Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=метод электронной микроскопии<.>)

Общее количество найденных документов : 7
Показаны документы с 1 по 7

Использование ускорителя электронов для получения нанопорошков испарением исходных веществ при атмосферном давлении [Текст] / С. П. Бардаханов [и др. ] // Известия вузов. Физика. - 2007. - Т. 50, N 2. - С. 22-26. - Библиогр.: с. 26 (6 назв. )

УДК

^a539.19

^a539.21(06)

ББК 22.36
Рубрики: Физика--Молекулярная физика
Кл.слова (ненормированные):
метод электронной микроскопии -- нанодисперсные порошки -- нанопорошки -- рентгенофазовый анализ -- ускоритель электронов
Аннотация: В процессе испарения различных исходных материалов при атмосферном давлении могут получаться нанодисперсные порошки высокой чистоты, которые проявляют необычные свойства и могут быть использованы в различных технологиях. В частности, авторами получены нанодисперсные порошки: оксидов - диоксида и оксида кремния (SiO[2], SiO), оксида магния (MgO), оксида алюминия (Al[2]O[3]), закиси меди (Cu[2]O) ; металлов - тантала (Ta), молибдена (Mo), алюминия (Al), серебра (Ag) и некоторых других в различных атмосферах; полупроводника - кремния (Si) ; нитридов - алюминия (AlN), титана (TiN) и других веществ. В разработанном процессе важно то, что основной компонент установки способен создавать высокие температуры для испарения любых тугоплавких материалов. Процесс осуществляется при высоких КПД и производительности.

Доп.точки доступа:
Бардаханов, С.П.; Корчагин, А.И.; Куксанов, Н.К.; Лаврухин, А.В.; Салимов, Р.А.; Фадеев, С.Н.; Черепков, В.В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Структурные особенности алюминиевого сплава 1441, подвергнутого облучению ионами Ar{+} [Текст] / В. В. Овчинников [и др. ] // Известия вузов. Физика. - 2007. - Т. 50, N 2. - С. 73-81. - Библиогр.: с. 80-81 (24 назв. )

УДК

^a669.017

^a669.71:539.12.04

ББК 34.2
Рубрики: Машиностроение--Металловедение
Кл.слова (ненормированные):
алюминиевые сплавы -- метод электронной микроскопии -- полигональная структура -- ячеистая структура
Аннотация: Методом электронной микроскопии установлено, что облучение ионами Ar{+} с энергией 40 кэВ плакированных нагартованных образцов промышленного алюминиевого литиевого сплава 1441 при малых дозах облучения и плотностях ионного тока порядка 100 мкА/см{2} приводит к трансформации ячеистой структуры, сформированной в сплаве при деформации. При повышении дозы облучения до 10{16} см{-2} наблюдается переход от ячеистой структуры к субзеренной, близкой к полигональной. Эффективность этого процесса повышается при увеличении плотности ионного тока. Кроме того, под действием ионного облучения при повышенных плотностях ионного тока происходит растворение частиц (Al[3]Zr) и Al[8]Fe[2]Si, присутствующих в деформированном сплаве, и образование дисперсных частиц новой фазы Al[2]LiMg пластинчатой формы. Изменения дислокационной структуры и фазового состава в сплаве 1441 наблюдается после нескольких секунд облучения не только в поверхностном слое, прилегающем к зоне внедрения ионов, но и по всей толщине образца, в десятки тысяч раз превышающей их проективные пробеги.

Доп.точки доступа:
Овчинников, В.В.; Гущина, Н.В.; Махинько, Ф.Ф.; Чемеринская, Л.С.; Школьников, А.Р.; Можаровский, С.М.; Филиппов, А.В.; Кайгородова, Л.И.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Нанокомпозитные и наноструктурные сверхтвердые покрытия системы Ti-Si-B-N [Текст] / А. Д. Коротаев [и др. ] // Известия вузов. Физика. - 2007. - Т. 50, N 10. - С. 13-23. - Библиогр.: c. 22-23 (34 назв. )

УДК

^a539.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
метод электронной микроскопии -- нанокомпозитные покрытия -- наноструктурные покрытия -- рентгеноструктурный анализ -- система Ti-Si-B-N -- электронной микроскопии метод
Аннотация: Методом электронной микроскопии, рентгеноструктурного анализа, измерения микро- и нанотвердости исследованы особенности взаимосвязи тонкой структуры с изменением прочностных свойств наноструктурных и нанокомпозитных покрытий Ti-Si-B-N с высоким содержанием примесей кислорода и углерода. Показано, что в условиях низкотемпературного (Т=200 С) нанесения покрытий формируется двухуровневая зеренная структура с фрагментацией зерен размером 0, 1-0, 3 мкм на субзерна размером 15-20 нм и наличием текстуры {200}. С увеличением содержания кремния формируются бестекстурные покрытия с размером зерна кристаллической фазы менее 15 нм и высокой аморфной составляющей либо покрытия с аморфно-кристаллической структурой. При температурах нанесения покрытий 400-450 С наблюдается нанокомпозитная структура с размером зерна d=10-15 нм и отсутствием текстуры. Для всех изученных составов и условий получения обнаруживается кристаллическая фаза Ti[1-x]Si[x]N.

