменений в керамике 22ХС методом аппроксимации функцией Лауэ / И. А. Голубева. Изучение распределения лазерного излучения в биологической ткани, используя метод Монте-Карло / И. В. Красников. О задаче Синьорини и модельной задаче с трением / Н. Н. Кушнирук. Термостимулированная инверсия поляризованности поверхностного слоя триглицинсульфата / П. И. Кушнарев. Модель радиационного образования упорядоченных структур в керамических материалах / Е. М. Салмашова. Моделирование тепловых процессов при взаимодействии электронных пучков с сегнетоэлектрическими материалами / Е. В. Червякова, Е. Г. Масловская. Особенности фазового перехода NaNO2 в пористых наноразмерных матрицах / Е. В. Стукова. - ISBN : 55.00 р.
ББК 94
Рубрики: Наука--образование
Кл.слова (ненормированные):
судебный контроль -- культура речи судебного оратора -- правовое сознание школьной молодежи, Амурская область -- судебная власть в России -- пропорциональная избирательная система -- таможенная ревизия -- концепция прав человека -- компьютерная преступность -- смертная казнь в России, проблема -- молодежный экстримизм -- террористический акт -- установление отцовства -- обеспечение прав материнства в России -- защита прав детей -- суррогатное материнство -- детский труд в России -- дачная амнистия -- история ругательств -- цветовая картина мира эвенков -- русские говоры в Приамурье -- система мониторинга АмГУ, анализ работы -- теленовости в вузе -- интернет-конференц зал в вузе


Доп.точки доступа:
Манукян, А. Р.; Бутенко, Т. П.; Емшанов, И. С.; Кучеренко, А. В.; Аркатова, Т. Е.; Голубева, И. А.; Красников, И. В.; Кушнирук, Н. Н.; Кушнарев, П. И.; Салмашова, Е. М.; Червякова, Е. В.; Стукова, Е. В.; Чердаков, С. В.; Масловская, Е. Г.
Экземпляры всего: 2
н.з. (1), кх. (1)
Свободны: н.з. (1), кх. (1)
Найти похожие

5.


   
    10 столпов техники [Текст] // Знание-сила. - 2007. - N 8. - С. 84. - 0; Десять столпов техники
УДК
ББК 72.3 + 30г
Рубрики: Наука. Науковедение--История науки
   Техника--История техники

Кл.слова (ненормированные):
изобретения -- Периодическая система элементов -- железо -- выплавка железа -- транзисторы -- стекло -- оптическая микроскопия -- бетон -- гидравлический цемент -- сталь -- выплавка стали -- медь -- выплавка меди -- дифракция рентгеновских лучей -- переработка металлолома в сталь
Аннотация: На ежегодной встрече-выставке ТМS 2007 в Орландо были выбраны 10 наиболее значимых достижений человечества в области наук о материалах.


Доп.точки доступа:
TMS, встреча-выставка

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

6.


   
    Ориентационная зависимость эффекта памяти формы и сверхэластичности в ферромагнитных монокристаллах Co[49]Ni[21]Ga[30] [Текст] / И. В. Киреева [и др. ] // Доклады Академии наук. - 2007. - Т. 416, N 2. - С. . 187-191. - Библиогр.: с. 191 (10 назв. )
УДК
ББК 22.37
Рубрики: Физика--Физика твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
ферромагнитные сплавы -- монокристаллы -- деформации -- сверхэластичность -- дифракционная электронная микроскопия
Аннотация: Изучена зависимость напряжений, необходимых для образования мартенсита под нагрузкой, эффекта памяти формы и сверхэластичности от ориентации оси кристаллов, способа деформации и температуры испытания.


Доп.точки доступа:
Киреева, И. В.; Чумляков, Ю. И.; Победенная, З. В.; Караман, И.; Калашников, И. С.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

7.


