Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=дипивалоилметанат гафния<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.


    Белый, В. И.
    Люминесценция пленок диоксида гафния, полученных из дипивалоилметаната гафния [Текст] / В. И. Белый, А. А. Расторгуев // Известия вузов. Физика. - 2007. - Т. 50, N 4. - С. 63-67. - Библиогр.: c. 67 (10 назв. )
УДК
ББК 30.13
Рубрики: Техника--Техническая физика
Кл.слова (ненормированные):
водородная лампа -- диоксид гафния -- дипивалоилметанат гафния -- люминесценция пленок диоксида гафния -- спектры люминесценции неотожженных пленок -- спектры люминесценции отожженных пленок
Аннотация: Создана методика измерения спектров люминесценции диоксида гафния с использованием в качестве источника возбуждения водородной лампы. При комнатной температуре проведены измерения спектров люминесценции отожженных и неотожженных пленок диоксида гафния, синтезированного методом химического осаждения из летучего дипивалоилметаната гафния на подложках Si (111). Интенсивная люминесценция является характеристикой для нанокристаллитов моноклинной модификации. Определена ширина запрещенной зоны, примерно равной 5, 76 эВ. Пленки характеризуются значительным отклонением состава от стехиометрического.


Доп.точки доступа:
Расторгуев, А.А.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

2.


    Лебедев, М. С.
    Профиль распределения показателя преломления по толщине пленок (HfO[2]) [x] (Al[2]O[3]) [1-x] [Текст] / М. С. Лебедев // Оптика и спектроскопия. - 2009. - Т. 107, N 5. - С. 817-821. - Библиогр.: с. 821 (19 назв. ) . - ISSN 0030-4034
УДК
ББК 22.343
Рубрики: Физика
   Физическая оптика

Кл.слова (ненормированные):
лазерная эллипсометрия -- твердые растворы -- многокомпонентные растворы -- тонкие пленки -- оптические парамтеры -- летучие соединения -- дипивалоилметанат гафния -- ацетилацетонат алюминия -- монокристаллический кремний -- показатели преломления
Аннотация: Продемонстрированы возможности метода лазерной нулевой эллипсометрии для изучения оптических параметров тонких пленок многокомпонентных твердых растворов.


Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

 
Статистика
за 04.09.2024
Число запросов 60869
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)