Доп.точки доступа:
Коротаев, А. Д.; Борисов, Д. П.; Мошков, Д. Ю.; Овчинников, С. В.; Оскомов, К. В.; Пинжин, Ю. П.; Савостиков, В. М.; Тюменцев, А. Н.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Крюкова, Л. М.
Оценка параметров наноструктурного состояния: комплексный подход и математический аппарат исследования и обработки экспериментальных данных [Текст] / Л. М. Крюкова, Е. А. Макалкина, С. В. Салихов // Материаловедение. - 2010. - N 8. - С. 8-11.

УДК

^a539.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
наноструктурные состояния -- метод электронной микроскопии -- рентгеноструктурный анализ -- диффузное рассеяние -- поля упругих смещений -- мощности наноразмерных дефектов
Аннотация: На основе электронно-микроскопического и рентгеноструктурного методов исследования разработан комплексный подход и математический аппарат обработки экспериментальных данных для получения характеристик наноструктурного состояния.

Доп.точки доступа:
Макалкина, Е. А.; Салихов, С. В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Крюкова, Л. М.
Оценка параметров наноструктурного состояния: исследование малоактивированных сплавов на основе ванадия [Текст] / Л. М. Крюкова, Е. А. Макалкина, В. М. Чернов // Материаловедение. - 2010. - N 9. - С. 22-29.

УДК

^a669.7/.8

^a539.2

^a544.22

ББК 34.23/25 + 22.37 + 24.52
Рубрики: Технология металлов
   Металловедение цветных металлов и сплавов
   Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом
   Химия
   Химия твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
наноструктурные состояния -- метод электронной микроскопии -- рентгеноструктурный анализ -- диффузное рассеяние -- поля упругих смещений -- сплавы -- твердые растворы
Аннотация: Используя разработанную методику, проведено комплексное исследование структурных состояний сплава V—4Ti—4Cr. Рассмотрены различные стадии распада твердого раствора с образованием наноразмерных предвыделений, а также присутствие в матрице различного количества наноразмерной второй фазы.

Доп.точки доступа:
Макалкина, Е. А.; Чернов, В. М.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Дисперсные фазы в высокопрочных низкоуглеродистых микролегированных сталях для сварных конструкций [Текст] / В. М. Фарбер [и др. ] // Материаловедение. - 2012. - N 1. - С. 11-17.

УДК

^a620.1/.2

ББК 30.3
Рубрики: Техника
Материаловедение
Кл.слова (ненормированные):
дисперсные фазы -- низкоуглеродистые стали -- микролегирование -- сварные конструкции -- метод электронной микроскопии -- низкоуглеродистые микролегированные стали
Аннотация: Методами электронной микроскопии на фольгах и экстракционных репликах, рентгеноструктурного анализа электролитического осадка, микрорентгеновского спектрального анализа изучены морфология и химический состав выделений карбонитридных фаз Nb, Ti (C, N), Nb, V (C, N), а также эпсилон-фазы (Cu) в сталях 08Г2БТ, 05Г2ДБТ, 07Г2ФБ.

Доп.точки доступа:
Фарбер, В. М.; Арабей, А. Б.; Пышминцев, И. Ю.; Хотинов, В. А.; Селиванова, О. В.; Юровских, А. С.; Лежнин, Н. В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Влияние легирования лантаном на структуру пленок ЦТС [Текст] / О. М. Жигалина [и др.] // Наноматериалы и наноструктуры - XXI век. - 2012. - № 4. - С. 17-21 : рис. - Библиогр.: c. 20-21 (8 назв. ) . - ISSN 2225-0999

УДК

^a539.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
ЦТС -- легирование лантаном -- метод электронной микроскопии -- пленки ЦТС -- титанат-цирконат свинца -- фазовый состав материалов -- электронная микроскопия
Аннотация: Методами просвечивающей электронной микроскопии, энергодисперсионного и рентгенофазового анализа исследованы структура, текстура и фазовый состав пленок ЦТС, легированных лантаном с концентрацией 2, 5 и 8 мол. % после отжига при температуре T = 650°C. Пленки получали методом химического осаждения и наносили на подложки Si-SiO (2) -TiO (2) -Pt. Установлено, что легирование лантаном повышает температуру превращения пирохлора в перовскитную фазу по сравнению с аналогичными пленками без лантана, что необходимо учитывать при выборе оптимальной температуры кристаллизации этих пленок.

Доп.точки доступа:
Жигалина, О. М.; Хмеленин, Д. М.; Котова, Н. М.; Шестакова, Ю. А.; Воротилов, К. А.; Сигов, А. С.; Дьяконова, Н. Б.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 06.07.2024
Число запросов	72624
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)