Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=микроскопические изображения<.>)

Общее количество найденных документов : 5
Показаны документы с 1 по 5

Методы анализа структуры материалов на основе ортогональных преобразований микроскопических изображений [Текст] / Б. Н. Грудин [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2007. - Т. 71, N 10. - С. 1486-1491. - Библиогр.: c. 1491 (9 назв. )

УДК

^a681.325

ББК 32.974
Рубрики: Вычислительная техника
Неэлектронные вычислительные машины
Кл.слова (ненормированные):
вейвлет-преобразование -- косинусное преобразование -- методы исследования -- микроскопические изображения -- ортогональные преобразования -- преобразование Фурье -- преобразование Хартли -- спектральные характеристики -- спектральный анализ -- структура материалов -- Фурье преобразование -- Хартли преобразование
Аннотация: Рассмотрены методы исследования структуры материалов по микроскопическим изображениям. Для анализа изображений применяют различные ортогональные преобразования: преобразование Фурье, косинусное преобразование, преобразование Хартли и непрерывное вейвлет-преобразование.

Доп.точки доступа:
Грудин, Б. Н.; Должиков, С. В.; Кисленок, Е. Г.; Плотников, В. С.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Построение статистических тестов для испытания автоматизированных медицинских систем анализа микроскопических изображений [Текст] / В. А. Власов [и др. ] // Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика. - 2008. - N 4. - С. 46-48 : 1 табл. - Библиогр.: с. 48 (6 назв. )

ГРНТИ	50.01
УДК	^a004

ББК 32.97
Рубрики: Вычислительная техника
Вычислительная техника в целом
Кл.слова (ненормированные):
системы анализа -- микроскопические изображения -- статистические тесты -- автоматизированные системы
Аннотация: Предложен алгоритм построения статистического испытательного теста с учетом вероятности успешного прохождения экспериментальных испытаний.

Доп.точки доступа:
Власов, В. А.; Никитаев, В. Г.; Проничев, А. Н.; Чистов, К. С.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Применение техники апертурного синтеза в оптической интерференционной микроскопии [Текст] / Г. Г. Левин [и др. ] // Оптика и спектроскопия. - 2009. - Т. 107, N 2. - С. 338-345. . - Библиогр.: с. 345 (15 назв. )

УДК

^a535.31

ББК 22.342
Рубрики: Физика
Геометрическая оптика. Оптические приборы
Кл.слова (ненормированные):
апертурный синтез -- электромагнитные поля -- микроскопические изображения -- векторные задачи -- интерференционная микроскопия -- численное моделирование
Аннотация: Предложена методика согласованной вычислительной обработки серий микроскопических изображений, снятых при различных ракурсах освещения объекта.

Доп.точки доступа:
Левин, Г. Г.; Ломакин, А. Г.; Илюшин, Я. А.; Куницын, В. Е.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Синтез фрактальных микроскопических изображений [Текст] / Б. Н. Грудин [и др. ] // Известия вузов. Физика. - 2009. - Т. 52, N 11. - С. 85-91. - Библиогр.: c. 91 (7 назв. ) . - ISSN 0201-7385

УДК

^a539.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
аморфные металлические сплавы -- микроскопические изображения -- фрактальная размерность -- спектральная плотность
Аннотация: Рассматривается метод синтеза фрактальных изображений наноструктур при сохранении их максимального сходства со структурами на исходном электронно-микроскопическом изображении. Метод основан на модификации модуля преобразования Фурье исследуемого изображения, при этом информация о фазе преобразования сохраняется. Полученные изображения наноструктур могут быть отфильтрованы от ложных структур, возникающих при использовании ряда методик наблюдения в электронной микроскопии.

Доп.точки доступа:
Грудин, Б. Н.; Плотников, В. С.; Смольянинов, Н. А.; Пустовалов, Е. В.; Модин, Е. Б.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Анализ фрактальных свойств структуры по микроскопическим изображениям [Текст] / Б. Н. Грудин [и др.] // Известия РАН. Серия физическая. - 2015. - Т. 79, № 11. - С. 1528-1532 : рис. - Библиогр.: c. 1532 (9 назв. ) . - ISSN 0367-6765

УДК

^a537

ББК 22.33
Рубрики: Физика
Электричество и магнетизм в целом
Кл.слова (ненормированные):
Гаусса и Морле фурье-образы вейвлетов -- Фурье дискретное преобразование -- дискретное преобразование Фурье -- интегральные частные характеристики -- микроскопические изображения -- фрактальные свойства -- фурье-образы вейвлетов Гаусса и Морле
Аннотация: Для синтеза изображений микроструктур с фрактальными свойствами используются методы пространственно-частотной фильтрации изображений и фильтры, построенные на основе фурье-образов вейвлетов Гаусса и Морле. Предложены и исследованы методы анализа локальных фрактальных характеристик структур на основе оценивания фрактальной размерности в скользящем окне малого размера.

Доп.точки доступа:
Грудин, Б. Н.; Петров, К. А.; Плотников, В. С.; Полищук, С. В.; Модин, Е. Б.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 01.07.2024
Число запросов	25695
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)