   
    Электронно-микроскопическое исследование in-situ теплового движения наночастиц жидкого свинца в тонких фольгах алюминия [Текст] / С. И. Прокофьев [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2007. - Т. 71, N 12. - С. 1705-1709. - Библиогр.: c. 1709 (23 назв. )
УДК
ББК 24.1
Рубрики: Химия
   Общая химия. Теоретическая химия

Кл.слова (ненормированные):
алюминий -- жидкий свинец -- наночастицы -- просвечивающая электронная микроскопия -- свинец -- тепловое движение -- тонкие фольги -- экспериментальные данные -- электронная микроскопия
Аннотация: С помощью просвечивающей электронной микроскопии in-situ исследована кинетика теплового движения наночастиц жидкого свинца в тонких алюминиевых фольгах.


Доп.точки доступа:
Прокофьев, С. И.; Жилин, В. М.; Jonson, E.; Dahmen, U.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

8.


    Щеглов, Д. В.
    Кинетический контраст в атомно-силовой микроскопии [Текст] / Д. В. Щеглов, А. В. Латышев // Журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2008. - Т. 133, вып. 2. - С. 271-278 : 5 рис. - Библиогр.: с. 278
УДК
ББК 22.31
Рубрики: Физика
   Теоретическая физика

Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- поверхности -- микроскопия -- зонды -- кинетический контраст -- фазовый контраст -- осциллирующий зонд
Аннотация: Изучен механизм формирования фазового контраста в атомно-силовой микроскопии (АСМ) в различных условиях взаимодействия осциллирующего зонда с поверхностью.


Доп.точки доступа:
Латышев, А. В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

9.


    Гутаковский, А. К.
    Применение высокоразрешающей электронной микроскопии для визуализации и количественного анализа полей деформации в гетеросистемах [Текст] / А. К. Гутаковский, А. Л. Чувилин, Se Ahn Song // Известия РАН. Серия физическая. - 2007. - Т. 71, N 10. - С. 1464-1470. - Библиогр.: c. 1470 (23 назв. )
УДК
ББК 22.33
Рубрики: Физика
   Электричество и магнетизм

Кл.слова (ненормированные):
анализ геометрической фазы -- атомное строение -- визуализация -- высокоразрешающая электронная микроскопия -- гетеросистемы -- количественный анализ -- кристаллические решетки -- метод геометрической фазы -- поля деформации -- пространственные частоты -- рассеяние -- упругие деформации -- электронная микроскопия
Аннотация: Рассмотрены общие принципы, возможности и ограничения классического метода геометрической фазы. Для расширения его возможностей разработан новый обобщающий подход, заключающийся в анализе всех доступных пространственных частот высокоразрешающего электронно-микроскопического изображения.


Доп.точки доступа:
Чувилин, А. Л.; Se Ahn Song

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

10.


   
    Комбинированное ПЭМ-АСМ-исследование трансротационных сферолитов, растущих в тонких аморфных пленках [Текст] / В. Ю. Колосов [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2007. - Т. 71, N 10. - С. 1481-1485. - Библиогр.: c. 1485 (10 назв. )
УДК
ББК 22.37 + 22.33
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела

   Электричество и магнетизм

Кл.слова (ненормированные):
аморфные пленки -- атомная силовая микроскопия -- кристаллизация -- кристаллические решетки -- кристаллы -- микроскопические методы -- просвечивающая электронная микроскопия -- сферолитные кристаллы -- тонкие пленки -- трансротационные сферолиты -- электронная микроскопия
Аннотация: Совместно методами просвечивающей электронной микроскопии и атомной силовой микроскопии были исследованы "трансротационные" сферолиты Se и альфа-Fe[2]O[3]. Комбинация двух микроскопических методов позволила выявить особенности структуры и характер поверхности сферолитов, а также сопоставить эти данные.


Доп.точки доступа:
Колосов, В. Ю.; Швамм, К. Л.; Гайнутдинов, Р. В.; Толстихина, А. Л.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

 1-10    11-20   21-30   31-40   41-50   51-60      
 
Статистика
за 28.07.2024
Число запросов 59499
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)